【正文】 培訓(xùn) 84 最小測(cè)量單位為 最小測(cè)量單位為 UCL= CL= LCL=0 UCL= CL= LCL=0 UCL= CL= LCL= UCL= CL= LCL= Xbar R 常規(guī)控制圖的種類 ? 連續(xù)型變量控制圖（計(jì)量值控制圖） ? 均值 極差圖 ? 均值 標(biāo)準(zhǔn)差圖 ? 中位數(shù) 極差圖 ? 單值 移動(dòng)極差圖 ? 離散型變量控制圖（計(jì)數(shù)值控制圖） ? 不合格品數(shù)控制圖 ? 不合格品率控制圖 ? 不合格數(shù)控制圖 ? 單位產(chǎn)品不合格數(shù)控制圖 SPC及品質(zhì)工具方法培訓(xùn) 85 常規(guī)計(jì)量值控制圖控制線計(jì)算公式 SPC及品質(zhì)工具方法培訓(xùn) 86 控制圖名稱 控制限計(jì)算公式 備注 圖： ； R圖： 樣本量 n≤10 圖： ； s圖： 樣本量 n＞ 10 圖： ； R圖： X 圖： ； MR圖： X?~ MRX?RX? RAXCLCXCLRAXUCLXXX22?????RDCLCRCLRDUCLRRR34???sAXCLCXCLsAXXXX33??????X sBCLCsCLsBUCLsss34???RDCLCRRDRRR34???RAmXRAXXRAmXRAXXXX232~~232~~~~~~~~?????????RXCLCXCLRXUCLXXX?????????MRMRMRRCLRUCL 常規(guī)計(jì)數(shù)值控制圖控制限計(jì)算公式 SPC及品質(zhì)工具方法培訓(xùn) 87 控制圖名稱 控制限公式 備注 不合格品率圖 （ p圖） 不合格品數(shù)圖 （ np圖） 要求樣本容量 n一致 單位產(chǎn)品 不合格數(shù)圖 （ u圖） 不合格數(shù)圖 （ c圖） ? ?? ?npppLCLpCLnpppUCLppp???????1313? ?? ?ppnpnLCLpnCLppnpnUCLnpnpnp???????1313nuuLCLuCLnuuUCLuuu33?????ccLCLcCLccUC Lccc33????? 要求樣本容量 n一致 SPC及品質(zhì)工具方法培訓(xùn) 88 均值 極差圖（ X barR）控制圖的步驟 A 收集數(shù)據(jù)； 選擇子組大小、頻率和組數(shù) a. 子組大小。當(dāng)證明過程已處于穩(wěn)定狀態(tài)（或?qū)^程已經(jīng)進(jìn)），子組的間隔可適當(dāng)增加。 ，說(shuō)明該點(diǎn)處于失控狀態(tài)；可能的原因： 計(jì)算或描點(diǎn)錯(cuò)誤； 過程特性的分布寬度較大； 測(cè)量系統(tǒng)發(fā)生變化； 測(cè)量系統(tǒng)分辨力不足。這也是異常，是好的異常。注意不要過分地解釋數(shù)據(jù)，因?yàn)槠胀ㄔ蛞灿锌赡茉斐蛇^程存在特殊原因的假象（如普通原因造成點(diǎn)超出控制限的概率是 ％）。 重新計(jì)算極差圖的控制限 在 進(jìn)行初次過程研究或重新評(píng)定過程能力時(shí)，失控的原因已被識(shí)別出來(lái)并加以消除。 除去點(diǎn) XR SPC及品質(zhì)工具方法培訓(xùn) 94 均值 極差圖（ X barR）控制圖的步驟（續(xù)） 分析均值圖上的點(diǎn)當(dāng)極差圖受控時(shí)，認(rèn)為過程的分布寬度是穩(wěn)定的。 b. 點(diǎn)在控制限內(nèi)，點(diǎn)呈非隨機(jī)性排列：連續(xù)點(diǎn)位于中心線的一側(cè)，或點(diǎn)上升或下降。 均值 圖判穩(wěn)原則：一般地，控制圖上的點(diǎn)大約有 2/3落地控制限中間的1/3區(qū)域內(nèi)，大約有 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域，大約有 1/150的點(diǎn)的控制限之外（即有約 ％的點(diǎn)在控制限內(nèi)）。重新計(jì)算過程均值和均值圖控制限。本例中： 控制 限是與子組容量有關(guān)。 2? dR??newRnewRnewRDLCLRDUCLdR342???? ????XXXLCLCLUCL????RRRLCLCLUC LnewXnewXXRAXLCLRAXUCLXCL22?????SPC及品質(zhì)工具方法培訓(xùn) 99 均值 極差圖（ X barR）控制圖的步驟（續(xù)） 有關(guān) “ 受控＂的最后概念 在 生產(chǎn)過程中永遠(yuǎn)無(wú)法達(dá)到完美的控制狀態(tài)。 評(píng)價(jià)過程能力 對(duì)過程的性能進(jìn)行持續(xù)改進(jìn)。如果子組容量恒定或它們變化不超過 177。分組間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量相矛盾。 25%的樣本容量范圍，找出樣本容量超出該范圍有所有子組，重新計(jì)算其控制限（ n為特殊子組的樣本量，點(diǎn)與點(diǎn)之間只有 n的變化）： 在 控制圖上描繪受影響的子組新的上、下控制限，作為識(shí)為特殊原因的依據(jù)。 Jan 22, n=804, Feb 2, n=542, Feb 5, n=1721, Feb 10, n=2306, Feb 17, n=392, , ?LCLL ?? , LCLUC , ?LCLL ?? , LCLUC L 0041.,0199. 點(diǎn)超出控制限 p SPC及品質(zhì)工具方法培訓(xùn) 105 樣本量（ n） 不合格品數(shù)（ np） 不合格品率（ p） 日期 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 12 15 19 13 9 26 18 14 17 18 16 24 11 31 16 10 16 17 20 15 8 13 12 17 May 6 7 8 11 12 13 14 15 18 19 20 21 22 26 27 28 29 Jun 1 2 3 4 5 8 9 500 18 10 UCL= CL= LCL= 點(diǎn)超出控制限 p SPC及品質(zhì)工具方法培訓(xùn) 106 不合格品率控制圖（ p圖）的步驟（續(xù)） 過程控制用控制圖解釋 目的 ：找出過程失控的證據(jù)，并采取相應(yīng)的措施。 SPC及品質(zhì)工具方法培訓(xùn) 108 不合格品率控制圖（ p圖）的步驟（續(xù)） 過程控制用控制圖解釋 分析數(shù)據(jù)，找出不穩(wěn)定的證據(jù) a. 超出控制限的點(diǎn)鏈 c. 明顯的非隨機(jī)圖形 點(diǎn) 到過程均值的距離：僅存在普通原因的變差， 較大 時(shí)，大約有 2/3的點(diǎn)在C區(qū)，有 1/3的點(diǎn)在 B區(qū)，有 1/20的點(diǎn)在 A區(qū)。 ● 過程能力的初步估計(jì)值，應(yīng)使用歷史數(shù)據(jù)，但應(yīng)剔除存在特殊原因的數(shù)據(jù)。 ● 對(duì)過程進(jìn)行改變時(shí)，應(yīng)小心地監(jiān)視控制圖。 下列任一情況都表明過程變化或開始有變化的趨勢(shì)： ●連續(xù) 7點(diǎn)位于均值的一側(cè) ●連續(xù) 7點(diǎn)上升或下降 出現(xiàn)高于均值的長(zhǎng)鏈或連續(xù)上升的點(diǎn)，通常表明存在下列情況： ●過程性能已惡化，而且可能還在惡化； ●評(píng)價(jià)系統(tǒng)發(fā)生變化 出現(xiàn)低于均值的長(zhǎng)鏈或下降的點(diǎn)，通常表明存在下列情況： ●過程性能已必變（應(yīng)分析原因，納入操作規(guī)范）； ●評(píng)價(jià)系統(tǒng)發(fā)生變化 當(dāng) 很?。ㄐ∮?5）時(shí)，出現(xiàn)低于均值的鏈的可能性增加，因此，以鏈長(zhǎng)為 8點(diǎn)或更多的點(diǎn)來(lái)作為不合格品率降低的標(biāo)志。 ● 過程能力的初步估計(jì)值，應(yīng)使用歷史數(shù)據(jù)，但應(yīng)剔除存在特殊原因的數(shù)據(jù)。 如果 C區(qū)的點(diǎn)明顯多于 2/3（對(duì)個(gè)子組，如果有 90%的點(diǎn)位于 C區(qū)），則意味著： ● 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤 ● 過程或取樣方法存在問題（每個(gè)子組的數(shù)據(jù)來(lái)自兩個(gè)或兩個(gè)以上的總體）； ● 數(shù)據(jù)被編輯過（明顯偏離均值的數(shù)據(jù)被剔除） 如果 C區(qū)的點(diǎn)大大少于 2/3（對(duì)個(gè)子組， C區(qū)的點(diǎn)少于 40%），則意味著： ● 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤 ● 過程或取樣方法存在問題（每個(gè)子組的數(shù)據(jù)來(lái)自兩個(gè)或兩個(gè)以上的總體）； 如果數(shù)據(jù)來(lái)自不同的總體（存在幾個(gè)過程流，應(yīng)對(duì)其分別識(shí)別、跟蹤） pnSPC及品質(zhì)工具方法培訓(xùn) 114 不合格品率控制圖（ p圖）的步驟（續(xù)） 過程控制用控制圖解釋 分析數(shù)據(jù)，找出不穩(wěn)定的證據(jù) 尋找并糾正特殊原因 重新計(jì)算控制限 樣本量（ n） 不合格品數(shù)（ np） 不合格品率（ p） 日期 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 12 15 19 13 9 26 18 14 17 18 16 24 11 31 16 10 16 17 20 15 8 13 12 17 May 6 7 8 11 12 13 14 15 18 19 20 21 22 26 27 28 29 Jun 1 2 3 4 5 8 9 500 18 10 UCLnew= CLnew= LCLnew= p SPC及品質(zhì)工具方法培訓(xùn) 115 不合格品率控制圖（ p圖）的步驟（續(xù)完） 過程能力解釋對(duì)計(jì)數(shù)型控制圖，過程能力是過程無(wú)特殊原因（即過程處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)）時(shí)的平均不合格品率。過程處于統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定狀態(tài)，還應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)查和改進(jìn)。 評(píng)價(jià)過程能 提高過程能力，降低平均不合格品率 集中 解決影響不合格品率的普通原因，通常要求采取管理措施。 如果 C區(qū)的點(diǎn)明顯多于 2/3（對(duì)個(gè)子組，如果有 90%的點(diǎn)位于 C區(qū)），則意味著： ● 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤 ● 過程或取樣方法存在問題（每個(gè)子組的數(shù)據(jù)來(lái)自兩個(gè)或兩個(gè)以上的總體）； ● 數(shù)據(jù)被編輯過（明顯偏離均值的數(shù)據(jù)被剔除） 如果 C區(qū)的點(diǎn)大大少于 2/3（對(duì)個(gè)子組， C區(qū)的點(diǎn)少于 40%），則意味著： ● 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤 ● 過程或取樣方法存在問題（每個(gè)子組的數(shù)據(jù)來(lái)自兩個(gè)或兩個(gè)以上的總體）； 如果數(shù)據(jù)來(lái)自不同的總體（存在幾個(gè)過程流，應(yīng)對(duì)其分別識(shí)別、跟蹤 ） pnSPC及品質(zhì)工具方法培訓(xùn) 110 不合格品率控制圖（ p圖）的步驟（續(xù)） 過程控制用控制圖解釋 分析數(shù)據(jù)，找出不穩(wěn)定的證據(jù) 尋找并糾正特殊原因 重新計(jì)算控制限 樣本量（ n） 不合格品數(shù)（ np） 不合格品率（ p） 日期 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 500 12 15 19 13 9 26 18 14 17 18 16 24 11