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2023-03-08 21:45:51 本頁面
【正文】 S P C . 由兩部份分組成 : 圖解釋 觀察樣本均值的變化 R圖解釋 觀察誤差的變化 X R X 組合可以 監(jiān)控過程位置和分布的變化 X R S P C . 日期 8/5 9/5 10/5 …… 1 2 3 4 和 X R UCL CL LCL 均值 極差 UCL CL LCL S P C . 制作 的準(zhǔn)備 X R 取得高層對推行控制圖的認(rèn)可和支持 確定需用均值極差圖進(jìn)行控制的過程和特性 定義測量系統(tǒng) 消除明顯的過程偏差 S P C . 制作均值極差圖 進(jìn)行測量系統(tǒng)分析 確定子組樣本容量（不少于 100個數(shù)據(jù)） 確定子組數(shù)（最好 210個子組數(shù)） 搜集數(shù)據(jù) S P C . ???????niiy155567...7465X i n X 計算均值 X i 為子組內(nèi)每個測量數(shù)據(jù) n 為子組容量 即 X=( X1+X2+ X3...+ X n ) / n S P C . 計算極差 R = X max X min X 最大為子組中最大值 X 最小為子組中最小值 S P C . ???????niiy155567...7465X j K X 計算過程平均值 K代表子組數(shù) X代表每個子組的均值 S P C . R K ???????niiy155567...7465R j 計算極差平均值 K 代表子組數(shù) R 代表每個子組的極差 S P C . 計算均值圖控制限 UCL = X + A R X 2 常數(shù) 均值圖控制上限 均值圖控制下限 LCL = X A R X 2 S P C . 計算極差圖控制限 極差圖控制上限 極差圖控制下限 常數(shù) 常數(shù) LCL = D R 3 R UCL = D R R 4 S P C . XR圖常數(shù)表 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個負(fù)值。 過程能力 (Process Capability) 是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離，用 Z來表示。 變差（ Variation） 過程的單個輸出之間 不可避免的差別 ；變差的原因可分為兩類：普通原因和特殊原因。 上、下規(guī)格線 控制圖上的一條線，代表客戶所給定的 產(chǎn)品規(guī)格 ，用 USL、 LSL來表示。 2 2 S P C . 名稱 解釋 分布寬度（ Spread） 一個分布中從 最小值到最大值之間的間距 中位數(shù) ?x 將一組測量值從小到大排列后， 中間的值 即為中位數(shù)。 S P C . 變差的例子 – 你的操作有變化 – 機(jī)器有變化 – 你的儀器有變化 – 產(chǎn)品的質(zhì)量特性有變化 S P C . 變差的起源 …… 測量 Measurement 變差 人力 Manpower 環(huán)境 Mothernatured 機(jī)械 Machine 方法 Methods 物料 Material S P C . 管制圖類型 計量型數(shù)據(jù) XR均值和極差圖 用于樣本容量恒定 ,子組數(shù)在 25個 計數(shù)型數(shù)據(jù) P chart不良率管制圖 樣本容量不一定相同 XS均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 用于樣本容量較大的情況 (通常在 10以上 ) nP chart不良數(shù)管制圖 樣本容量定相同 X R中位值極差圖 用在子組的樣本容量小于或等于 10的情況 Cchart缺點(diǎn)數(shù)管制圖 樣本容量相同 XMR單值移動極差圖 用于發(fā)生在測量費(fèi)用很大時 ,或是當(dāng)在任何時刻點(diǎn)的輸出性質(zhì)比較一致時 U chart單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 樣本容量不一定相同 S P C . SPC使用的場合？ 確定要制定控制圖的特性 是計量型數(shù)據(jù)嗎？ 否 關(guān)心的是不合格品率？ 否 關(guān)心的是不合格數(shù)嗎？ 是 樣本容量是否恒定？ 是 使用 np或 p圖 否 使用 p圖 樣本容量是否恒定？ 否 使用 u圖 是 是 使用 c或 u圖 是 性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣 — 例如：化學(xué)槽液、批量油漆等？ 否 子組均值是 否能很方便 地計算？ 否 使用中 位數(shù)圖 是 使用單值圖XMR 是 S P C . 接上頁 子組容量是否大于或等于 9？ 是 否 是否能方便地計算每個子組的 S值？ 使用 X— R圖 是 否 使用 X— R圖 使用 X— s圖 注：本圖假設(shè)測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價并且是適用的。普通原因表現(xiàn)為一個穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。S P C . 統(tǒng)計過程控制 S P C . 質(zhì)量管理發(fā)展歷程 操作人員 1900 工長 1930 獨(dú)立檢驗部 1940 統(tǒng)計技術(shù) 1950 ISO9000 1980 TQM Six sigma S P C . 什么是統(tǒng)計學(xué)？ 《 中國大百科全書 》 :統(tǒng)計 學(xué)是一門社會科學(xué) 《 大英百科全書 》 :統(tǒng)計學(xué)是根據(jù)數(shù)據(jù)進(jìn)行推斷的藝術(shù)和科學(xué) 那到底 何謂統(tǒng)計 ? S P C . “ 數(shù)據(jù) ” 通過“ 計算 ”產(chǎn)出“ 有意義的情報 ”就是統(tǒng)計 . I P O 統(tǒng)計 = 數(shù)據(jù) + 計算 + 有意義的情報 計數(shù)值 計量值 Xbar,% (P,C) S P C . ?目的 : 是用來評估過程穩(wěn)定性 ,并測量或描述 過程變差的特征 。只有過程變差的普通原因存在且不改變時，過程的輸出才可以預(yù)測。 S P C . 我們?yōu)槭裁磳嵤?SPC? 幫我們減少 客戶投訴 報廢率 審查工時
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