同濟(jì)大學(xué)材料研究方法材料研究方法課后習(xí)題答案-wenkub
2023-07-07 14:05:30 本頁面
【正文】 集器接受，經(jīng)放大器按順序、成比例地放大后，送到顯像管的柵極上，用來同步地調(diào)制顯像管的電子束強(qiáng)度，即顯像管熒光屏上的亮度。Δr’s或Δrs與球差系數(shù)Cs成正比，與孔徑半角的立方成正比，隨著α的增大，分辨本領(lǐng)也急劇地下降。透鏡的分辨本領(lǐng)除了與衍射效應(yīng)有關(guān)以外，還與透鏡的像差有關(guān)（球差）。實(shí)際上，透鏡的分辨本領(lǐng)除了與衍射效應(yīng)有關(guān)以外，還與透鏡的像差有關(guān)（球差）?！?5176。A稱為數(shù)值孔徑。光學(xué)透鏡：d0 =第2章 簡(jiǎn)述現(xiàn)代材料研究的主X射線實(shí)驗(yàn)方法在材料研究中有那些主要應(yīng)用？答：現(xiàn)代材料研究的主X射線實(shí)驗(yàn)方法在材料研究中主要有以下幾種應(yīng)用：（1）X射線物相定性分析：用于確定物質(zhì)中的物相組成 （2）X射線物相定量分析：用于測(cè)定某物相在物質(zhì)中的含量（3）X射線晶體結(jié)構(gòu)分析：用于推斷測(cè)定晶體的結(jié)構(gòu)試推導(dǎo)Bragg方程, 并對(duì)方程中的主要參數(shù)的范圍確定進(jìn)行討論.答：見書第97頁。材料研究方法是如何分類的？如何理解現(xiàn)代研究方法的重要性？答：按研究?jī)x器測(cè)試的信息形式分為圖像分析法和非圖像分析法；按工作原理，前者為顯微術(shù)，后者為衍射法和成分譜分析?！恫牧涎芯糠椒ā氛n后習(xí)題答案第1章材料是如何分類的？材料的結(jié)構(gòu)層次有哪些？答：材料按化學(xué)組成和結(jié)構(gòu)分為：金屬材料、無機(jī)非金屬材料、高分子材料、復(fù)合材料；按性能特征分為：結(jié)構(gòu)材料、功能材料；按用途分為：建筑材料、航空材料、電子材料、半導(dǎo)體材料、生物材料、醫(yī)用材料。作為三大支柱產(chǎn)業(yè)之一的材料是科技創(chuàng)新的重要標(biāo)志，也是現(xiàn)在科學(xué)技術(shù)和社會(huì)發(fā)展的支柱。 X射線衍射試驗(yàn)主要有那些方法, 他們各有哪些應(yīng)用，方法及研究對(duì)象.答：實(shí)驗(yàn)方法所用輻射 樣品 照相法衍射儀法粉末法勞厄法轉(zhuǎn)晶法單色輻射連續(xù)輻射單色輻射多晶或晶體粉末單晶體單晶體樣品轉(zhuǎn)動(dòng)或固定樣品固定樣品轉(zhuǎn)動(dòng)或固定德拜照相機(jī)勞厄相機(jī)轉(zhuǎn)晶回?cái)[照相機(jī)粉末衍射儀單晶或粉末衍射儀 單晶衍射儀最基本的衍射實(shí)驗(yàn)方法有：粉末法，勞厄法和轉(zhuǎn)晶法三種。sinα= 在物方介質(zhì)為空氣的情況下，N)， N透射電子顯微鏡的成像原理是什么，為什么必須小孔徑成像？答：成像原理：質(zhì)厚和衍射襯度。球差范圍內(nèi)距高斯像平面3/4ΔZs處的散射圓斑的半徑最小，只有Rs/4。 所以選擇小孔徑成像。由于供給電子光學(xué)系統(tǒng)使電子束偏向的掃描線圈的電源也就是供給陰極射線顯像管的掃描線圈的電源，此電源發(fā)出的鋸齒波信號(hào)同時(shí)控制兩束電子束作同步掃描。優(yōu)點(diǎn)：樣品制備非常方便，直接觀察大塊試樣 ；景深大；放大倍數(shù)連續(xù)調(diào)節(jié)范圍大；分辨本領(lǐng)比較高； 電子探針X射線顯微分析儀有哪些工作模式，能譜儀和譜儀的特點(diǎn)是什么？答：電子探針X射線顯微分析儀的工作模式有：點(diǎn)線面三種能譜儀的特點(diǎn)：1)所用的Si(Li)探測(cè)器尺寸小，可裝在靠近樣品的區(qū)域：接收X射線的立體角大，X射線利用率高，可達(dá)10000脈沖/s能譜儀在低束流下(1010～1012A)工作，仍能達(dá)到適當(dāng)?shù)挠?jì)數(shù)率，束斑尺寸小，而波譜儀大于1μm3。5)能進(jìn)行低倍X射線掃描成象，得到大視域的元素分布圖。 為什么透射電鏡的樣品要求非常薄，而掃描電鏡無此要求？答：透射電鏡中，電子束穿透樣品成像，而電子束的透射本領(lǐng)不大，這就要求將試樣制成很薄的薄膜樣品。加速電壓為100kV或高于100kV的透射電鏡(或掃描透射電鏡)，只要其分辨本領(lǐng)足夠的高，在適當(dāng)?shù)臈l件下，就可以得到結(jié)構(gòu)像或單原子像。又因?yàn)槟撤N元素的特征X射線強(qiáng)度與該元素在樣品中的濃度成比例，所以只要測(cè)出這種特征X射線的強(qiáng)度，就可計(jì)算出該元素的相對(duì)含量。（3）.可以通過物鏡和中間鏡的密切配合，進(jìn)行選區(qū)電子衍射，使成像區(qū)域和電子衍射區(qū)域統(tǒng)一起來，達(dá)到樣品微區(qū)形貌分析和原位晶體學(xué)性質(zhì)測(cè)定的目的。因?yàn)樵谖镧R適焦的條件下，物平面上同一物點(diǎn)所散射的電子將會(huì)聚于像平面上一點(diǎn)，所以對(duì)應(yīng)于像平面上光闌孔的選擇范圍A′B′，只有樣品上AB微區(qū)以內(nèi)物點(diǎn)的散射波可以穿過光闌孔進(jìn)入中間鏡和投影鏡參與成像，選區(qū)以外的物點(diǎn)如C產(chǎn)生的散射波則全被擋掉。第4章 述差熱分析的原理，并畫出DTA裝置示意圖。 P217 何用外延始點(diǎn)作為DTA曲線的反應(yīng)起始溫度？答：外延始點(diǎn)指峰的起始邊陡峭部分的切線與外延基線的交點(diǎn)。而DSC克服這些不足，通過對(duì)試樣因發(fā)生熱效應(yīng)而發(fā)生的能量變化進(jìn)行及時(shí)的應(yīng)有的補(bǔ)償，保
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