分析化學(xué)(儀器分析)第六章原子發(fā)射光譜法-全文預(yù)覽
【正文】 電離 ， 在管口形成穩(wěn)定的等離子體焰炬。 譜線表中 ， r： 自吸； R： 自蝕 a b 弧焰示意圖 第二節(jié) 儀器裝置 激發(fā)源 (光源 ) 單色器 檢測(cè)器 數(shù)據(jù)處理與顯示 低壓交流電弧 ICP 平面衍射光柵攝譜儀 感光板 中階梯光柵交叉色散光學(xué)系統(tǒng) 全譜直讀 CID電荷注入式檢測(cè)器 光源 (光源 )的作用 : ：檢出限 、 精密度和準(zhǔn)確度 。 熱力學(xué)平衡時(shí) ， 單位體積的基態(tài)原子數(shù) N0與激發(fā)態(tài)原子數(shù)Ni的之間的分布遵守玻耳茲曼分布定律： Ni = N0 (gi/g0) eEi/kT (2) gi 、 g0為激發(fā)態(tài)與基態(tài)的統(tǒng)計(jì)權(quán)重； Ei 為激發(fā)能； k為玻耳茲曼常數(shù)； T為激發(fā)溫度。 M+* ? M+ (Ⅱ ) ； M2+* ? M2+ (Ⅲ ) 3. 最靈敏線 、 最后線 、 分析線 第一共振線一般也是元素的最靈敏線 。由第一激發(fā)態(tài)直接躍遷至基態(tài)的譜線稱(chēng)為第一共振線 。 原子發(fā)射光譜的產(chǎn)生 在正常狀態(tài)下，元素處于基態(tài)，元素在受到熱（火焰）或電（電火花）激發(fā)時(shí)，由基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)，返回到基態(tài)時(shí)，發(fā)射出特征光譜（線狀光譜） 特征輻射 基態(tài)元素 M 激發(fā)態(tài) M* 熱能、電能 ?E 原子發(fā)射光譜法一些常用的術(shù)語(yǔ) 2. 共振線 、 第一共振線 由激發(fā)態(tài)直接躍遷至基態(tài)時(shí)輻射的譜線稱(chēng)為共振線 。 M* ? M (I) 離子線 (Ⅱ ,Ⅲ ) ：離子核外激發(fā)態(tài)電子躍遷回基態(tài)所發(fā)射出的譜線 。 E2 E0 E1 E3 譜線強(qiáng)度 在 i， j 兩能級(jí)間躍遷，譜線強(qiáng)度可表示為： Iij= NiAij hυij （ 1） 式中 Ni為激發(fā)態(tài)原子數(shù) ， Aij兩個(gè)能級(jí)間的躍遷幾率； h為 Plank常數(shù)； ?ij發(fā)射譜線的頻率 。 I = I0ead I0為弧焰中心發(fā)射的譜線強(qiáng)度， a為吸收系數(shù)， d為弧層厚度 自蝕： 當(dāng)自吸現(xiàn)象非常嚴(yán)重時(shí) ， 譜線中心的輻射完全被吸收的現(xiàn)象 。 在垂直于磁場(chǎng)方向?qū)a(chǎn)生感應(yīng)電流（ 渦電流 ， 粉色 ） ， 其電阻很小 ， 電流很大 (數(shù)百安 )， 產(chǎn)生高溫 。其色散作用是基于構(gòu)成棱鏡的光學(xué)材料對(duì)不同波長(zhǎng)的光具有不同的折射率。 ? 增加棱鏡數(shù)目 ?????ddnndd ???)2/(s i n1)2/s i n(222線色散率 dl/d?或倒線色散率 d?/dl：它表示兩條譜線在焦面上被分開(kāi)的距離對(duì)波長(zhǎng)的變化率： 可見(jiàn)線色散率除與角色散率有關(guān)外，還與會(huì)聚透鏡焦距 f及焦面和光軸間夾角 ?有關(guān)。 但可能造成二級(jí)光譜與一級(jí)光譜的重疊 ， 而且具有最大強(qiáng)度的光處于 0級(jí)（ 為未分開(kāi)的白光 ） 平面反射光柵 （ 閃耀光柵 ） 將平行的狹縫刻制成具有相同形狀的刻槽 （ 多為三角形） ，
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