【正文】 C = (C1+C2+…+Ck) / K 式中： C1, C2, … Ck為每個子組內(nèi)的缺陷數(shù) 8331 計算控制限 U/LSLc= C177。 832 數(shù)據(jù)的收據(jù) 8321 檢驗樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度 等）要求相同，這樣描繪的 C值將反映質(zhì)量性能的變化而 不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。 8222 記錄表上記錄樣本的容量。 8133 重新計算控制限 初次研究，應排除有變差的子組，重新計算控制限。 b 一般情況，各點與均值的距離：大約 2/3的描點應落在控制 限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。 測量系統(tǒng)已改變或過程性能已改進。 81311 超出控制限的點 a 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種 或幾種： 控制限計算錯誤或描點時描錯 。 3 P ( 1 – P ) / n = P 177。方法如下： A、 確定可能超出其平均值 177。 8114 將不合格品率描繪在控制圖上 a 描點 ， 連成線來發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢 。 子組數(shù)量： 收集的時間足夠長 ， 使得可以找到所有可能影響 過程的變差源 。見下表： 注 ： 只有過程受控，才可直接用 δ的估計值來評價過程能力 。 24 移動極差圖 （ MR） 的刻度間隔與 X 圖一致 。 11 移動圖的三中用法： a 單值 b 移動組 c 固定子組 數(shù)據(jù)收集 （ 基本同 XR ） 21 在數(shù)據(jù)圖上 ， 從左到右記錄單值的讀數(shù) 。 14 54 找出超過極差控制限的點 15 操作者與每個子組的最大標記點和最小標記點進行比較，用窄垂直框圈上超出膠片控制限的子組。 4 過程能力的分析 （同 XR） 5 估計過程標準偏差： 6 δ= R / d2 7 注：只有中位數(shù)和極差處于受控狀態(tài)，才可用 δ的估計值來評價過程 8 能力。 8 13 將每個子組的單值描在圖中一條垂直線上，圈上子組的中位數(shù)， 9 并連接起來。見下表： 當需要計算過程能力時；將 σ 帶入 XR圖 42的公式即可。 注： s 圖的刻度尺寸應與相應的 X圖的相同。 均值和標準差圖（ Xs圖） 一般來講 ， 當出現(xiàn)下列一種或多種情況時用 S圖代替 R圖： a 數(shù)據(jù)由計算機按設(shè)定時序記錄和 /或描圖的 ， 因 s的計算程序 容易集成化 。 b 對于雙邊容差，根據(jù) Zusl 和 Zlsl 的值查標準正態(tài)分布表， 分別算出 Pzusl 和 Pzlsl 的百分比，再將其相加。 422 對于雙向容差，計算： Zusl=(USLX) / σ Zlsl=(XLSL) / σ Z=Min{ Zusl。 4 過程能力分析 如果已經(jīng)確定一個過程已處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，還存在過程是 否有能力滿足顧客需求的問題時； 一般講，控制狀態(tài)穩(wěn)定， 說明不存在特殊原因引起的變差，而能力反映普通原因引起 的變差，并且?guī)缀蹩傄獙ο到y(tǒng)采取措施來提高能力，過程能 力通過標準偏差來評價。 36 重新計算控制限（均值圖） 在進行首次過程研究或重新評定過程能力時，要排除已發(fā)現(xiàn) 并解決了的特殊原因的任何失控點，然后重新計算并描畫過程 均值 X 和控制限，使所有點均處于受控狀態(tài)。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個不 同的過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進行 過度 控制造成的，這里過程改變是對過程數(shù)據(jù)中隨機波 動的響應）。 不受控制的過程的均值（長的上升鏈） 不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈） UCL X LCL UCL X LCL 343 明顯的非隨機圖形 a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點的分布在整個 控制限內(nèi) ， 或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等 。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會作為過程的一部分重現(xiàn)。 修改后的 R 和 X 可用于重新計算均值的試驗控制限， X 177。 32 識別并標注所有特殊原因（極差圖） a 對于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個特殊原因進行標注，作一個過程操作 分析，從而確定該原因并改進，防止再發(fā)生。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差和均值相差太遠的幾個子組更改刪除）。 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的過程的極差 （存在高于和低于極差均值的兩種鏈） 不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈） 313 明顯的非隨機圖形 a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點的分布在整個控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： b1 輸出值的分布寬度減小 ， 好狀態(tài) 。 9 注 2： 因為子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差， 10 因此，首先應分析 R圖。 ? 對各條線標上記號（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） ? 注：在初始研究階段，應注明試驗控制限。其系數(shù)值 見下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個負值。 2 計算控制限 3 首先計算極差的控制限，再計算均值的控制限 。 注： 一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的 2倍。一般為 25組，首次使 用管制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。（ 注： 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產(chǎn)出來的零件，即一個單一的生產(chǎn)流。 接上頁 使不必要的變差最小 確保過程按預定的方式運行 確保輸入的材料符合要求 恒定的控制設(shè)定值 注： 應在過程記錄表上記錄所有的相關(guān)事件，如：刀具更新，新的材料批 次等，有利于下一步的過程分析。 計量型數(shù)據(jù)控制圖 與過程有關(guān)的控制圖 計量單位：（ mm, kg等） 過程 人員 方法 材料 環(huán)境 設(shè)備 1 2 3 4 5 6 結(jié)果舉例 控制圖舉例 螺絲的外徑（ mm） 從基準面到孔的距離（ mm） 電阻（ Ω） 錫爐溫度（ 186。 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 范圍 范圍 范圍 范圍 但它們形成一個模型 ， 若穩(wěn)定 ， 可以描述為一個分布 范圍 范圍 范圍 分布可以通過以下因素來加以區(qū)分 位置 分布寬度 形狀 或這些因素的組合 如果僅存在變差的普通原因， 目標值線 隨著時間的推移，過程的輸 出形成一個穩(wěn)定的分布并可 預測。普通原因表現(xiàn)為一個穩(wěn) 系統(tǒng)的偶然原因。 名稱 解釋 普通原因（ Common Cause） 造成變差的一個原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機過程變差的一部分。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。 單值（ Individual） 一個單個的單位產(chǎn)品或一個特性的 一次測量 ，通常用符號 X 表示。 ? 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措 施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。 ? 1924年，美國的 休哈特博士 提出將 3Sigma原理運用于生產(chǎn)過程當中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”，對過程變量進行控制，為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。于是，英、美等國開始著手研究用統(tǒng)計方法代替事后檢驗的質(zhì)量控制方法。 ? 為制程分析提供依據(jù)。如果數(shù)據(jù)的個數(shù)為偶數(shù)，一般將中間兩個數(shù)的平均值作為中位數(shù)。 鏈（ Run） 控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的 點 。有時被稱為可查明原因，它存在的信號是：存在超過控制限的點或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機性的圖形。 制程控制系統(tǒng) 有反饋的過程控制系統(tǒng)模型 過程的呼聲 人 設(shè)備 材料 方法 產(chǎn)品或 環(huán)境 服務 輸入 過程 /系統(tǒng) 輸出 顧客的呼聲 我們工作的方式 /資源的融合 統(tǒng)計方法 顧客 識別不斷變化的需求量和期望 變差的普通原因和特殊原因 普通原因： 是指過程在受控的狀態(tài)下，出現(xiàn)的具有穩(wěn)定的且可重 復的分布過程的變差的原因。只用特殊原因被查出且采取 措 施 ,否則