【正文】 為管制上下限 而繪制成的圖形 , 可稱為 推移圖 .4. 計算管制圖管制界限時注意事項 剔除上次超出管制界限的 異常點 .管制圖之選定 資料性質(zhì) ? 資料是不良數(shù) 還是缺點數(shù) ? 單位大小 是否一定 ? N是否 一定 ? 樣本數(shù) N≧ 2? 中心線 CL 之性質(zhì) ? N是否 較大 ? Xσ 圖 XR 圖 XR 圖 XRm 圖 pn 圖 p 圖 C 圖 u 圖 計量值 計量值 缺點數(shù) 不一定 一定 不一定 一定 N=1 N ≧ 2 X N =2~5 N ≧ 10 不良數(shù) 搜集數(shù)據(jù) 繪製解析用管制圖 安定狀態(tài) ? 繪製直方圖 滿足規(guī)格 ? 追求 ,去除異常原因 以達安定狀態(tài) . 檢討機械 ,設(shè)備等 提升制程能力 管制用管制圖 5. 作法 : (1). P 管制圖的作法 :( 即計數(shù)值管制圖 ) A. 收集數(shù)據(jù) , 至少 20 組以上 . B. 計算每組的不良率 p. C. 計算平均不良率 p= 總不良個數(shù) / 點檢查數(shù) . D. 計算管制界限 . 中心線 : CL=p ,UCL= ,LCL= E. 繪管制界限 , 並將點點入圖中 . F. 記入數(shù)據(jù)履歷及特殊原因 , 以備查考 , 分析 , 判斷 . (2).X R 管制圖的作法 :( 即計量值管制圖 ) A. 搜集 100 個以上數(shù)據(jù)依測定時間順序或群體順序排列 . B. 把 25 個 (45) 數(shù)據(jù)分為一組 . C. 把數(shù)據(jù)記入數(shù)據(jù)表 . nppp /)1(3 ?? nppp /)1(3 ??D. 計算各組平均值 X .E. 計算種組的全距 R.F. 計算總平均 .G. 計算全距平均 R .H. 計算管制界限 .X 管制圖 : 中心線 C L = X 上限 U C L = X + A 2 R 下限 : L C L = X A 2 RR 管制圖 : 中心線 C L = R 上限 U C L = D 4 R 下限 : L C L = D 3 RI. 繪管制界限 , 並將點點入圖中 .J. 記入數(shù)據(jù)履歷及特殊原因 , 以備查考 , 分析 , 判斷 . n A2 D4 D3 E2 m3A22 3 4 5 6 7 8 9 10 Part Name : Part No.: Measure Unit:Quality Characteristic: Workstation: Specification:Date 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 159 3 8 6 6 9 9 7 6 6 6 6 11 7 106 9 6 9 5 8 7 7 7 7 6 10 6 12 12 A2= 8 6 7 7 6 9 8 8 6 8 11 9 8 4 9 D4= 7 6 9 8 7 5 11 7 6 12 9 9 10 9 8 Last Month:2 8 8 5 12 6 11 6 8 8 8 12 9 6 8 X=Max 9 9 9 9 12 9 11 8 8 12 11 12 11 12 12 R=Min 2 3 6 5 5 5 7 6 6 6 6 6 6 4 8 This Month :X 7 7 8 X= R 7 6 3 4 7 4 4 2 2 6 5 6 5 8 4 R= XChart UCL=X+A2*R CL= LCL=XA2*RRChart UCL=D4*R CL= Remarks :每天取 5 個數(shù)據(jù)作為 Sampling Data, 第一個月 XR Chart 控制線以本月前 15 天數(shù)據(jù)平均值 (X,R) 計算 . 第二個月控制線以上月數(shù)據(jù)平均值(X,R) Input部分.Sampling DataXR Control Chart Remarks XChart46810121 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15DataUCLCLLCLRChart0246810121 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15DataUCLCLProduct Name : Part No.: Measure Unit:Quality Characteristic: Workstation: Specification:Date 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15Insp Qty 200 100 100 100 100 200 100 100 100 100 150 100 100 100 100 Last Month:Rej Qty 3 1 2 1 2 3 2 3 1 2 3 1 5 3 2 P=Rej Rate % % % % % % % % % % % % % % % P= %UCL % % % % % % % % % % % % % % % CL % % % % % % % % % % % % % % % CL=P %Defect 1Defect 2Defect 3Defect 4Defect 5Defect 6Defect 7OthersStatusPlanRoot Cause Action PICRemarksPChart Corrective ActionsDescriptionPChart%%%%%%%1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15Date Rej RateCL管制圖不正常型態(tài)之判讀法 :有單獨一個點子 ,出現(xiàn)在三個標(biāo)準(zhǔn)差區(qū)域之外者 (有一點落在管制界限之外者 ). +1? +2? +3? UCL CL A區(qū) B區(qū) C區(qū) . :連續(xù)三點之中有兩點落在 A區(qū)或甚至於 A區(qū)以外者 (在中心線之同側(cè)三個連續(xù)點中有兩點出現(xiàn)在兩個標(biāo)準(zhǔn)差之外者 ). +1? +2? +3? UCL CL A區(qū) B區(qū) C區(qū) . . . . . . :連續(xù)五點之中有四點落在 B區(qū)或甚至於 B區(qū)以外者 (在中心線之同側(cè)五個連續(xù)點中有四點出現(xiàn)在一個標(biāo)準(zhǔn)差之外者 ). +1? +2? +3? UCL CL A區(qū) B區(qū) C區(qū) . . . . . . . . . . :連續(xù)有八點落在 C區(qū)或甚至於 C區(qū)以外者 (八個連續(xù)點子出現(xiàn)在中心線之同一側(cè)者 ). +1? +2? +3? UCL CL A區(qū) B區(qū) C區(qū) . . . . . . . . . ,如 : (1)連續(xù) 11點中有 10點以上 . (4)連續(xù) 20點中有 16點以上 . (3)連續(xù) 17點中有 14點以上 . (2)連續(xù) 14點中有 12點以上 . :連續(xù)有七點上升 (或下降 ). . +1? +2? +3? UCL CL . . . . . . LCL 1? 2? 3? . (3)連續(xù) 10點中有 4點以上 . (2)連續(xù) 7點中有 3點以上 . (1)連續(xù) 3點中有 2點以上 . ,一般是以超出 2?區(qū)域之 點為調(diào)查基準(zhǔn) ,如 : ( 一 ) y y y x x x正相關(guān) 負(fù)相關(guān) 無 ( 零 ) 相關(guān) y y x x弱相關(guān) 強相關(guān)( 二 ) yb= 斜率 y=a+bxa: 截距 ab: 斜率( 三 )r: 相關(guān)系數(shù) (Coefficient Correlation)強相關(guān)弱相關(guān)錯相關(guān) x相關(guān)回歸 (Correlation Regression)?r ?? r ?? r5. Ver:AModel: Parts Name: Part Number (Version):Data Source: Set / Cav. No:Measure Date: Trail Shot (Production) Date: Measured By: Location Silitek Vendor DifferenceNSP r a b USL ? LSL MAX MIN AVG STD Ca Cp Cpk Grade A ADRL% % % DRR% % % DR% % % 1 2 y b= 斜率 r: 相關(guān)系數(shù)28 y=a+bx r = 強相關(guān)29 a: 截距 r = 弱相關(guān)30 a b: 斜率 r = 錯相關(guān)31 32 xMeasure Method Max C. 請依據(jù)黃色標(biāo)識分析兩系統(tǒng)的差異性 .ments: Min (.: CP:Caliper。 步驟二 ：計算組數(shù) K = √ n (結(jié)果取整數(shù) ) 步驟三 ：決定組距 h=R（ 最大值－最小 值）247。 1. 柏拉圖的作法 步驟一 ：決定數(shù)據(jù)分類之項目 （ 計數(shù)值 ） ● 原因的分類：材料 、 設(shè)備 、 作業(yè)者 、 方法 、 工具 … ● 結(jié)果的類：不良項目 、 缺點 … . 步驟二 ：決定收集數(shù)據(jù)的期間 （ 以查檢表收集數(shù)據(jù) ） 步驟三 ：按分類項目由大到小排列 ， 做成統(tǒng)計表 ，如下圖 不良率 % = (各項不良率 247。 2用途： . 21解決問題的基礎(chǔ) 22經(jīng)過層別之后 ， 可以使得造成問題之原因更為 清楚 。 CM:CMM。6 Sigma Prepared by :VQM /Xu Gang Approved by: Howard Lin Level (For your reference and choosing) 181。5 Sigma 10 Sigma 181。4 Sigma 8 Sigma 181。3 Sigma 6 Sigma 181。2 Sigma 4 Sigma 181。1 Sigma 2 Sigma 181。 ,決定最經(jīng)濟的作業(yè)水準(zhǔn) 。 。 = , 穩(wěn)態(tài)控制 下不合格品率為 %=63PPM 在圖例上表示為中心沒有偏移 (實際中心值與規(guī)格中心重合 ) μ DPPM DR=DRL+DRR DR(Defect Rate):總不良 DRL (Defect Rate Left) :左不良 DRR (Defect Rate Right) :右不良 ??XLCL UCLDRLDR=DRL+ DRRDRR181。ABCD ESuSL 或 6σ ’代表制程在正常狀態(tài)下變化之範(fàn)圍 ,稱為自然公差 (Natural tolerance)規(guī)格上下限之差為 SuSL,則 或 6σ ’與 SuSL有下列三種關(guān)系 (情況