spc統(tǒng)計(jì)制程管制--yangrungen(1)-wenkub
2023-03-11 14:41:07 本頁面
【正文】 共同原因與特殊原因之變異 ? 共同原因：製程中變異因素存在，製程不受影響， 在管制狀態(tài)下，其產(chǎn)品之特性有固定的 分配。β risk) 管制界限 ?值 177。4σ 平均值移動(dòng) ? 1?值 177。4σ % % 14 著作權(quán)科建所有，重製必究 共同原因與特殊原因之對(duì)策 （局部面） ? 必須消除產(chǎn)生變異的特殊原因，否則影響很大。 (1) 管制圖 CL＝ ＝ 50 UCL＝ ＋ A2 ＝ 50＋ () ()＝ LCL＝ － A2 ＝ 50－ () ()＝ (2) R管制圖： CL＝ ＝ UCL＝ D4 ＝ () ()＝ LCL＝ D3 ＝ (0) ()＝ 0 XXRR22 著作權(quán)科建所有，重製必究 – R繪圖步驟 X 23 著作權(quán)科建所有，重製必究 0 5 10 460 480 500 520 540 管制圖 Ｒ管制圖 UCL () CL (50) UCLR() LCL () CLR() LCLR(0) – R管制圖 X24 著作權(quán)科建所有，重製必究 p 管制圖 (不良率 ) (1) 組樣本大小 n 相等時(shí)： CL＝ UCL＝ ＋ 3 LCL＝ － 3 (2) n不等，且相差小於 20%時(shí)： CL＝ UCL＝ ＋ 3 LCL＝ － 3 p )/np(1p －p － n)/p(1p －－25 著作權(quán)科建所有，重製必究 p 管制圖 (不良率 ) (3) n不等，且相差大於 20%時(shí)： CL＝ UCL＝ ＋ 3 LCL＝ － 3 )/n i(1 pp ? )/ i(1p26 著作權(quán)科建所有，重製必究 p 管制圖 (不良率 ) 某工廠製造外銷產(chǎn)品，每 2小時(shí)抽取 100件來檢查，將檢查所得之不良品 數(shù)據(jù)，列於下表，利用此項(xiàng)數(shù)據(jù)，繪製不良率 (p)管制圖，控制其品質(zhì)。 3. 點(diǎn)子之分佈呈隨機(jī)狀態(tài) ， 無任何規(guī)則可尋 。 2. 在管制界限附近無點(diǎn)子 。 32 著作權(quán)科建所有，重製必究 33 著作權(quán)科建所有，重製必究 A、管制圖的判讀法 管制圖之不正常型態(tài)之鑑別是根據(jù)或然率之理論(又稱小機(jī)率理論 )而加以判定的，出現(xiàn)下述之一項(xiàng)者，即為不正常之型態(tài)，應(yīng)調(diào)查可能原因。 4. 6 點(diǎn)以遞增或遞減的趨勢分佈在同一側(cè)。 8. 15 點(diǎn)分佈於同側(cè) ， 從中心線起算 1 Sigma 的範(fàn)圍 (兩側(cè) ) 計(jì)量值管制圖判讀 35 著作權(quán)科建所有，重製必究 36 著作權(quán)科建所有，重製必究 37 著作權(quán)科建所有，重製必究 計(jì)數(shù)值管制圖判讀 1. 1 點(diǎn)超出從中心線起算 3 個(gè) Sigma 。 38 著作權(quán)科建所有，重製必究 類別 項(xiàng)目 中心線 管制上限 管制下限 計(jì) 量 值 管 制 圖 平均值與全距管制圖 ( － R Chart ) 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 ( － σ Chart) 中位值與全距管制圖 ( － R Chart) 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖 (X－Rm Chart) 計(jì) 數(shù) 值 管 制 圖 不良率管制圖 (p chart) 不良數(shù)管制圖 (pn chart) 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (c chart) 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 (u chart) XX~X~XRR RAX 2? RAX 2?RD4 RD3 kXX ?? S1? S1? kSS ??SB4 SB3 RAmX 23~ ? AmX 23~ ?RD4 RD3 mRE2? mRE2?m m4 m3?? ndPn ppp )1(3 ?? n ppp )1(3 ?C k ddPn ???)( )1(3 pnpPn ?? )1(3 pnpPn ??CC 3? CC 3?U nUU 3 nUU 339 著作權(quán)科建所有，重製必究 管制圖應(yīng)用之困難 ，不勝管制 (可改用製程特性管制 )。 。 40 著作權(quán)科建所有，重製必究 管制圖能解決之問題 ：
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