【文章內(nèi)容簡介】 ^ σ=S /C4=σ /C4 ^ σ= R/d2 ^ ^ σ= R/d2=σ /d2 上控制限 UCLX=X+A2 R UCLR=D4R UCLX=X+A3 S UCLs=B4 S UCLX=X+A2 R UCLR=D4 R UCLX= X+E2 R UCLMR=D4 R 下控制限 LCLX= XA2 R LCLR=D3 R LCLX=X A3 S LCLs=B3 S LCLX=XA2 R LCL=D3R LCLX=X E2 R LCLMR=D3 R 中心限 CLX=X CLR=R CLX=X CLS=S CLX=X CLR=R CLX=X CLMR= R XRSS P C . C o n v e n t i o n a l F o r m u l a sC o n t r o l C h a r t UCL CL L C LpnpcuCCC*p p p n? ?3 1( ) p p p p n? ?3 1( ) n pn p n p p? ?3 1( ) n p n p p? ?3 1( )c c? 3 c c c? 3uu u n? 3 u u n? 3 3 00. p 0 70. p 0 . 0 5 p計數(shù)型控制圖的計算公式 S P C . X R Chart 均值極差圖 S P C . 由兩部份分組成 : 圖解釋 觀察樣本均值的變化 R圖解釋 觀察誤差的變化 X R X 組合可以 監(jiān)控過程位置和分布的變化 X R S P C . 日期 8/5 9/5 10/5 …… 1 2 3 4 和 X R UCL CL LCL 均值 極差 UCL CL LCL S P C . 制作 的準備 X R 取得高層對推行控制圖的認可和支持 確定需用均值極差圖進行控制的過程和特性 定義測量系統(tǒng) 消除明顯的過程偏差 S P C . 制作均值極差圖 進行測量系統(tǒng)分析 確定子組樣本容量（不少于 100個數(shù)據(jù)） 確定子組數(shù)（最好 210個子組數(shù)） 搜集數(shù)據(jù) S P C . ???????niiy155567...7465X i n X 計算均值 X i 為子組內(nèi)每個測量數(shù)據(jù) n 為子組容量 即 X=( X1+X2+ X3...+ X n ) / n S P C . 計算極差 R = X max X min X 最大為子組中最大值 X 最小為子組中最小值 S P C . ???????niiy155567...7465X j K X 計算過程平均值 K代表子組數(shù) X代表每個子組的均值 S P C . R K ???????niiy155567...7465R j 計算極差平均值 K 代表子組數(shù) R 代表每個子組的極差 S P C . 計算均值圖控制限 UCL = X + A R X 2 常數(shù) 均值圖控制上限 均值圖控制下限 LCL = X A R X 2 S P C . 計算極差圖控制限 極差圖控制上限 極差圖控制下限 常數(shù) 常數(shù) LCL = D R 3 R UCL = D R R 4 S P C . XR圖常數(shù)表 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個負值。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數(shù)為 6的子組， 6個“同樣的”測量結(jié)果是可能成立的。 S P C . 將計算結(jié)果繪于 X R Chart S P C . 注意事項 X 圖，坐標上的刻度值的最大值與最小值 的差應(yīng)至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對于 R圖坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 注：一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的 2倍。（ 例如：平均值圖上 1個刻度代表 ，則在極差圖上 1個刻度代表 ） ，如：設(shè)備故障，新的材料批次等，有利于下一步的過程分析。 S P C . 在適當(dāng)?shù)臅r間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù)，這樣子組才能反映潛在的變化，這些變化原因可能是換班 /操作人員更換 /材料批次不同等原因引起。對正在生產(chǎn)的產(chǎn)品進行監(jiān)測的子組頻率可以是每班 2次，或一小時一次等。 ，變差越有機會出現(xiàn)。一般為 25組，首次使用管制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 S P C . S P C . 課 后 練 習(xí) S P C . 分析控制圖 S P C . Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 超出控制上限 X 圖 S P C . Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 超出控制下限 X 圖 S P C . X 圖上的數(shù)據(jù)點超出上下控制界限的可能原因： 控制界限計算錯誤 描點錯誤 測量系統(tǒng)發(fā)生變化 過程發(fā)生變化 S P C . Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 連續(xù)七點上升 X 圖 S P C . Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 連續(xù)七點下降 X 圖 S P C