【正文】 ompany Rev 測(cè)量系統(tǒng)分析 23 產(chǎn)品公差 LSL USL %Tolerance是什么意思 ? %Tolerance = 20% %Tolerance = 50% %Tolerance = 100% Gage引起的標(biāo)準(zhǔn)差與 產(chǎn)品公差相同 Gage引起的標(biāo)準(zhǔn)差對(duì)比 產(chǎn)品公差為 50% Gage引起的標(biāo)準(zhǔn)差對(duì)比 產(chǎn)品公差為 20% ? %Tolerance 說明 Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 測(cè)量系統(tǒng)分析 24 PercentP a r t t o P a r tR e p r o dR e p e a tG a g e R R1 0 05 00% C o n t r i b u t i o n% ? S t u d y ? V a r% T o l e r a n c eSample Range0 . 1 00 . 0 50 . 0 0_R = 0 . 0 3 8 3U C L = 0 . 1 2 5 2L C L = 01 2 3Sample Mean1 . 0 00 . 7 50 . 5 0__X = 0 . 8 0 7 5U C L = 0 . 8 7 9 6L C L = 0 . 7 3 5 41 2 3何 前1 09876543211 . 0 00 . 7 50 . 5 0累 訣 磊3211 . 0 00 . 7 50 . 5 0何 前Average1 0 9 8 7 6 5 4 3 2 11 . 0 00 . 7 50 . 5 0累 訣 磊123G a g e n a m e :D a t e o f s t u d y : R e p o r t e d b y :T o l e r a n c e :M i s c :C o m p o n e n t s o f V a r i a t i o nR C h a r t b y 累 訣 磊X b a r C h a r t b y 累 訣 磊螟 瀝 藹 b y 何 前螟 瀝 藹 b y 累 訣 磊 累 訣 磊 * 何 前 I n t e r a c t i o nG a g e R R ( A N O V A ) f o r 螟 瀝 藹“ 整個(gè)分散中 ,Gage RR所占的比重是否足夠小 ? ” Gage RR的 Repeat, 0越好 “ 測(cè)量者反復(fù)測(cè)量是否穩(wěn)定 ?” 注意 !!! 如果數(shù)據(jù)超出 R Chart的界限，應(yīng)調(diào)查其原因后 , 再重新進(jìn)行測(cè)量 “鑒別其他不同產(chǎn)品的能力是否充分 ?” 與 R Chart相反的，脫離管理界限點(diǎn)越多越好 ?GRAPH解析 Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 測(cè)量系統(tǒng)分析 25 PercentP a r t t o P a r tR e p r o dR e p e a tG a g e R R1 0 05 00% C o n t r i b u t i o n% ? S t u d y ? V a r% T o l e r a n c eSample Range0 . 1 00 . 0 50 . 0 0_R = 0 . 0 3 8 3U C L = 0 . 1 2 5 2L C L = 01 2 3Sample Mean1 . 0 00 . 7 50 . 5 0__X = 0 . 8 0 7 5U C L = 0 . 8 7 9 6L C L = 0 . 7 3 5 41 2 3何 前1 09876543211 . 0 00 . 7 50 . 5 0累 訣 磊3211 . 0 00 . 7 50 . 5 0何 前Average1 0 9 8 7 6 5 4 3 2 11 . 0 00 . 7 50 . 5 0累 訣 磊123G a g e n a m e :D a t e o f s t u d y : R e p o r t e d b y :T o l e r a n c e :M i s c :C o m p o n e n t s o f V a r i a t i o nR C h a r t b y 累 訣 磊X b a r C h a r t b y 累 訣 磊螟 瀝 藹 b y 何 前螟 瀝 藹 b y 累 訣 磊 累 訣 磊 * 何 前 I n t e r a c t i o nG a g e R R ( A N O V A ) f o r 螟 瀝 藹“ 所選的樣品是否能正確反映流程的分布 ?” 如果此值均一的話，可認(rèn)為樣本沒有正確反映 流程的實(shí)際分布情況（連線越曲折越好）。 (） [參考 ]前期已經(jīng)確認(rèn)識(shí)別能力、 準(zhǔn)確度及穩(wěn)定性方面沒有問題。 Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 測(cè)量系統(tǒng)分析 14 ? 計(jì)量型數(shù)據(jù) Gage RR ? 注意事項(xiàng) 隨機(jī)順序測(cè)量 盲測(cè)： 測(cè)試 者需在事先不知道測(cè)量具體的樣品條件下進(jìn)行，防止霍索恩效應(yīng)(Hawthorne) 讀取測(cè)量設(shè)備數(shù)值應(yīng)為最接近的數(shù)值 ,可能的話以最小刻度的一半為準(zhǔn) 例如最小刻度為 ,讀取推測(cè)值為 各 測(cè)量 者為了求得測(cè)量值需使用相同的步驟 (包含所有階段 ) 霍索恩效應(yīng)： (Hawthorne effect) 19241926年進(jìn)行照明實(shí)驗(yàn)總結(jié)出， (指工人、學(xué)生等因受到研究人員的關(guān)注而增加產(chǎn)量或提高成績 )， 受人關(guān)注帶來的提高 (或進(jìn)步 )。 如果在測(cè)量設(shè)備測(cè)量范圍內(nèi)的整個(gè)區(qū)域里偏移值呈一定值出現(xiàn)，可以說 線度性良好。 這石頭的重量是多少？ 正確的測(cè)量是正確決策的 基礎(chǔ)資料。 Eisenhart, C.(1963) ? 測(cè)量系統(tǒng) 包括所有為了獲得測(cè)量設(shè)備或測(cè)量方法及其他設(shè)備、軟件、測(cè)量環(huán)境、 測(cè)量程序、測(cè)量者等的集合。 什么是測(cè)量系統(tǒng)分析？ Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 測(cè)量系統(tǒng)分析 3 ? 測(cè)量系統(tǒng)分析的必要性 ? 在通過數(shù)據(jù)進(jìn)行改善時(shí) ， 如果數(shù)據(jù)的可信度 無法保證的話 ， 那么這種分析和改善將沒有 實(shí)質(zhì)性意義 。 測(cè)量系統(tǒng)概要 8Kg 10Kg 7Kg Proprietary to Samsung Electronics Company Rev 測(cè)量系統(tǒng)分析 4 計(jì)量型數(shù)據(jù)測(cè)量系統(tǒng)分析 觀測(cè)到的流程變動(dòng) 實(shí)際流程的變動(dòng) 反復(fù)性 (Repeatability) 偏移 (Bias) 穩(wěn)定性 (Stability) 再現(xiàn)性 (Reproducibility) 測(cè)量系統(tǒng)的變動(dòng) ? 計(jì)量型數(shù)據(jù)變動(dòng)的類型 長期流程變動(dòng) 短期流程變動(dòng) 測(cè)量系統(tǒng)之間 的變動(dòng) 測(cè)量系統(tǒng)內(nèi)部 的變動(dòng) 線性度 (Linearity) 準(zhǔn)確度 (Accuracy) 精確度 (Precision) 測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)具備的