spc基礎(chǔ)知識(shí)-教師手冊(參考版)
2024-08-26 17:14本頁面
【正文】 1≤ Cpk＜ ,說明過程能力可以，但需改善。 421 對于單邊容差，計(jì)算： Z=(USLX) / σ 或 Z=(XLSL) / σ （選擇合適的一個(gè)） 注：式中的 SL=規(guī)范界限， X=測量 的過程均值， σ? =估計(jì)的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差。 41 計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ σ = R/d2 R 是子組極差的平均值， d2 是隨樣本容量變化的常數(shù) 注：只有過程的極差和均值兩者都處于受控狀態(tài)，則可用估計(jì) 的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差來評價(jià)過程能力。 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 超出控制限的點(diǎn) a 出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何控制限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要 證據(jù)，應(yīng)分析。 注 1： R 圖和 X 圖應(yīng)分別分析，但可進(jìn)行比較，了解影響過程 的特殊原因。 過程控制分析 分析控制圖的目的在于識(shí)別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。 各控制限畫成虛線。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個(gè)樣本數(shù)為 6 的子組， 6個(gè)“同樣的”測量結(jié)果是可能成立的。 計(jì)算公式： UCLx=X+ A2R UCLR=D4R LCLx=X A2R LCLR=D3R 接上頁 注：式中 A2,D3,D4 為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。 21 計(jì)算平均極差（ R）及過程均值（ X） R=（ R1+R2+? +Rk） / k（ K 表示子組數(shù)量） X =（ X1+X2+? +Xk） / k 22 計(jì)算控制限 計(jì)算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時(shí)子組的均 值和極差的變化和范圍。 注：對于還沒有計(jì)算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“初始研究”字樣。 （ 例如：平均值圖上 1個(gè)刻度代表 英寸，則在極差圖上 1 個(gè)刻度代表 英寸） 1將均值和極 差畫到控制圖上 51 X 圖和 R 圖上的點(diǎn)描好后及時(shí)用直線聯(lián)接，瀏覽各點(diǎn)是否 合理，有無很高或很低的點(diǎn)，并檢查計(jì)算及畫圖是否正確。 42 刻度選擇 ： 對于 X 圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 倍，對于 R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 倍。 12 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) （見下圖） 烤紙“溫度” XR 圖記錄單位： 組立 濾紙材質(zhì)： 機(jī)油格 規(guī)范溫度： 170175癱 機(jī)器名稱： 烤爐 = 均值 = UCL= +A 2 R= LCL= A 2 R=173 UCL= +A2 = 175 LCL= +A2 = 170 = 均值 R = UCL=D 4 = LCL=D 3 = 0編號 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29日期 / 時(shí)間9/68:009:009/69:001
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