第七章統(tǒng)計質量控制的基本原理和常用工具(文件)
【正文】 二項分布隨機變量。 ??????3013100100 )()()3013(ddddCXP)()()42023()42030()13()30()3013(?????????????????? FFXP 第二節(jié) 統(tǒng)計過程控制的常用工具 ? 統(tǒng)計過程控制 (Statistical Process Control) ，簡稱 SPC，是企業(yè)提高質量管理水平的有效工具。 一、檢查表 ? 檢查表 （ Data－ Collection Form）又叫 調查表 、 核對 表、統(tǒng)計分析表 ，是用來收集資料和數據，對事實進行粗略整理和分析的統(tǒng)計表。 ? 分層的目的 在于把雜亂無章和錯綜復雜的資料或意見 歸類匯總，使之更清楚地反映客觀現實。 ? 例如，某產品加工時經常出現缺陷。 三、排列圖 ? 排列圖 又叫 帕累托圖 （ Pareto Diagram） 或 ABC分類法 。 （ 2）確定問題分類的項目。 （ 6）畫圖。 ? 因果圖 由 質量問題 和 影響因素 兩部分組成。 （ 2）記錄觀測值與其名稱、取樣方法、取樣日期、 測定方法、測定儀器、觀測值、環(huán)境條件等。 解 ： 過程如下： （ 1）分析對象：質量特性值 CO和 CO2 含量的關系。 （ 4）計算相關系數。 計算回歸直線的標準偏差 s： s = = 計算控制界限（選用 2倍標準偏差）： 控制上限 yU= a+2s+bx = 控制下限 yL= a2s+bx = 在散布圖上畫出上、下控制界限見圖 7－ 7。 各長方形的底邊相等，為觀測值區(qū)間，長方形的高為 觀測值落入相應區(qū)間的頻數。 ? 繪圖步驟一般如下： （ 1）收集 n個觀測值（ n≥50） （ 2）找出觀測值中的最大值 XL ，最小值 XS 。首先確定第一組下組界，然后 依次加入組距 h,即可得到各組組界。 例 10 加工某種軸，直徑要求為 ?85177。取大約的分組數 k=7。 ? 波動圖為直角坐標系中一條波動曲線。 作業(yè) P220 3 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。在圖上可標出規(guī)范界限。 直方圖見圖 7－ 8。 100根軸的直徑測 量值從略。 （ 6） 作頻數表 。 （ 4）確定各組組距 h = (xL – xS)/k 。常見 的直方圖有：對稱型分布、偏向型分布、雙峰型分布、 鋸齒型分布、平頂型分布、孤島型分布分布等。 六、直方圖 ? 直方圖 適用于分析觀測值分布的狀態(tài)，以便對總體的分布特征進行推斷。查相關系數表得： 因 ∣ ∣ ，故判定變量 x與 y在 ?= 水平上存在較顯著的負相關關系。 （ 3）建立直角坐標系，把數據（ x、 y）分別標在坐標 系上，見圖 7－ 6。 （ 4）當散布圖上出現明顯偏離其余數據的點時，應 查明原因，以便決定是否刪除或校正。 ? 圖 7－ 5是因果圖的一個例子。 ? 例子，見 P213排列圖（圖 7－ 4）。（ 4）收集數據。 排列圖 由兩個縱坐標、 一個橫坐標、幾個順序排列的直方和一條累計百分率 曲線所組成。 因此，采用 P211表 7－ 2所示的 二因素綜合 分層法 。 ? 分層的一般方法如下 ： （ 1）按操作者分層； （ 2）按設備分層； （ 3）按原材料分層； （ 4）按方法分層； （ 5）按時間分層； （ 6）按環(huán)境分層； （ 7）其他。 檢查表的常見形式如表 7－ 1所示。 ? SPC是一系列工具的集合，包括發(fā)現質量缺陷、尋 找質量波動的原因、監(jiān)視過程的波動狀況以及對異 常波動及時報警的一系列方法。所以， 100件產品中一等品 件數介于 13和 30之間的概率 : 因為本例中 EX=np＝ 20， DX＝ npq＝ 16即 ?＝ 4。 ??Up 例 8 假設一大批產品的一等品率為 20％。 ?????Lx 39。 因 ＝ 得 所以 為使 值下降到 ，可以提高袋重的控制標準，將重量分布中心移到 ＝ ，但 值將上升到 ；也可以將重量波動的標準差控制在 的水平上。??39。設新的分 布中心應提高到 ?‘ 。 所求不合格品率 為圖 71中陰影部分的面積， 由于， 故 重量不足不合格品率達 %。為了維護消費者利益，重量規(guī)格下限定為 273克。這就是眾所周知的“ 3 ?”原理。 ? 正態(tài)分布隨機變量 X的 數學期望 和 方差 分別為： ? 將標準正態(tài)分布的密度函數記為 ，分布函數記為 即 ? 標準正態(tài)分布的密度函數值和分布函數值有表可查。 ? 當樣本容量 n較大，且 及
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