品管七大手法教育訓(xùn)練資料(new)(文件)
【正文】 第三組為 ~ (組距 ) X 組中點(diǎn) = (組下限 + 組上限 )/2 例 :第一組組中值 = (+) / 2 = / 2 = page43/16/2023第 36頁ELECTRONICS LTD. (F):page53/16/2023第 37頁ELECTRONICS .平均值和標(biāo)準(zhǔn)差求法 (直方圖繪成后要計算其平均值 .標(biāo)準(zhǔn)差 .) (F) 例 :數(shù)據(jù) 100個 . U欄 U = (各組中點(diǎn) 組數(shù)中位值 )/組距 U = (XX0) / H 例 :U = ()/ = 5 (第 23組之 U值照上例計算求出 ) UF合計 U*F值記入 UF欄 例 :組數(shù) 1 UF = ( 5 ) * 2 = 10 2. UF = ( 4 ) * 3 = 12 ……. 11 UF = 5*1=5 Σ UF = (10) + (12)+…..+5 = 8page63/16/2023第 38頁ELECTRONICS U2F的合計 U * UF值記入 U2F欄內(nèi) U2F 的合計求出 Σ U2F 例 :組數(shù) 1 U2F = (5) * (10) = 50 2 U2F = (4) * (12) =48 …. 11 U2F = 5 * 5 = 25 Σ U2F = 50 + 48 + ….. + 25 = 4045. 計算平均值 X X = X0 + Σ UF / UF * H X0 = 中位數(shù) (U = 0) = 組數(shù)中位數(shù) + UF合計 / 數(shù)據(jù)數(shù) * 組距 例 :X = + (8)/100* = + (4)/100 = = S S = H * √ {Σ U2F ﹝ (Σ UF)2 / N﹞ }/ Σ F 1 例 : S = * √{404 ﹝(8)2 /100﹞}/ Σ F 1 = * √() /Σ F 1 = * √ = * = : 數(shù)據(jù)值 N 平均值 X 標(biāo)準(zhǔn)差 S page73/16/2023第 39頁ELECTRONICS : (1).中心值刻度 . (2).各組上 ,下限刻度 . 決定縱軸 :與橫軸成正方形 ,做次數(shù)刻度 . ,數(shù)據(jù)數(shù) (n) 另計算記入平均值 ( X ),標(biāo)準(zhǔn)差 (S) :製品名 ,工程名 ,期間 ,作成日期 ,作成者 . 備注 : :一般圖表用紙為 1mm方格紙 . .page83/16/2023第 40頁ELECTRONICS LTD.page9 : 3/16/2023第 41頁ELECTRONICS LTD.page103/16/2023第 42頁ELECTRONICS LTD.page113/16/2023第 43頁ELECTRONICS LTD.*此圖顯示製程能力分散過大 ,應(yīng)對人員的變動與作業(yè)方法加 以追查 .page123/16/2023第 44頁ELECTRONICS LTD.計量值的相關(guān)特性都處于安定的狀態(tài)之下 ,製品工程狀況良好 . 如繪成之直方圖呈雙峰型 ,則製程為兩種不同之分配組合 ,亦即可能混合兩個不同群體 ,如不同機(jī)器製造出來的製品 ,或使用不同的原料 ,或不同的操作員 . 削壁型的直方圖 ,往往是因工程能力不夠 ,但為求產(chǎn)品合乎規(guī)格 ,而實(shí)行全數(shù)檢驗(yàn)所常見的型態(tài) . :係因測定值或換算方法有偏差 ,次數(shù)分配不妥當(dāng)所形成的 . :是規(guī)格值無法取得某一數(shù)值以下所產(chǎn)生之 .如治工具的松動或磨損也會出現(xiàn)拖尾巴的情形 . :是因?yàn)椴煌骄档姆峙浠旌显谝黄鹨?. :有異常原因混入 . ﹕ 3/16/2023第 45頁ELECTRONICS LTD.page1將兩組成對的數(shù)據(jù)分列在 X軸及 Y軸 ,並用點(diǎn)來表示其分佈型態(tài) ,以觀察這兩組數(shù)據(jù)的相關(guān)性為何所繪製出來的圖稱之 . 一般說來 ,我們會針對下列三類數(shù)據(jù) ,觀察他們的相關(guān)性 舉例來說 ,工作環(huán)境的照明度或噪音對生產(chǎn)力是否有影響 ,可作數(shù)據(jù)收集 ,並繪製出其關(guān)係圖後 ,即可將合理的照明度訂定出來 ,或許對生產(chǎn)力的提昇能有所助益 : 30組 ,並作記錄 ,並計算組距 ,縱軸為果 ,將各組數(shù)據(jù)標(biāo)示在座標(biāo)上 :如繪圖者 ,繪圖日期等(六） .散布圖 (Scatter Diagram) : 3/16/2023第 46頁ELECTRONICS LTD.page2 :某國中舉行國三學(xué)生跳高及跳遠(yuǎn)的測驗(yàn) :記錄成績?nèi)缦?:(共 30組 )3/16/2023第 47頁ELECTRONICS LTD.page2 :(1)正相關(guān) :X增加 ,Y也增加 ,兩組數(shù)據(jù)相關(guān)性強(qiáng)(2)弱正相關(guān) :X增加 ,Y也跟著增加 ,但增加的趨勢並不像正相關(guān)那麼明顯 ,表示除了X之外 ,還有其他因素影響著 Y(3)負(fù)相關(guān) :X增加 ,Y減少(4)弱負(fù)相關(guān) :X增加 ,Y雖然減少 ,但並不是非常明顯 ,表示除了 X之外 ,還有其他因素影響著 Y(5)無相關(guān) :由圖形可知 ,散佈圖點(diǎn)的分布雜亂 ,毫無相關(guān)性(6)曲線相關(guān) :如圖形所示 ,X增大 ,Y也增大 ,X增大到某個程度後 ,Y反而減少 ,此相關(guān)性稱為曲線相關(guān)3/16/2023第 48頁ELECTRONICS LTD.17(七
電大資料相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1