分析化學(xué)沉淀滴定法-預(yù)覽頁
【正文】 層窗 , 換衣 , 無塵 ) 沉淀 K ?sp S晶核 31 ?后沉淀 主沉淀形成后，“誘導(dǎo)”雜質(zhì)隨后沉淀下來 縮短沉淀與母液共置的時(shí)間 ?吸附共沉淀（服從吸附規(guī)則） ?是膠體沉淀不純的主要原因， 洗滌 ?包藏共沉淀（服從吸附規(guī)則） ?是晶形沉淀不純的主要原因， 陳化或重結(jié)晶 ?混晶共沉淀 預(yù)先將雜質(zhì)分離除去 沉淀沾污的原因及提高純度的方法 沉淀沾污對(duì)分析結(jié)果的影響（例 BaSO4法 ） 吸附物質(zhì) 測(cè) SO42 測(cè) Ba2+ BaCl2 （ +） （ ） Na2SO4 （ ） （ +） H2SO4 （ ） 灼燒無影響，微波干燥（ +） 32 沉淀?xiàng)l件的選擇和稱量形的獲得 1. 晶形沉淀 (BaSO4)(p282） ①稀 ②加 HCl ③ 熱 ④滴加、攪拌 ⑤陳化 Q S S Q 防局部過濃 晶形完整 ⑥冷濾 ,洗滌 S : 測(cè) Ba2＋ , 先用稀 H2SO4洗 (?) 。 灼燒 — 溫度高 , 瓷坩堝 (鉑坩堝 (HF)). 濾器的恒重條件要與沉淀物的相同 恒重 34 第六 、 七章 小 結(jié) (不計(jì)算 )。]2=S ] [ C l ] [ C l ]KK ???? ? ?338 . 4 0A g A g ( N H ) A g ( C l ) A g ( N H )10? ? ? ?? ? + ?3A g (N H )?Ag(Cl)?NH3 Cl－ AgCl Ag+ + Cl [Cl]=, [Ag180。=1010m ν－頻率，單位：赫芝（周） Hz 次 /秒 n－折射率，真空中為 1 ???==cVn光的傳播速度 : 波動(dòng)性 43 磁場(chǎng)向量 電場(chǎng)向量 傳播方向 Y Z X 與物質(zhì)作用 44 微粒性 h－普朗克 (Planck)常數(shù) 1034J 混合光 ：具有不同能量 (不同波長 )的光復(fù)合在 一起。L1表示時(shí)，用 a表示， A＝ abc ?的單位 : L100mL1表示時(shí)，用 表示， A＝ bc， 叫做比消光系數(shù) 54 吸光度與光程的關(guān)系 A = ?bc 光源 檢測(cè)器 吸光度 檢測(cè)器 b 樣品 光源 吸光度 光源 檢測(cè)器 吸光度 b 樣品 b 樣品 55 吸光度與濃度的關(guān)系 A = ?bc 吸光度 光源 檢測(cè)器 吸光度 光源 檢測(cè)器 b 吸光度 光源 檢測(cè)器 b 56 朗伯 比爾定律的適用條件 1. 單色光 (見 p312證明 ) 應(yīng)選用 ?max處或肩峰處測(cè)定 2. 吸光質(zhì)點(diǎn)形式不變 離解、絡(luò)合、締合會(huì)破壞線性關(guān)系 應(yīng)控制條件 (酸度、濃度、介質(zhì)等 ) 3. 稀溶液 濃度增大，分子之間作用增強(qiáng) 57 ?(nm) 亞甲藍(lán)陽離子水溶液的吸收光譜 a. 106 mol/L b. 104 mol/L c. 104 mol/L 亞甲藍(lán)陽離子 單體 ?max= 660 nm 二聚體 ?max= 610 nm 二聚體的生成破壞了 A與 c的線性關(guān)系 58 0 1 2 3 4 mg/ml A * 0 溶液濃度的測(cè)定 A＝ ?bc 工作曲線法 (校準(zhǔn)曲線 ) 朗伯 比爾定律的分析應(yīng)用 59 6. 吸光度的加和性與吸光度的測(cè)量 A = A1 + A2 + … +An 用參比溶液調(diào) T=100%（ A=0），再測(cè)樣品溶液的吸光度，即消除了吸收池對(duì)光的吸收、反射，溶劑、試劑對(duì)光的吸收等 。 可見光區(qū)： 鎢燈，碘鎢燈 (320～ 2500nm) 紫外區(qū)： 氫燈，氘燈 (180～ 375nm) 單色器 ：將光源發(fā)出的連續(xù)光譜分解為單色光的 裝置。 M1 M2 出射狹縫 光屏 透鏡 平面透射光柵 光柵衍射示意圖 原理 ： 利用光通過光柵時(shí) 發(fā)生衍射和干涉現(xiàn)象而分光 . 68 檢測(cè)器 Se Au， Ag 半導(dǎo)體 h? 硒光電池 Ag、 Au 69 光電管 紅敏管 6251000 nm 藍(lán)敏管 200625 nm Ni環(huán)（片） 堿金屬 光敏陰極 h? 70 光電倍增管 待掃描 160700 nm 1個(gè)光電子可產(chǎn)生 106～ 107個(gè)電子 71 分光光度計(jì)的類型 72 多通道儀器 （ Multichannel Instruments） 光電二極管陣列 (通常具有 316個(gè)硅二極管 ) photodiode arrays (PDAs) 同時(shí)測(cè)量 200～ 820nm范圍內(nèi)的整個(gè)光譜 , 比單個(gè)檢測(cè)器快 316倍 ,信噪比增加 316 1/2 倍 . 其他類型分光光度計(jì) 將光度計(jì)放入樣品中 , 原位測(cè)量 . 對(duì)環(huán)境和過程監(jiān)測(cè)非常重要 . 纖維光度計(jì) 73 鍍鋁反射鏡 纖維光度計(jì)示意圖 74 纖維光度計(jì)
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