spc基礎(chǔ)知識-教師手冊(文件)
【正文】 程標準偏差來評價過程能力。 1≤ Cpk＜ ,說明過程能力可以，但需改善。 421 對于單邊容差，計算： Z=(USLX) / σ 或 Z=(XLSL) / σ （選擇合適的一個） 注：式中的 SL=規(guī)范界限， X=測量 的過程均值， σ? =估計的過程標準偏差。 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點 超出控制限的點 a 出現(xiàn)一個或多個點超出任何控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要 證據(jù)，應(yīng)分析。 過程控制分析 分析控制圖的目的在于識別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數(shù)為 6 的子組， 6個“同樣的”測量結(jié)果是可能成立的。 21 計算平均極差（ R）及過程均值（ X） R=（ R1+R2+? +Rk） / k（ K 表示子組數(shù)量） X =（ X1+X2+? +Xk） / k 22 計算控制限 計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均 值和極差的變化和范圍。 （ 例如：平均值圖上 1個刻度代表 英寸，則在極差圖上 1 個刻度代表 英寸） 1將均值和極 差畫到控制圖上 51 X 圖和 R 圖上的點描好后及時用直線聯(lián)接，瀏覽各點是否 合理，有無很高或很低的點，并檢查計算及畫圖是否正確。 12 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) （見下圖） 烤紙“溫度” XR 圖記錄單位： 組立 濾紙材質(zhì)： 機油格 規(guī)范溫度： 170175癱 機器名稱： 烤爐 = 均值 = UCL= +A 2 R= LCL= A 2 R=173 UCL= +A2 = 175 LCL= +A2 = 170 = 均值 R = UCL=D 4 = LCL=D 3 = 0編號 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29日期 / 時間9/68:009:009/69:0010:009/610:11:009/611:0012:009/613:3014:309/614:3015:309/615:3016:309/78:009:009/79:0010:009/710:0011:009/711:0012:009/713:3014:309/715:3016:309/810:3011:309/813:3014:309/814:3015:309/815:3016:309/118:009:009/119:0010:009/1110:0011:009/1111:0012:009/1113:3014:309/128:009:009/1213:3014:309/1214:3015:309/1215:3016:309/1216:3017:30138:009:009/139:0010:00讀數(shù) 1 174 175 175 173 171 172 173 176 171 172 174 176 173
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