【正文】 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 % % % % % % % % 2σ 1σ X 3σ 1σ 3σ 2σ SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 c. 中央極限定理 ： 不論母群體是否正態(tài)分布 ， 但在其中抽取 n個樣品的平均數而組成的群體 ， 則此群體非常接近正態(tài)分布 。 連續(xù)型隨機變量 ：以特性分類、計算具有相同特性的 個數，是為間斷性數據。 特殊原因： （ 機遇性原因 Special Cause) 制程中變異因素不在統(tǒng)計的管制狀態(tài)下 ， 其產品特性沒有固定 的分布 。 SPC應用技術 主講：王鐵力 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 課程大綱 第一部分： SPC技術概述 第二部分： SPC相關統(tǒng)計學原理與概念 第三部分：管制圖的原理 、 制作及圖形分析 第四部分：制程能力分析 第五部分： SPC應用實務 第六部分：測量系統(tǒng)分析 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 第一部分： SPC技術概述 ： ◆ 操作員的品質管制 ◆ 領班的品質管制 ◆ 檢驗員的品質管制 ◆ 統(tǒng)計品質管制 ◆ 全面品管 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 可能出問題的地方 一定會出問題 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 不可能出問題的 地方也可能出問題 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 品質是“習慣”出來的 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 不要認為一個小小的缺點沒關系 ， 反正不會影響使用 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 不要認為最便宜的原材料就會給企業(yè)帶來最低的成本 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 不要認為百分百全檢 ， 品質就一定很好了 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 SPC的定義及歷程 SPC： Statistical Process Control 統(tǒng)計制程控制 /統(tǒng)計過程管制 利用統(tǒng)計學的原理對制造業(yè)制程中的品質進行管制 ， 以達到第一次就把品質做好 。 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 普通原因變差的曲線圖： 預測 范圍 時間 目標值線 特殊原因變差的曲線圖： 預測 范圍 時間 目標值線 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 ◆過程控制的概念 : 計信號，從而對這些特殊原因采取適 當的措施 (或是消除或是保留 )； 普通原因；提高過程能力，使產品符 合規(guī)范。 離散型隨機變量 是以計產品的件數或點數的表示方法 。 ： 如果某一個量的變化受到許多隨機因素的影響 ， 這種影響的總后果是各個因素的疊加 ， 而且這些因素中沒有任何一個起主導作用 ，那么這個量就是一個服從正態(tài)分布的隨機變量 。 越大越集中 ， 越小越分散 。 2） 制程角度：不合格率最高 、 成本最高 、 安規(guī)問題 。 分為： 1） 解析管制圖： 根據實際量測出來的數據 ， 經過計算出管制圖上下限之后畫出 。 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES ： 1） 數據收集： 確定子組大小 、 頻率 、 小組數的大小 ： 選擇子組應使得一個子組內各樣本之間的出現變差的 機會小 。 案例 1圖 SPC 應 用 技 術 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES XR圖制作步驟及注意事項總結： 確定控制對象 。 計算 R圖控制線并作圖 。 進行日常管理 。此種狀態(tài)分兩種：一是越變越大；二是越變越少。 此種狀況反應品質朝較好方向發(fā)展，所以只要注意監(jiān)控，并把相關重要參數記錄下來，以利于做標準化。所以平均數管制圖是波動越小越好，全距管制圖是越往下越好，表示每組數據中變異越少。 SPC 應 用 技 術 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 統(tǒng)計過程診斷（ SPD） Statistical Process Diagnosis SPD診斷案例 SPC 應 用 技 術 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES （二） Xbar σ 平均數、標準差管制圖 ： 當每組樣本數較大時 (n10)時 ， 全距 R容易受個別值影響較大 ， 而標準差相對較小 ， 所以 σ 成為過程變異性更有效的指標 ， 此時一般用 Xbar S(σ )代替 Xbar R.。 ② 計算管制中心線及管制上 、 下限 中心線：直按取各組中位數的平均值 Xm=Xmcl= 中位數管制圖標準差： Xmσ = XmUCL=XmCL+3Xmσ XmLCL=XmCL3Xmσ 3圖形分析 ：同 XbarR 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 分別計算出它們的中位數 （如遇偶數個數據，建議統(tǒng)一取前面或后面一個數據）序號 檢驗時間 NO1 NO2 NO3 NO4 NO5 XB a r Xm1 200 1/ 10 /1 PM 0 5: 08 :5 8 10 7 10. 05 8 10. 03 10. 01 102 200 1/ 10 /2 PM 0 5: 09 :2 0 10. 02 10. 01 10 10. 03 8 10. 01 10. 013 200 1/ 10 /3 PM 0 5: 09 :3 3 8 6 10. 02 5 10. 02 9 84 200 1/ 10 /4 PM 0 5: 09 :5 1 10 10. 05 10 6 5 9 105 200 1/ 10 /5 PM 0 5: 10 :0 3 6 10. 02 8 10 10. 07 10. 01 106 200 1/ 10 /6 PM 0 5: 10 :1 6 10. 09 10. 06 10. 1 10. 12 10. 02 10. 08 10. 067 200 1/ 10 /7 PM 0 5: 14 :2 1 10 10 10. 09 8 7 9 108 200 1/ 10 /8 PM 0 5: 10 :5 0 10. 05 10. 02 10. 02 10. 04 10. 09 10. 04 10. 049 200 1/ 10 /9 PM 0 4: 34 :4 0 10 10 2 10 200 1/ 10 /1 0 P M 04 :3 5: 58 10 10 4 11 200 1/ 10 /1 1 P M 04 :3 5: 27 10 10. 1 10. 1 10. 00 1012 200 1/ 10 /1 2 P M 04 :3 5: 37 10 10. 2 10 8 1013 200 1/ 10 /1 3 P M 04 :3 6: 33 10 10. 02 10. 03 10. 01 10 10. 01 10. 0114 200 1/ 10 /1 4 P M 04 :3 6: 44 8 7 10 10. 02 10. 01 10. 00 1015 200 1/ 10 /1 5 P M 05 :0 2: 15 10 10. 01 10. 01 10 9 10. 00 10 SPC 應 用 技 術 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 （四） XRm（個別值與移動全距管制圖） ： 以不分組的方式描點作管制圖，要求每次或每組的樣本數為 1。 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES ： ①移動全距的計算： Ri=|XiX（ Im） | ； 當 Im〈 1時 ， Ri=|SLXi| 移動位置值 m：指組距 Ri要用當前一個數據減去前面第 n個位置的數據。 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 某電子廠對每批芯片研磨制程進行管制 , 其厚度規(guī)格化為 3 + 0 。 SPC 應 用 技 術 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 一般應用在如下場合： 單個產品在某一工序的不良率 單個產品在某幾工序的不良率 多個產品在某同一工序的不良率 多個產品在某同幾工序的不良率 單個客戶某一產品的不良率 單個客戶部分產品的不良率 單個客戶全部產品的不良率 多個客戶同一產品的不良率 關鍵原料各供貨商所供產品的不良率 關鍵原料部分供貨商所供產品的不良率 SPC 應 用 技 術 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 同一產品在不同部門或生產線的不良率 同一部門或生產線生產不同產品的不良率 不同班次所生產產品不良率 某些班次所生產產品不良率 不同檢驗人員所檢驗的不良率 某些檢驗人員所檢驗的不良率 不同時期限的不良率 不同機臺的生產的不良率 等等 SPC 應 用 技 術 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES ： ①計算管制中心線 CL=Pbar=不良數之和 /檢驗數之和 ②計算管制上、下線 a. 各組檢驗數相同，有兩種算法： 第一種（原理法）： UCL=Pbar+3σ LCL=Pbar3σ 第二種（經驗法）： 注：當 LCL計算出來曾負數時，應改為 0。 〈例 6〉 Happy: SPC 應 用 技 術