流程性材料的檢驗概述-全文預(yù)覽
【正文】 級別 判定 可采取的對策 1 Ca≤ 5 過程能力嚴(yán)重不足 必要時，停止生產(chǎn)，直到找出原因或全檢 2 Ca≤ 4 過程能力不足 找出原因，采取對策，產(chǎn)品全檢 3 Ca≤ 3 過程能力尚可 注意5M1E的變化情況，產(chǎn)品要加嚴(yán)檢查 4 Ca≤1 2 過程能力充分 理想狀態(tài)，繼續(xù)維持現(xiàn)狀 5 Ca1 1 過程能力過高 理想狀態(tài)，可考慮抽檢或免檢 過程能力評價參考表序號 Cp（Cpk） 級別 判定 可采取的對策 1 Cp 5 過程能力嚴(yán)重不足 必要時，停止生產(chǎn)，直到找出原因或全檢 2 ≤Cp 4 過程能力不足 找出原因，采取對策，產(chǎn)品全檢 3 ≤Cp 3 過程能力尚可 注意5M1E的變化情況，產(chǎn)品要加嚴(yán)檢查 4 ≤Cp 2 過程能力充分 理想狀態(tài)，繼續(xù)維持現(xiàn)狀 5 ≤Cp 1 過程能力過高 理想狀態(tài)，可考慮抽檢或免檢 Cp結(jié)合Cpk對應(yīng)的σ水平序號 Cp Cpk 對應(yīng)σ水平 1 Cp Cpk 一 西格碼水平（無意義） 2 Cp≥ Cpk≥ 二 西格碼水平 3 Cp≥ Cpk≥ 三 西格碼水平 4 Cp≥ Cpk≥ 四 西格碼水平 5 Cp≥ Cpk≥ 五 西格碼水平 6 Cp≥ Cpk≥ 六 西格碼水平 Cp≥ Cpk≥ 七 西格碼水平 1 過程相對穩(wěn)定系數(shù) ——通常σ^LT σ^ST，因此過程的質(zhì)量改進(jìn)就是逐漸減少σ^LT，使其不斷向σ^ST靠近。/ C4——Cpk值是分布中心與公差中心不重合情況下的過程能力指數(shù)；——公式Cpk＝（1－Ca）Cp＝（1－ k）Cp；——當(dāng)品質(zhì)規(guī)格只有上限單側(cè)公差時：Cpu＝（TU－x175。/ C4——Cp值是衡量過程滿足產(chǎn)品品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)（規(guī)規(guī)公差）的程度，Cp值越大，表示過程變異越小，過程能力越差；——公式Cp＝T/6σ＝（TU－TL）/6σ≈（TU－TL）/6s（TU公差上限，TL公差下限，σ群體標(biāo)準(zhǔn)差，s樣本標(biāo)準(zhǔn)差）；——公式σ＝R175。μ｜/(T/2)（x175。閱讀(29)分享(0) 評論(0) 分類：管理資料 發(fā)表于17:19 正在加載評論...[01/08] 質(zhì)量管理培訓(xùn)入門 [展開] 閱讀(41)分享(0) 評論(0) 分類：管理資料 發(fā)表于22:53 正在加載評論...[01/03] 再講Ca、Cp、Cpk、Pp、Ppk [折疊] 摘自6SQ的博客:關(guān)于過程能力和過程能力指數(shù)的詳細(xì)解釋 概述—— 前些時間看到不少網(wǎng)友或論壇的朋友一直對Ca、Cp、Cpk、Pp、Ppk產(chǎn)生很多疑問，作為過程質(zhì)量控制的一部分，我們有必要對它進(jìn)行全面了解和精確計算，以便工作的順利開展。 e)無損檢測:在不損壞被檢材料的前提下，對材料表面或內(nèi)部的缺陷、性能、狀態(tài)、結(jié)構(gòu)進(jìn)行檢測，主要有射線、超聲波、磁粉、滲透、渦流等探傷方法?！ )光學(xué)檢驗法:利用光學(xué)原理采用各種光學(xué)儀器檢測材料的物理、化學(xué)性能及組分。 ?、逓榱吮ＷC同一種流程性材料性能的一致性，國家及各行業(yè)不僅制訂了相應(yīng)的產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)一材料技術(shù)性能的要求，而且還對技術(shù)條件中的性能要求規(guī)定了檢驗或試驗方法，制定了國家或行業(yè)統(tǒng)一的試驗方法標(biāo)準(zhǔn)，供生產(chǎn)組織中的質(zhì)量檢驗和試驗人員使用，
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