【正文】 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制建立 XR圖 的步驟 AＡ階段收集數(shù)據(jù)A1選擇 子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組頻率子組數(shù)大小A2建立控制圖及記錄原始記錄A3計(jì) 算每個(gè)子組的均值 X和極差 RA4選擇 控制圖的刻度A5將 均值和極差書到控制圖上突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制取樣的方式? 取樣必須達(dá)到組內(nèi)變異小，組間變異大? 樣本數(shù)、頻率、組數(shù)的說明 (25組以上，每組 45個(gè)數(shù)據(jù)）突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制每組的平均值和極差的計(jì)算1 100 98 99 100 982 98 99 98 101 973 99 97 100 100 984 100 100 101 99 995 101 99 99 100 99平均 100 極 差 3 3 3 2 2突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制平均值和極差? 平均值的 計(jì) 算n R值的計(jì)算突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制Ｂ計(jì)算控制限 B1計(jì) 算平均極差及過程平均值B2計(jì) 算控制限B3在控制圖上作出平均值和 極差控制限的控制線建立 XR圖 的步驟 B突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制Ｃ過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)C2識 別并標(biāo)注特殊原因 (極差圖 )C3重新計(jì)算控制界限 (極差圖 )C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形C5識 別并標(biāo)注特殊原因 (均值圖 )C6重新計(jì)算控制界限 (均值圖 )C7為 了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限建立 XR圖 的步驟 C突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制控制圖的判讀? 超出控制界限的點(diǎn)：出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)控制界限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)UCLCLLCL異 常異 常突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制控制圖的判讀n 鏈 ：有下列現(xiàn)象之一即表明過程已改變n 連續(xù) 7點(diǎn)位于平均值的一側(cè)n 連續(xù) 7點(diǎn)上升 (后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn) )或下降。UCLCLLCL突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制控制圖的判讀n 明顯的非隨機(jī)圖形：應(yīng)依正態(tài)分布來判定圖形，正常應(yīng)是有 2/3的點(diǎn)落于中間 1/3的區(qū)域 。UCLCLLCL突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制Case study1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 141 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 722 68 75 73 74 78 74 72 74 78 76 74 76 75 793 68 77 96 75 78 71 73 75 77 75 76 77 75 804 69 79 95 72 80 72 71 76 72 75 77 72 72 7815 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 281 75 74 70 62 74 78 80 80 72 55 70 73 72 732 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 723 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 744 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 76突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制? 請計(jì) 算出上表的 XR控制圖的控制限？? 請判定過程是否穩(wěn)定？? 如果是不穩(wěn)定該如何處理？? 如果制程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自n=4調(diào)為 n=5時(shí) ，那么其新控制限為何？Case study突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制Ｄ過程能力解釋D1計(jì) 算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計(jì) 算過程能力D3評價(jià)過 程能力D4提高過程能力D5對 修改的過程繪制控制圖并分析建立 XR圖 的步驟 D突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制解析用與管制用管制圖解析用與管制用管制圖目的 時(shí)機(jī) 方法 要求解析用 訂定管制界限量試 收集數(shù)據(jù) ,計(jì)算并描繪管制界限 ,描點(diǎn)繪圖 ,分析判讀 ,確定管制界限PPK管制用 分析判讀量產(chǎn) 已有管制界限 ,收集數(shù)據(jù) ,描點(diǎn)連線 ,分析異常 ,及時(shí)管理CPK突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制 CPK（穩(wěn)定的過程）（穩(wěn)定的過程） /PPK（不穩(wěn)定的過程）（不穩(wěn)定的過程） 制程能力要求制程能力要求 CPK大于或等于大于或等于 ；； PPK大于或等于大于或等于 能力不足或不穩(wěn)定時(shí)應(yīng)、能力不足或不穩(wěn)定時(shí)應(yīng) 100% 全檢并執(zhí)行反應(yīng)計(jì)劃全檢并執(zhí)行反應(yīng)計(jì)劃能力過高時(shí)（、能力過高時(shí)（ CPK/PPK大于或等于大于或等于 3）應(yīng)修改）應(yīng)修改 CP突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制制程能力計(jì)算方法制程能力計(jì)算方法 ①① Cpk↑ （制程能力） Cpk = （ 1 |Ca|） Cp突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制制程能力計(jì)算方法制程能力計(jì)算方法 ②②突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制CPK與與 PPK的區(qū)別的區(qū)別突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制群體平均值 =μ標(biāo)準(zhǔn) 差 =σ對 σ的估計(jì)群體標(biāo)準(zhǔn)差的估計(jì)突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制Case study? 請 依照上個(gè) case study的數(shù)據(jù)，計(jì)算其下列的各項(xiàng)指標(biāo)結(jié)果，假設(shè)其規(guī)格為： 75177。5 。? Ca? Cp? Cpk? Pp? Ppk突破創(chuàng)新 精益求精 SPC統(tǒng)計(jì)過程控制統(tǒng)計(jì)過程控制X—R 管制圖（平均值與全距）管制圖（平均值與全距）公、公 式：式： （（ 1）） X 管制圖管制圖 （（ 2）） R 管制圖管制圖 CL = X CL = R UCL = X + A2 R UCL = D4 R LCL = X A2 R LCL = D3 R實(shí)、實(shí) 例例 某工廠制造一批紫銅管，應(yīng)用某工廠制造一批紫銅管，應(yīng)用 XR管管 制圖來控制其內(nèi)徑，尺寸單位為制圖來控制其內(nèi)徑，尺寸單位為 m/m， 利用下頁數(shù)據(jù)表之資料，求得其管制利用下頁數(shù)據(jù)表之資料，求得其管制 界限并繪圖。（界限并繪圖。（