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典型環(huán)節(jié)的模擬研究自動控制實驗報告(文件)

2025-08-02 15:42 上一頁面

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【正文】 構(gòu)造模擬電路: 按圖接線 ( 3)運行、觀察、記錄: ① 運行 LABACT 程序,選擇自動控制菜單下的線性控制系統(tǒng)的頻率響應(yīng)分析 實驗項目,選擇一階系統(tǒng),點擊開始,測試被測系統(tǒng) 的頻率特性,等待將近十分鐘,測試結(jié)束。 C=1uF,R2=50KΩ ( T=)。 3. 了解和掌握欠阻尼二階開環(huán)系統(tǒng)中的相位裕度 ? 和幅值穿越頻率 c? 的計算。 計算欠阻尼二階閉環(huán)系統(tǒng)中的幅值穿越頻率ω c、相位裕度γ: 幅 值 穿 越 頻 率 : 24 241 ???? ???? nc ( 323) 相位裕度: 42 4122ar ct an)(180???????????? c? ( 324) γ值越小, Mp%越大,振蕩越厲害;γ值越大, Mp%小,調(diào)節(jié)時間 ts 越長,因此為使二階閉環(huán)系統(tǒng)不致于振蕩太厲害及調(diào)節(jié)時間太長,一般希望: 30 176。 被測系統(tǒng)模擬電路圖的構(gòu)成如圖 322 所示。 ( 3)運行、觀察、記錄: ① 將數(shù) /模轉(zhuǎn)換器( B2)輸出 OUT2 作為被測系統(tǒng)的輸入,運行 LABACT 程序,在界面的自動控制菜單下的線性控制系統(tǒng)的頻率響應(yīng)分析 實驗項目,選擇二階系統(tǒng),就會彈出虛擬示波器的界面,點擊開始,實驗開始后,實驗機將自動產(chǎn)生 ~16H 等多種頻率信號,等待將近十分鐘,測試結(jié)束后,觀察 閉 環(huán)對數(shù)幅頻、相頻曲線和幅相曲線。 實驗結(jié)果可與式( 3211)和( 3212)的理論計算值進行比對。 Ti=1( C1=2u), K=25( R=4K),( C2 增加 (ξ減小 ))。 改變慣性環(huán)節(jié)開環(huán)增益 未改變?nèi)魏螀?shù) 運算模擬單元 A3 的輸入電阻 R=4K Ti=1( C1=2u), T=( C2=1u) 幅頻特性 相頻特性 幅相特性 改變慣性環(huán)節(jié)開環(huán)增益: 運算模擬單元 A3 的輸入電阻 2K。 由于疏忽,沒有認真看實驗要求而忽略了二階系統(tǒng)的閉環(huán)頻率響應(yīng)。 4.觀察和分析系統(tǒng)未校正和串聯(lián)超前校正后 的 開環(huán) 對數(shù) 幅頻特性 )(?L 和相頻特性 )(?? , 幅 二.實驗內(nèi)容 及步驟 未校正系統(tǒng)的頻域特性的測試 未 校 正 系 統(tǒng) 頻 域 特 性 測 試 的 模 擬 電 路 圖 見 圖 334 。 被測二階系統(tǒng)的對數(shù)幅頻特性 相頻特性 3.超前校正網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計 ① 在未校正系統(tǒng)模擬電路的開環(huán)相頻特性曲線(圖 335)上測得未校正系統(tǒng)的相位裕度γ =176。 其中△為考慮到 )39。c? 。未校正系統(tǒng)頻域特性測試的模擬電路圖見圖 3315。 二 .串聯(lián)遲后校正系統(tǒng)的頻域特性的測試 運行程序同《 2.未校正系統(tǒng)的頻域特性的測試》。同時這是本學(xué)期自控最后一次實驗,通過這一系列的實驗,對我的動手能力和掌握好書本知識都有很好的幫助。 串聯(lián)遲后校正系統(tǒng)頻域特性測試的模擬電路圖 三 .實驗步驟: 運行、觀察、記錄,在校正后系統(tǒng)模擬電路的相頻特性曲線上可測得未校正系統(tǒng)頻域特性,記錄穿越頻率,相位裕度。 ( 2)構(gòu)造模擬電路,如圖所示。 ????? 超 前 校 正 網(wǎng) 絡(luò) 傳 遞 函 數(shù) 為 : 0 .0 3 1 S1 0 .1 5 5 S151)S(GC ???? ( 337) 4. 串聯(lián)超前校正后系統(tǒng)的頻域特性的測試 串聯(lián)超前校正后系統(tǒng)頻域特性測試的模擬電路圖見圖 337。 ~10176。則網(wǎng)絡(luò) 的最大 超前相位角必須 為: ??????????? 429195039。 ( 2)構(gòu)造模擬電路:按圖 334 安置短路套及測孔聯(lián)線,在《 1。 2.了解和掌握超前校正 的原理,及 超前校正網(wǎng)絡(luò) 的參數(shù) 的計算。 幅頻特性 相頻特性 幅相特性 改變積分環(huán)節(jié)時間常數(shù)運算模擬單元 A3 的反饋電容 C1=1u, T=( C2=1u),K=25( R=4K) , (C1 減?。é螠p?。?)。 T=( C2=1u), K=25( R=4K) , (C1 減?。é螠p?。?)。 Ti=1( C1=2u), T=( C2=1u)( R 減?。é螠p小))??牲c擊界面下方的“頻率特性”選擇框中的任意一項進行切換,將顯示被測系統(tǒng)的 開環(huán) 對數(shù)幅頻、相頻特性曲線(伯德圖)和幅相曲線(奈奎斯特圖)。 三 實驗步驟 及數(shù)據(jù) : ( 1)將數(shù) /模轉(zhuǎn)換器( B2)輸出 OUT2 作為被測系統(tǒng)的輸入。 ( 325) 本實驗以第 節(jié)〈二階閉環(huán)系統(tǒng)頻率特性曲線〉為例,得: ω c = γ =176。 二.實驗內(nèi)容及步驟 本實驗用于觀察和分析二階開環(huán)系統(tǒng)的頻率特性曲線。 R1=50KΩ 、 R2=50KΩ( K=1) 未改變參數(shù)時 R1=50K, R2=50K, C=1uF 幅頻特性 相頻特性 幅相特性 改變慣性環(huán)節(jié)開環(huán)增益 A6 的輸入電阻 R1=100KΩ , R2=50K
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