可靠性的主要數(shù)量(設(shè)備可靠性教程04)-全文預(yù)覽
【正文】 不可靠度 可靠度與不可靠度 失效概率密度函數(shù) 失效概率密度函數(shù) f(t)是累積失效概率 F(t)的導(dǎo)數(shù)，可用下式表示， 設(shè) N為受試產(chǎn)品總數(shù)， ?N是時(shí)刻 t+?t時(shí)間間隔內(nèi)產(chǎn)生的失效產(chǎn)品數(shù)，即當(dāng) N足夠大， ?t足夠小時(shí)， f(t)可用下式表示： 而產(chǎn)品的可靠度與不可靠度則為 dttdRdttdFtf )()()( ???dtdNNtftNtNtf ?????? 1)( )()( 或?? ????? tt dttftFtRdttftF )()(1)( )()( 0 失效率與失效率曲線 失效率： 失效率是工作到某時(shí)刻尚未失效的產(chǎn)品，在該時(shí)刻后單位時(shí)間內(nèi)發(fā)生失效的概率?？煽慷仁且环N常用的可靠性指標(biāo)。 一、定義 可靠性特征量 ? 可靠度與不可靠度 ? 失效概率密度函數(shù) ? 失效率 ? 平均壽命 ? 壽命方差與壽命均方差（標(biāo)準(zhǔn)差） ? 可靠壽命、中位壽命和特征壽命 可靠度與不可靠度 ? 產(chǎn)品在規(guī)定時(shí)間 t內(nèi)和規(guī)定的條件下，完成規(guī)定功能的概率稱為產(chǎn)品的可靠度函數(shù)，簡稱可靠度，記為 R(t) 。 — 只反映成功完成任務(wù)的能力 1980年美國按《國防重要武器系統(tǒng)采辦指令》又頒布了 MILSTD785B《系統(tǒng)與設(shè)備研制的可靠性大綱》，將可靠性分為： 任務(wù)可靠性：產(chǎn)品在規(guī)定的任務(wù)剖面內(nèi)完成規(guī)定功能的能力 基本可靠性：產(chǎn)品在規(guī)定條件下，無故障的持續(xù)時(shí)間或概率。所以可靠度函數(shù) R(t)可以看作事件“ Tt”的概率，即 二、可靠度及可靠度函數(shù) )()( tTPtR ?? 可靠度與不可靠度 例如， R(5000)=，在 5000小時(shí)內(nèi)，平均 100件產(chǎn)品中大約有 95件能完成規(guī)定功能，大約有 5件產(chǎn)品在 5000小時(shí)內(nèi)會(huì)發(fā)生故障。 可靠度函數(shù)的估計(jì)法 NtnNtnNtR ff )(1)()(? ???? 可靠度與不可靠度 某電子器件 110只的失效時(shí)間（小時(shí)）經(jīng)分組整理后如表所示，試估計(jì)它的可靠度函數(shù)。([ln)()(39。失效率隨時(shí)間變化可分為三段時(shí)期： 失效率與失效率曲線 例 1:有 5000只晶體管，工作到 1000h累積失效 50只，工作到 1200h時(shí)測得晶體管累積失效為 61只，試求該產(chǎn)品在 t=1000h時(shí)的失效率 解 :由于 Nf(1200)=61, Nf(1000)=50 151 100012023050005061)1000( ??? ??????? hh）（）（?例 2:工作 51h，還有 100個(gè)產(chǎn)品仍在正常工作，但到 51h時(shí)，失效了 1個(gè)，在第 52h內(nèi)失效了 3個(gè)，試求該產(chǎn)品在 t=50h及 t=51h時(shí)的失效率。即為平均無故障工作時(shí)間或稱為平均故障間隔，記為 MTBF（ Mean time between failure），表示為： ???NiitNMTTF11? ?? ? ???NinjijNiiitnMTBF1 111 平均壽命 通用表達(dá)式：令產(chǎn)品的平均壽命為 ? 若產(chǎn)品的總體失效密度函數(shù) f(t)已知，則可以得到平均壽命為 分部積分得 總的故障次數(shù)所有產(chǎn)品總的工作時(shí)間??? ??? 0 )(][ dtttftE? ??? 0 )( dttR? 平均壽命 例 :某種電子設(shè)備共 18只，從開始使用到發(fā)生初次失效的時(shí)間數(shù)據(jù)為： 16，29， 50，
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