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表面分析技術-wenkub

2023-04-02 02:52:28 本頁面
　

【正文】 cope STM) (Atom Force Microscope AFM) 表面電子態(tài)分析: (Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy UPS (Electron Energy Loss Spectroscopy EELS X (AngleResolved Xray Phtoelectron Spectroscopy ARXPS (Scanning Tunnelling Microscope STM) (Atom Force Microscope AFM) 表面分析技術和儀器簡介 ()(≤l0 4 Pa) (UHV ≤10 7 Pa) () ( XPSAESUPS AESSIMS XPSAESISSSIMS ) 基本上性能完善的表面分析儀器至少由 6部分構成： ( ) () ( ) ( ) X射線光電子譜 (XPS) 儀器結(jié)構 XPS XX( XPS )X () PC 表面分析 電子能譜儀 (AUGER/XPS) Auger/Xray induced Photoelectron Spectroscopy Auger XPS (ESCA) (electron spectroscopy for chemical analysis) XPS (Chemical Shift) 樣品處理 X Y
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