spc控制圖速成教材-全文預覽
【正文】 分布的曲線越瘦高。數(shù)據的準確度及可靠性是 數(shù)據收集的關鍵。 正常數(shù)據：指在制程正常（受控）狀態(tài)收集的數(shù)據，建立控制圖，才能真正“分析現(xiàn)狀，管理制程”的作用。1 第一章 SPC控制圖法 第一節(jié) SPC的基本要概念與模式 一、 SPC 的基本功能 SPC（ Statistical Proccss Control）：是制程能力分析與制程觀察分析的統(tǒng)計方法，它分為計數(shù)值控制圖、計量值控制圖。 隨機抽樣 ⑴總體、個體、樣本： 總體是指全部個體或指生產過程，樣本是指若干個體組成原集合； ⑵隨機抽樣方法： 從總體中隨機抽取樣本的方法骨簡單隨機抽樣等方法。 正態(tài)分布： E（ X） =y， D（ X） =δ 2 適用于計量值（連續(xù)變量） 二項分布： E（ X） =np， D（ X） =np（ 1p） 適用于計數(shù)值（不合格數(shù)） 泊松分布： E（ X） =λ， D（ X） =λ 適用于計點值（缺陷數(shù)） 四、 SPC 流程圖 數(shù)據收集總的要求是：明確目的，現(xiàn)志收集，準確可靠，隨機抽取。 對象計算 ， S， R ?X計算 ， ， ?p ?n ?c計算出U CL， LCL計算出U CL繪控制圖，分析判斷繪控制圖，分析判斷3 正態(tài)分布的特征： 正態(tài)分布有兩個重要參數(shù)：均值μ，標準差δ．μ是產品質量數(shù)據分布的中心，δ是產品質量數(shù)據的波動程度。后把按時間先后順序抽樣所得的質量特性值，計算樣本數(shù)字特征，以點子的形式依次描在圖上，從點子的動態(tài)分布來分析制程及其趨勢的方法。 ⑴當μ =M 時，中心無偏移，計算： ⑵當μ M 時，中心向右偏移，計算： ⑶當μ M 時，中心向左偏移，計算： 當規(guī)定μ≤ TL或μ≥ Tμ 時， CPK=0 表 1 制程能力等級評定表 CP（或 CPK） 制程能力 制程等級 不合格率 P 以上 十分充裕 特級 % ～ 充裕 一級 %～ % ～ 尚好 二級 %～ % ～ 不足 三級 %～ % 以下 嚴重不足 四級 % 制程（過程、工序）能力是指過程的輸出（成品或半成品）成果符合技術規(guī)格的能力。詳見表1。瘦高比矮胖要好，直方圓具有正態(tài)布特點時 ，繪制控制圖如 XR 圖才有效。每個區(qū)間包含的 數(shù)據個數(shù)用 fi 表示，稱之頻數(shù)，而且 第三步，畫直方圓 橫坐標是各組的區(qū)間，縱坐標是該組的步數(shù)。 7 計算平均值 X 與標準值差 S 計算 CP值或 CPk值 本例： TL=1253， Tμ =1783，則 M=1/2[1253+1783]=， T=Tμ TL=530 ????? ff121 XXXX 或)fXX(f1S)X(X21S 222n 1i2 ????? ? 或1 5 0 0. 5] 3 3 7. [100 1X : ???????? ??本例 X fXf1f ) X(X f1S 2222 ??????方差9)(41 5 0 0 . 5 )( 1 2 8 7 . 5[1001 22 ?????]1)(31 5 0 0 . 5 )( 1 7 3 7 . 5 22 ??????? ? 1 11 3 6 6 5S ??1 5 0 0 . 5 μ? ,μ X , 1 1 6 . 9σ? σ,S ?? 估計用估計用0 . 7 0 5 5 0 4 7S3 TXC ,M μ? Lpk ????? 于是由于481016 161510973104812162024 TL Tμ f X 8 表 3 頻數(shù)分布數(shù) 組號 組距界線值 頻數(shù) f 中間值 X 1 ～ 4 1 ～ 9 3 ～ 10 4 ～ 16 5 ～ 16 6 ～ 15 7 ～ 10 8 ～ 9 9 ～ 7 10 ～ 3 11 ～ 1 四、 圖圖與 SXRX ?? [例 2] 某種線圈的陰抗值 X 可認為服從正態(tài)分布，工序能力等級達到二級以上，試繪制計量值控制圖。 Rt=max{Xt1， Xt2， Xt3， Xt4， Xt5}min{ Xt1， Xt2， Xt3， Xt4， Xt5} 如 t=1， 詳見表 4， X~ 為中位數(shù)，省略，當樣本容量 n 不超過 30 時，稱 為小樣本，此時計算樣本方差 S2，要用 n1除，作用是保證樣本方差 S2估計總體方差 S2 具有無偏性。工序處于控制狀態(tài)時，控制圖上的點子隨機地分散在中心線的兩側，離開中心線而接近上、下控制界限的點子少，越出界限的點子更小。點子在控制界限內的缺陷分下述 4 種情況。 有趨勢傾向的控制 圖 14 點子排列具有周期性 為什么對于上述點子排列出現(xiàn)缺陷情況時，可以判斷出工序處于異常呢？因為在正常狀態(tài)下，計算出各種缺陷排列發(fā)生的概率很小，千分之五左右。由數(shù)理統(tǒng)計學中的切比雪夫不等式知， 不論 X 服從什么概率分布，都有： E(X)表示隨機變數(shù) X 的均值（總體均值）， D(X)表示方差（總體方差）， 為標準差。 人們都有這個常識：“零缺陷”。 一、 Pn圖與 P圖 98)X(D)X(EX)X(D( X)E{P 33 ????)X(D)X(DB 6?)]X(D)X(E )X(D( X )E[ 33 ?)]X(D)X(E L C L , )X(D( X )EU C L 33 ????15 對于不合格數(shù)（不良品數(shù)） X 的控制圖，稱為計數(shù)值控制圖，又稱 Pn 圖。 P 作為生產過程的不合格率，又稱作總體不合格率，通常是未知參數(shù)。 [解 ] ( 5 ) )p1(P)n/1(P U CLY ,
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