ts16949-spc統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)-wenkub
2023-03-12 14:06:52 本頁面
【正文】 些數(shù)值較接近平均值。這兩組的平均數(shù)都是 70，但 A組的標(biāo)準(zhǔn)差為 ， B組的標(biāo)準(zhǔn)差為 ，說明 A組學(xué)生之間的差距要比B組學(xué)生之間的差距大得多。i=1 XiNNμ總體平均值 總體中數(shù)據(jù)的數(shù)量總體中第i 個(gè)數(shù)據(jù)總體平均值計(jì)算20∑ X∑ 所以人們?cè)谝蟾叩念I(lǐng)域不使用極差來評(píng)判。LSL） / σ查 SIGMA水平表，得到下限缺陷率總?cè)毕萋? = 下限缺陷率 + 上限缺陷率查 SIGMA水平計(jì)算表得到 Z值查 SIGMA水平表，得到上限缺陷率雙邊規(guī)范限的 Z值計(jì)算法USL μσ USLZ規(guī)格上限的工序西格瑪值 平均值標(biāo)準(zhǔn)差37LSL μσ LSLZ規(guī)格下限的工序西格瑪值 平均值標(biāo)準(zhǔn)差38從上述公式可看出 ,工序西格瑪值是平均值與規(guī)格上下限之間包括的標(biāo)準(zhǔn)差的數(shù)量 ,表示如下圖 :LSL USL1σ 1σ 1σμ39通過計(jì)算出的 Z值 ,查正態(tài)分佈表 ,即得到對(duì)應(yīng)的缺陷概率 .練 習(xí)某公司加工了一批零件 ,其規(guī)格為 50+/ mm,某小組測(cè)量了 50 個(gè)部品，計(jì)算出該尺寸的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差 X= ， S= ，分別計(jì)算 ZUSL ， ZLSL ，並求出相應(yīng)的缺陷概率。利用控制限 區(qū) 隔是否 為 非 偶然 性49（三）、控制圖的設(shè)計(jì)原理：位置：中心值形 狀 ：峰 態(tài)分 佈寬 度在產(chǎn)品的生產(chǎn)過程中， 計(jì) 量值的 分佈形式有：50%%%μ +1σ +2σ +3σ1σ2σ3σ正 態(tài)分佈正態(tài)分佈的特徵：中間高，兩邊低，左右對(duì)稱；兩邊伸向無窮遠(yuǎn)。2σ%%μ177。kσ53控制圖原理? 工序處於 穩(wěn)定狀態(tài) 下，其計(jì)量值的分佈大致符合正態(tài)分佈。 54“ ?” 及 “ ?” 風(fēng)險(xiǎn)定義? 根據(jù)控制限作出的判斷也可能產(chǎn)生錯(cuò)誤。 漏 發(fā)警報(bào) ,過 程已 經(jīng)處 於不 穩(wěn)定 狀態(tài) , 但 並 未採取相 應(yīng) 的措施 ,從 而不合格品增加 , 也造成損 失 .? 兩類錯(cuò)誤不能同時(shí)避免，減少第一類錯(cuò)誤 (?)，就會(huì)增加第二類錯(cuò)誤 (?)，反之亦然。2σ%177。2σ%177。? 控制 界限 ：是 從實(shí)際生產(chǎn)出來的產(chǎn)品中抽取一定數(shù)量的產(chǎn) 品 ，並進(jìn)行檢測(cè)，從 所得 觀測(cè)值 中計(jì) 算出 來 者。63X R Chart均值極差圖64由兩部份分組成 : 圖解釋觀察樣本均值的變化R圖解釋觀察誤差的變化X RX組和可以監(jiān)控過程位置和分佈的變化X R65製作 的準(zhǔn)備 X R取得高層對(duì)推行控制圖的認(rèn)可和支持確定需用均值極差圖進(jìn)行控制的過程和特性定義測(cè)量系統(tǒng)消除明顯的過程偏差66製作均值極差圖進(jìn)行測(cè)量系統(tǒng)分析確定子組樣本容量（不少於 100個(gè)數(shù)據(jù)）確定子組數(shù)（最好 210個(gè)子組數(shù)）搜集數(shù)據(jù)67XinX計(jì)算均值X i 為子組內(nèi)每個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)n 為子組容量即 X=( X1+X2+ X3...+ X n ) / n68計(jì)算極差R = X max X minX 最大為子組中最大值X 最小為子組中最小值69XjKX計(jì)算過程平均值K代表子組數(shù)X代表每個(gè)子組的均值70R KRj 計(jì)算極差平均值K 代表子組數(shù)R 代表每個(gè)子組的極差71常數(shù)計(jì)算均值圖控制限UCL = X + A RX 2LCL = X – A RX 2均值圖控制上限均值圖控制下限72計(jì)算極差圖控制限極差圖控制上限極差圖控制下限常數(shù)常數(shù)LCL = D R3RUCL = D RR 473XR圖常數(shù)表*對(duì)于樣本容量小于 7的情況 ,LCLR可能技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值 .在這種情況下沒有下控制限 ,這意味著對(duì)于一個(gè)樣本數(shù)為 6的子組 ,6個(gè) “ 同樣的 ”測(cè)量結(jié)果是可能成立的。Ca通常以規(guī)格範(fàn)圍 T與工序能力 6* δ的比 值 來表示。若其值越小，表示製程平均值越接近規(guī)格中心值，亦即品質(zhì)越接近規(guī)格要求之水準(zhǔn)（集中趨勢(shì)，與有關(guān)），值越大，表示製程平均值愈偏離規(guī)格中心值，所造成的不良率將愈大） _xM= T/2M有必要時(shí) .盡可能改為 A級(jí)C:檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn) .D: 105Cpk制程能力指數(shù)等級(jí)評(píng)定后 處 置原則（ Cpk等級(jí)之處置）Ａ級(jí)：制程能力足夠Ｂ級(jí)：制程能力尚可，應(yīng)再努力Ｃ級(jí)：制程應(yīng)加以改善 106Meanings of Cpk Measures Cpk 量測(cè)之意義量測(cè)之意義Cpk = negative numberCpk = zeroCpk = between 0 and 1Cpk = 1Cpk 1107Cp與 Cpk所代表的合格品率Cpk108CPK形象比喻Cpk如同開車過小橋 Cp好壞 (固有的品質(zhì)特性 ) Ca好壞TIME 109統(tǒng)計(jì)過程控制Statistical Process ControlSPC謝謝大家Thank不準(zhǔn)確 x
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