【正文】 分辨特殊原因：作為局部問題對策或管理階層系 統(tǒng)改進之參考。 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制6σ 概念概念 何謂六個 σ 制程？ ? 制程精密度（ Cp） = ? 制程能力指數(shù)（ Cpk） ≥以六個 σ 訂為品質(zhì)缺點的基準理由 。 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制規(guī)格下限常態(tài)分配（規(guī)格中心不偏移）規(guī)格上限177。3σ177。 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制規(guī)格下限 L5σ L5σ常態(tài)分配規(guī)格中心值往左、右移動 L5σ規(guī)格上限177。3σ177。 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制規(guī)格界限寬度177。 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制SPC 的觀點與建議的觀點與建議多使用計量型管制圖 ,盡量少用或不用計數(shù)型管制圖 . 為什么 ?突破創(chuàng)新 Kσ Cp 不良率 ppm突破創(chuàng)新 5σ177。1σ177。5σ177。1σ177。? 在制程無法消除變異情況下， Cp=2， Cpk=為 。改善的評估：制程能力可作為改善前后比較之指 標。使制程穩(wěn)定，能掌 握品質(zhì)、成本與交期。量測數(shù)據(jù)之有效數(shù)字位數(shù)未標準化。使用 SPC前未作充分準備。 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制P 管管 制制 圖圖 繪繪 圖圖 步步 驟驟點繪管制圖 UCLCLLCL突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制P 管管 制制 圖（不良率）圖（不良率）公、公 式式 (1)公組樣本大小 n 相等時： CL = P = —— UCL= P +3 P（ 1P） /n LCL= P 3 P（ 1P） /n (2)n不等，且相差小于 20%時： CL = P UCL= P +3 P（ 1P） /n LCL= P 3 P（ 1P） /n (3)n不等，且相差大于 20%時： CL = P UCL= P +3 P（ 1P） /ni LCL= P 3 P（ 1P） /niΣdΣn突破創(chuàng)新 這些連續(xù)的受控的時期子組的 p值是該過程當(dāng)前能的更好的估計值。 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制計 算過程能力? 對于 p圖 ，過程能是通過過程平均不合率來表，當(dāng)所有點都受控后才計算該值。 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制分析數(shù)據(jù)點，找出不穩(wěn)定的證據(jù)? 點? 線? 面? 以上三種方式做判定。突破創(chuàng)新 劃圖區(qū)域突破創(chuàng)新 突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制建立 p圖 的步驟 AＡ階段收集數(shù)據(jù) A1選擇 子組的容量、頻率及數(shù)量子組容量分組頻率子組數(shù)量A2計 算每個子組內(nèi)的不合格品率A3選擇 控制圖的坐標刻度A4將 不合格品率描組在控制圖突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制X—R 繪繪 圖圖 步步 驟驟求管制界限、求管制界限 (1)X 管制圖 CL = X = UCL = X+A2R=+()()= LCL = XA2R=()()= (2)R 管制圖 CL = R = UCL = D4R =()()= LCL = D3R =( 0 )()= 0將管制界限繪入管制圖、將管制界限繪入管制圖點圖、點圖檢討管制界限、檢討管制界限===突破創(chuàng)新 （ n=5）） ===——————————————突破創(chuàng)新 5 。 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制制程能力計算方法制程能力計算方法 ②②突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制Ｄ過程能力解釋D1計 算過程的標準偏差D2計 算過程能力D3評價過 程能力D4提高過程能力D5對 修改的過程繪制控制圖并分析建立 XR圖 的步驟 D突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制控制圖的判讀n 明顯的非隨機圖形：應(yīng)依正態(tài)分布來判定圖形，正常應(yīng)是有 2/3的點落于中間 1/3的區(qū)域 。 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制Ｃ過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點C2識 別并標注特殊原因 (極差圖 )C3重新計算控制界限 (極差圖 )C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形超出控制限的點鏈明顯的非隨機圖形C5識 別并標注特殊原因 (均值圖 )C6重新計算控制界限 (均值圖 )C7為 了繼續(xù)進行控制延長控制限建立 XR圖 的步驟 C突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制每組的平均值和極差的計算1 100 98 99 100 982 98 99 98 101 973 99 97 100 100 984 100 100 101 99 995 101 99 99 100 99平均 100 極 差 3 3 3 2 2突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制CASE STUDY質(zhì) 量特性 樣 本數(shù) 選 用什麼圖長 度 5重量 10乙醇比重 1電燈 亮／不亮 100每一百平方米的髒點100平方米突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制PLAN DOSTUDYACTPLAN DOSTUDYACTPLAN DOSTUDYACT過程改進循環(huán)分析過程?本過程應(yīng)做些什么?會出現(xiàn)什么錯誤?達到統(tǒng)計控制狀態(tài)?確定能力?監(jiān)控過程性能?查找偏差的特殊 原因并采取措施?改變過程從而更好 理解普通原因變差?減少普通原因變差突破創(chuàng)新 2σ177。 2σ177。β risk））突破創(chuàng)新 共同原因與特殊原因之變異共同原因與特殊原因之變異突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制? 共同原因：制程中變異因素是在統(tǒng)計的管制狀態(tài)下，共同原因：制程中變異