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質(zhì)量數(shù)據(jù)及分析、統(tǒng)計(jì)基本方法(20)-wenkub

2023-01-30 15:51:54 本頁(yè)面
 

【正文】 準(zhǔn)差近似的估計(jì)為總體標(biāo)準(zhǔn)差 ? 標(biāo)準(zhǔn)差的意義:一組數(shù)中各單個(gè)值與總體平均數(shù)之間的平均離差,說(shuō)明該組數(shù)的離散程度 5:為什么要應(yīng)用 SPC 在生產(chǎn)過(guò)程中,產(chǎn)品的加工尺寸 /性能的波動(dòng)是不可避免的。它對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量影響較小,在技術(shù)上難以消除,在經(jīng)濟(jì)上也不值得消除。 6: SPC技術(shù)原理 統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制( SPC)是一種借助數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法的過(guò)程控制工具。 SPC正是利用過(guò)程波動(dòng)的統(tǒng)計(jì)規(guī)律性對(duì)過(guò)程進(jìn)行分析控制的。 普通原因 造成變差的一個(gè)原因,它影響被研究過(guò)程輸出的所有單值;在控制圖分析中,它表現(xiàn)為隨機(jī)過(guò)程變差的一部分。 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 第二步:計(jì)算極差 ? R= XmaxXmin== 第三步:設(shè)定組數(shù),計(jì)算組距 ?有上表,設(shè)定組數(shù) k=10,測(cè)量值最小單位為 ?則 組距( h) =R/k=≈ 數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)( n ) 組數(shù)(k)50 以內(nèi) 5~750100 6~10100250 7~12250 以上 10~12確定組數(shù)( k )表 第四步:計(jì)算組邊界和中心值 ? 第一組下限值 =Xmin測(cè)量最小單位的一半 == ? 第二組下限值 =+= ? 第一組中心值 =( +)247。 ? 5:超差型 :質(zhì)量特性分布范圍過(guò)分地偏離公差范圍 ,已明顯看出超差 ,應(yīng)立限采取措施加以糾正 。由于某種因素使上限受到限制時(shí)多出現(xiàn)此型。常常是由于在生產(chǎn)過(guò)程中有某中緩慢的傾向在起作用時(shí)多出現(xiàn)此型,如刀具的磨損,操作者的疲勞等。 直方圖分布狀態(tài)與分析 ? g. 孤島型。另外,測(cè)量方法或測(cè)量用表讀數(shù)有問(wèn)題時(shí)也容易出現(xiàn)此型。 ? 根據(jù)小概率事件可以“忽略”的原則:如果出現(xiàn)超出 μ177。 收集數(shù)據(jù) 選擇子組的容量、頻率和數(shù)量 子組容量 :子組容量足夠大(最好能恒定),并包括幾個(gè)不 合格品。 計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率 ( P) P=np /n n為每組檢驗(yàn)的產(chǎn)品的數(shù)量; np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量。 計(jì)算控制限 計(jì)算過(guò)程平均不合格品率 ( P) P=( n1p1+n2p2+…+ nkpk) / (n1+n2+…+ nk) 式中: n1p1; nkpk 分別為每個(gè)子組內(nèi)的不合格的數(shù)目 n1; nk為每個(gè)子組的檢驗(yàn)總數(shù) 計(jì)算上下控制限( UCL; LCL) UCLp = P + 3 P ( 1– P ) / n LCLp = P – 3 P ( 1– P ) / n P 為平均不良率; n 為樣本容量 注: 從上述公式看出 , 凡是各組容量不一樣 , 控制限隨之 變化 。 B、 分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒(méi)有超出該范圍 的子組。 (初始研究時(shí) , 這些被認(rèn)為是試驗(yàn)控制限 。 過(guò)程惡化。 測(cè)量系統(tǒng)的改變(如新的檢驗(yàn)人或新的量具 過(guò)程性能已惡化 b 低于均值的鏈或下降鏈說(shuō)明存在下列情況之一或全部: 過(guò)程性能已改進(jìn) 測(cè)量系統(tǒng)的改好 注:當(dāng) np 很小時(shí) ( 5以下 ) , 出現(xiàn)低于 P 的鏈的可能性增加 , 因此有必要用長(zhǎng)度為 8點(diǎn)或更多的點(diǎn)的長(zhǎng)鏈作為不合格 品率降低的標(biāo)志 。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過(guò)編輯(明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除) d 如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離均值很近之處(對(duì)于 25 子組,如果只有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域)則應(yīng)對(duì)下列 情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查: 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò) 過(guò)程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè) 不同平均性能的過(guò)程流的測(cè)量 尋找并糾正特殊原因 當(dāng)有任何變差時(shí),應(yīng)立即進(jìn)行分析,以便識(shí)別條件并防止 再發(fā)生,由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的, 希望操作者和檢驗(yàn)員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。 ? 2:能有效分析判斷生產(chǎn)過(guò)程工序質(zhì)量的穩(wěn)定性 ,從而可降低檢驗(yàn)、測(cè)試費(fèi)用; ? 3:可查明設(shè)備和工藝手段的實(shí)際精度,以便作出正確的技術(shù)決定; ? 4:使工序的成本和質(zhì)量成為可預(yù)測(cè)的,并能以較快的速度和準(zhǔn)確性測(cè)量出系統(tǒng)誤差的影響程度; 控制圖類型 計(jì)量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù) P chart 不合格品率控制圖 Xδ均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 nP chart不合格品數(shù)控制圖 X R 中位值極差圖 C chart 缺陷數(shù)控制圖 XMR 單值移動(dòng)極差圖 U chart 單位缺陷數(shù)控制圖 例圖: XR平均值與極差控制圖 控制圖的選擇方法 確定要制定控制圖的特性 是計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎? 否 關(guān)心的是不合格品率? 否 關(guān)心的是不合格數(shù)嗎? 是 樣本容量是否恒定? 是 使用 np或 p圖 否 使用 p圖 樣本容量是否 桓定? 否 使用 u圖 是 是 使用 c或 u圖 是 性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣 — 例如:化學(xué)槽液、批量油漆等? 否 子組均值是 否能很方便 地計(jì)算? 否 使用中 位數(shù)圖 是 使用單值圖XMR 是 接上頁(yè) 子組容量是否大于或等于 9? 是 否 是否能方便地計(jì)算每個(gè)子組的 S值? 使用 X— R圖 是 否 使用 X— R圖 使用 X— s圖 注:本圖假設(shè)測(cè)量系統(tǒng)已經(jīng)過(guò)評(píng)價(jià)并且是適用的。 g. 因果圖:又稱石川圖、要因圖、魚刺圖等,是以結(jié)果為特性,以原因?yàn)橐蛩亍? GB/28282023抽樣計(jì)劃表 10 15 25 40 65 100 150
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