【正文】 限或描點計算錯或描錯。 b 應及時分析問題，例如：出現(xiàn)一個超出控制限的點就立即開 始分析過程原因。 A2R 。 34 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點 341 超出控制限的點： a 一點超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多： a1 控制限或描點時描錯 a2 過程已更改，或是在當時的那一點（可能是一件獨立的 事件）或是一種趨勢的一部分。 b 一般情況 ， 各點與 X的距離：大約 2/3的描點應落在控制限的 中間 1/3的區(qū)域內 ， 大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域； 1/20的 點應落在控制限較近之處 （ 位于外 1/3的區(qū)域 ） 。 注：如果存在幾個過程流，應分別識別和追蹤。 4 過程能力分析 ? 進行過程能力分析 ,須滿足以下條件下方可： ? ? Ppk 過程性能指數(shù)：是指考慮過程有特殊原因引起的偏差時，樣本數(shù)據(jù)的過程性能。制程輸出特性的單個測量值構成近似服從正態(tài)分布； ? b 應及時分析問題，例如：出現(xiàn)一個超出控制限的點就立即開 始分析過程原因。 c3 數(shù)據(jù)已經過編輯 (極差和均值相差太遠的幾個子組更改刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點落在離 R很近之處（對于 25子組， 如 果有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應對下列情況的一 種或更多進行調查： d1 控制限或描點計算錯描錯 。 a1 過程均值已改變 a2 測量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸到 鏈的開始點，分析時應考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間。而是排除受已知的特殊原因影響的點。 b 由于出現(xiàn)特殊原因而從 R 圖中去掉的子組，也應從 X圖中去掉。 注： 如果存在幾個過程流，應分別識別和追蹤。 c2 過程或取樣方法被分層，每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多 個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（如：零件來自幾組軸中，抽樣時，每個子組包含每根軸上的零件來測取數(shù)據(jù)）。 注 2： 標注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸 到鏈的開始點，分析時應考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時間 。 a2 測量系統(tǒng)的改變 （ 如新的檢驗人或新的量具 )。 注 1： R 圖和 X 圖應分別分析，但可進行比較，了解影響過程 的特殊原因。 ? 各控制限畫成紅線。 4 5 21 計算平均極差（ R）及過程均值（ X） 6 R=（ R1+R2+…+R k） / k（ K表示子組數(shù)量） 7 8 X =（ X1+X2+…+X k） / k 9 22 計算控制限 10 計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均 11 值和極差的變化和范圍。 （ 例如：平均值圖上 1個刻度代表 ，則在極差圖上 1個刻度代表 ） 1將均值和極差畫到控制圖上 41 X 圖和 R 圖上的點描好后及時用直線聯(lián)接，瀏覽各點是否 合理，有無很高或很低的點，并檢查計算及畫圖是否正確。 1計算每個子組的均值（ X）和極差 R 對每個子組計算： X=（ X1+X2+…+X n） / n R=XmaxXmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?為子組內的每個測量值。 ? ? 2 子組頻率 ? b 確保檢測設備或量具本身的準確性和精密性。 ＾ 控制圖的選擇方法 確定要制定控制圖的特性 是計量型數(shù)據(jù)嗎？ 否 關心的是不合格品率？ 否 關心的是不合格數(shù)嗎？ 是 樣本容量是否恒定？ 是 使用 np或 p圖 否 使用 p圖 樣本容量是否恒定？ 否 使用 u圖 是 是 使用 c或 u圖 是 性質上是否是均勻或不能按子組取樣 — 例如：化學槽液、批量油漆等？ 否 子組均值是 否能很方便 地計算？ 否 使用中 位數(shù)圖 是 使用單值圖XMR 是 接上頁 子組容量是否大于或等于 9？ 是 否 是否能方便地計算每個子組的 S值？ 使用 X— R圖 是 否 使用 X— R圖 使用 X— s圖 注：本圖假設測量系統(tǒng)已經過評價并且是適用的。要求樣本量大。 樣本含量相等。缺點是不易發(fā)現(xiàn) 工序分布中心的變化。 適用于產品批量大且生產正 常、穩(wěn)定的工序。從而對這些特殊原因采取適當?shù)拇胧ɑ蚴窍鼈?，或是如果有用，則永久地保留它們） 過程控制 受控 （消除了特殊原因） 時間 范圍 不受控 （存在特殊原因） 過程能力 受控且有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差已減少） 規(guī)范下限 規(guī)范上限