外文翻譯--擴(kuò)展激光衍射顆粒的形狀特征：技術(shù)方面和應(yīng)用（中文）-其他專業(yè)-全文預(yù)覽
【正文】 ， 只有一個(gè)或幾個(gè)粒子 在光束中 。 圖 13顯示了第一個(gè) 主成分與攪拌時(shí)間的關(guān)系 。 在開(kāi)始的時(shí)候 ,有 特征峰值 在 90度 和 270度 的峰值 ， 這代表了 立方 形狀 。 在不同的攪拌時(shí)間攪拌顆粒的磨損可以看到圖 11的 CCD 圖像 。 六十四楔被定在一個(gè)徑向距離從 1到 的環(huán)上 。 5 監(jiān)測(cè)顆粒磨損的應(yīng)用實(shí)例 一個(gè)用于檢測(cè)顆粒形狀的應(yīng)用就是監(jiān)測(cè)在結(jié)晶過(guò)程中顆粒的磨損 。 這兩個(gè)互相關(guān)光譜非常像那些 “ 理想的 ” 單一粒子 。 在 圖 9， 它清楚地表明 ， 方形的傅里葉表示 由一個(gè)大的 A4與橢圓形小 A2分析 ， 這給出了一個(gè)很大的 A2和相對(duì)小的 A4。 圖 7 一個(gè)方形顆粒側(cè) 418 微米的凸起部分中 進(jìn)入 的 1 毫米的光束的散射圖案 圖 8 為方形側(cè) 418微米的顆粒的投影部分中輸入的 1毫米的光束的交叉相關(guān)系數(shù) 在接下來(lái)的實(shí)驗(yàn)中 ， 我們使用了兩個(gè) 光標(biāo) 結(jié)合在一起模擬一個(gè)混合的 方形 和 橢圓形 。 然后 ， 掃描數(shù)據(jù) 是需要 一個(gè)過(guò)濾方法 以便 進(jìn)行 增強(qiáng) 形狀信息 ， 這需要基于我們先前粒子的知識(shí) 。 很明顯 ， 散射圖案的形狀信息顯著改善 ， 因?yàn)榻档偷墓馐睆綄?dǎo)致一個(gè)較小的顆粒數(shù)量測(cè)量體積 ， 即不同的粒子信號(hào)模式 的 相干效 降 低 了 ， 但是 接收到的能量粒子 和較 高 散射光強(qiáng)度也相應(yīng)地增加了 。 圖 5顯示了一個(gè)典型的 3毫米的光斑尺寸的散射圖案的圖像 ， 在測(cè)量區(qū)域的平均粒子數(shù)約為五 。 首先 ， 光束 的 大小 影響形狀測(cè)量 已經(jīng) 被 確認(rèn) 。 一個(gè)測(cè)量研究 被 開(kāi)展 為了 獲得一個(gè)洞察這方面和 解決 可能出現(xiàn)的問(wèn)題 。 在這方面 ， 其優(yōu)勢(shì)是 ， 只有一小部分系數(shù)可以用來(lái) 反映相關(guān)的形狀信息 。 這些系數(shù)的集合代表的方位角譜的周期性行為[ iL ]。 1? （ 5） 同的粒子形狀有不同的特征 39。 因此 ， 想得到 最好的信息 ， 可以 通過(guò)只允許一個(gè)或幾個(gè)粒子出現(xiàn)在同一時(shí)間在測(cè)量區(qū) 。因此 ， 通常情況下 ， 這個(gè)值 的 范圍在 0 180度 的相關(guān)角 之間 ， 它 是用 來(lái)描畫(huà)被 稱為粒子角譜相關(guān)圖表 ， 它刻畫(huà) 了 形狀信息 。 粒子的散射模式圖像測(cè)量 ， 需要 大量 掃描 某一個(gè) 特定 圖像 的 每 個(gè) 幀 。探測(cè)器被放置在焦平面來(lái)記錄衍射 圖案圖像。 這可以通過(guò)把傳感器響應(yīng)在給定的不同的光照強(qiáng)度 [9]。 對(duì)于應(yīng)用程 序的大小 和形狀測(cè)量 ， 像素可以組合形成一個(gè)模擬探測(cè)器陣列 與 某些幾何 ， 這樣可以 提高 信號(hào)的信噪比 。由于顆粒在測(cè)量單元和投影一幀的測(cè)量期間是穩(wěn)定的 。 A / D 轉(zhuǎn) 換器的設(shè)備設(shè)置為覆蓋四個(gè)幾十年的光強(qiáng)度 ， 這足以覆蓋大多數(shù) 情況下 動(dòng)態(tài)范圍的散射模式 。 這里就沒(méi)有展開(kāi)了 ； 因此 ， 飽和像素不會(huì)溢出和影響相鄰像素 。 這個(gè)問(wèn)題是可以 克服的 ， 例如 ， 通過(guò) 改變曝光時(shí)間或使用一個(gè)特殊的過(guò)濾器設(shè)置 。 此外 ， 還有 各種信號(hào)處理 的 方法 ， 即互相關(guān) ， 掃描選擇單粒子的存在 ， 主成分分析和傅里葉分析 ， 研究了提高靈敏度的形狀特征 。 在這項(xiàng)研究中 ， 我們采用一種新的傳感器技術(shù) ， 使用一個(gè)像素陣列來(lái)測(cè)量散射模式 。 64楔形段結(jié)合反向傅里葉設(shè)置 以應(yīng)用于 測(cè)量方位散射信號(hào) 的光電探測(cè)器 。 對(duì)于均勻照亮一個(gè)球形顆粒 ， 其 衍射 圖案 由一個(gè)中央明亮區(qū)域 ,稱為艾里斑 ， 周圍 包圍 很多 微弱的百環(huán)與 暗環(huán)交替 。 實(shí)際上 ,電磁場(chǎng) 函 數(shù)的 衍射模式是等于傅里葉變換的目標(biāo)函數(shù) 。 當(dāng)粒子尺寸明顯大于這一入射波長(zhǎng)或其折射率是顯著的不同于周圍介質(zhì) ， 大多數(shù)的光都分布在相對(duì)入射光束傳播方向的小散射角上 。 因此 ， 這是另一種方式 ，直接從粒子模式散射中獲取顆粒形狀信息 。 因此 ， 透鏡形成兩個(gè)截然不同的令人感興趣的模式 。 在一個(gè)正常的激光衍射測(cè)定中 ， 一束平行激光束照亮集合的分散粒子 ； 由此產(chǎn)生的散射圖案 ， 以及激光束的殘留物 ， 都被收集和集中在透鏡的后焦面 。 直到現(xiàn)在 ， 大多數(shù)這些圖像分析方法是基于離線分析而且很耗時(shí) 。形狀和大小直接關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量并且對(duì)許多的過(guò)程產(chǎn)生很大的影響 。 波動(dòng)的散射光的強(qiáng)度在方位角方向的互相關(guān)為粒子的角譜轉(zhuǎn)化 ， 這反映了形狀信息 。 與 二維像素陣列獲得顆粒形狀信息 。 1 介紹 顆粒形狀的顆粒物質(zhì)的一個(gè)非常重要的特性 ， 如顆粒尺寸。 在這些圖片 中 ， 粒子輪廓線的通常是粒子形狀因素的壓縮信息 ， 比如分形維數(shù)或縱橫比 ， 或者他們是通過(guò)傅立
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