外文翻譯--擴展激光衍射顆粒的形狀特征：技術(shù)方面和應(yīng)用（中文）-其他專業(yè)-全文預(yù)覽
【正文】 ， 只有一個或幾個粒子 在光束中 。 圖 13顯示了第一個 主成分與攪拌時間的關(guān)系 。 在開始的時候 ,有 特征峰值 在 90度 和 270度 的峰值 ， 這代表了 立方 形狀 。 在不同的攪拌時間攪拌顆粒的磨損可以看到圖 11的 CCD 圖像 。 六十四楔被定在一個徑向距離從 1到 的環(huán)上 。 5 監(jiān)測顆粒磨損的應(yīng)用實例 一個用于檢測顆粒形狀的應(yīng)用就是監(jiān)測在結(jié)晶過程中顆粒的磨損 。 這兩個互相關(guān)光譜非常像那些 “ 理想的 ” 單一粒子 。 在 圖 9， 它清楚地表明 ， 方形的傅里葉表示 由一個大的 A4與橢圓形小 A2分析 ， 這給出了一個很大的 A2和相對小的 A4。 圖 7 一個方形顆粒側(cè) 418 微米的凸起部分中 進入 的 1 毫米的光束的散射圖案 圖 8 為方形側(cè) 418微米的顆粒的投影部分中輸入的 1毫米的光束的交叉相關(guān)系數(shù) 在接下來的實驗中 ， 我們使用了兩個 光標(biāo) 結(jié)合在一起模擬一個混合的 方形 和 橢圓形 。 然后 ， 掃描數(shù)據(jù) 是需要 一個過濾方法 以便 進行 增強 形狀信息 ， 這需要基于我們先前粒子的知識 。 很明顯 ， 散射圖案的形狀信息顯著改善 ， 因為降低的光束直徑導(dǎo)致一個較小的顆粒數(shù)量測量體積 ， 即不同的粒子信號模式 的 相干效 降 低 了 ， 但是 接收到的能量粒子 和較 高 散射光強度也相應(yīng)地增加了 。 圖 5顯示了一個典型的 3毫米的光斑尺寸的散射圖案的圖像 ， 在測量區(qū)域的平均粒子數(shù)約為五 。 首先 ， 光束 的 大小 影響形狀測量 已經(jīng) 被 確認 。 一個測量研究 被 開展 為了 獲得一個洞察這方面和 解決 可能出現(xiàn)的問題 。 在這方面 ， 其優(yōu)勢是 ， 只有一小部分系數(shù)可以用來 反映相關(guān)的形狀信息 。 這些系數(shù)的集合代表的方位角譜的周期性行為[ iL ]。 1? （ 5） 同的粒子形狀有不同的特征 39。 因此 ， 想得到 最好的信息 ， 可以 通過只允許一個或幾個粒子出現(xiàn)在同一時間在測量區(qū) 。因此 ， 通常情況下 ， 這個值 的 范圍在 0 180度 的相關(guān)角 之間 ， 它 是用 來描畫被 稱為粒子角譜相關(guān)圖表 ， 它刻畫 了 形狀信息 。 粒子的散射模式圖像測量 ， 需要 大量 掃描 某一個 特定 圖像 的 每 個 幀 。探測器被放置在焦平面來記錄衍射 圖案圖像。 這可以通過把傳感器響應(yīng)在給定的不同的光照強度 [9]。 對于應(yīng)用程 序的大小 和形狀測量 ， 像素可以組合形成一個模擬探測器陣列 與 某些幾何 ， 這樣可以 提高 信號的信噪比 。由于顆粒在測量單元和投影一幀的測量期間是穩(wěn)定的 。 A / D 轉(zhuǎn) 換器的設(shè)備設(shè)置為覆蓋四個幾十年的光強度 ， 這足以覆蓋大多數(shù) 情況下 動態(tài)范圍的散射模式 。 這里就沒有展開了 ； 因此 ， 飽和像素不會溢出和影響相鄰像素 。 這個問題是可以 克服的 ， 例如 ， 通過 改變曝光時間或使用一個特殊的過濾器設(shè)置 。 此外 ， 還有 各種信號處理 的 方法 ， 即互相關(guān) ， 掃描選擇單粒子的存在 ， 主成分分析和傅里葉分析 ， 研究了提高靈敏度的形狀特征 。 在這項研究中 ， 我們采用一種新的傳感器技術(shù) ， 使用一個像素陣列來測量散射模式 。 64楔形段結(jié)合反向傅里葉設(shè)置 以應(yīng)用于 測量方位散射信號 的光電探測器 。 對于均勻照亮一個球形顆粒 ， 其 衍射 圖案 由一個中央明亮區(qū)域 ,稱為艾里斑 ， 周圍 包圍 很多 微弱的百環(huán)與 暗環(huán)交替 。 實際上 ,電磁場 函 數(shù)的 衍射模式是等于傅里葉變換的目標(biāo)函數(shù) 。 當(dāng)粒子尺寸明顯大于這一入射波長或其折射率是顯著的不同于周圍介質(zhì) ， 大多數(shù)的光都分布在相對入射光束傳播方向的小散射角上 。 因此 ， 這是另一種方式 ，直接從粒子模式散射中獲取顆粒形狀信息 。 因此 ， 透鏡形成兩個截然不同的令人感興趣的模式 。 在一個正常的激光衍射測定中 ， 一束平行激光束照亮集合的分散粒子 ； 由此產(chǎn)生的散射圖案 ， 以及激光束的殘留物 ， 都被收集和集中在透鏡的后焦面 。 直到現(xiàn)在 ， 大多數(shù)這些圖像分析方法是基于離線分析而且很耗時 。形狀和大小直接關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量并且對許多的過程產(chǎn)生很大的影響 。 波動的散射光的強度在方位角方向的互相關(guān)為粒子的角譜轉(zhuǎn)化 ， 這反映了形狀信息 。 與 二維像素陣列獲得顆粒形狀信息 。 1 介紹 顆粒形狀的顆粒物質(zhì)的一個非常重要的特性 ， 如顆粒尺寸。 在這些圖片 中 ， 粒子輪廓線的通常是粒子形狀因素的壓縮信息 ， 比如分形維數(shù)或縱橫比 ， 或者他們是通過傅立
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