【總結(jié)】1第十四章其它顯微分析方法簡介?本章簡要介紹幾種表面分析儀器和技術(shù):(1)離子探針分析儀(IMA)或二次離子質(zhì)譜儀(SIMS);(2)低能電子衍射(LEED);(3)俄歇電子能譜儀(AES);(4)場離子顯微鏡(FIM)和原子探針(AtomProbe);(5)X射線光電子能譜儀(XPS);
2025-05-06 06:37
【總結(jié)】2022/9/71電子顯微分析技術(shù)2022/9/722022/9/73顯微鏡由兩個(gè)會聚透鏡組成,光路圖如圖所示。物體AB經(jīng)物鏡成放大倒立的實(shí)像A1B1,A1B1位于目鏡的物方焦距的內(nèi)側(cè),經(jīng)目鏡后成放大的虛像A2B2于明視距離處。顯微技術(shù)的相關(guān)概念?放大倍數(shù):M=成像大小/實(shí)物大小SECTION:物
2025-08-16 02:14
【總結(jié)】第六章電子探針顯微分析和俄歇電子能譜分析?電子探針顯微分析儀和俄歇能譜儀,可以對固體直接進(jìn)行微區(qū)微量成分分析,因而廣泛地應(yīng)用于科學(xué)的各個(gè)領(lǐng)域。第一節(jié)電子探針顯微分析↓↓↓入射電子束二次電子背散射電子可見光透射電子特征X射
2025-01-20 09:04
【總結(jié)】掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscopySEM)材化0801孟巖李民王洪志張俊掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscopySEM)1942年第一臺掃描電子
2025-05-01 18:02
【總結(jié)】第11章電子探針顯微分析儀(X射線顯微分析儀)(EPMA)X射線顯微分析儀?1.引言?此章的目的是講述電子探針顯微分析儀器(EPMA,EMA)的工作原理及應(yīng)用。EMA與掃描電鏡(SEM)有很密切的關(guān)系,然而,就當(dāng)初研制的目的來說卻是完全不同的。第一臺商品EMA出現(xiàn)在50年代后期,比掃描電鏡子5年。Raymond
2025-05-12 18:58
【總結(jié)】透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope簡稱TEM)吳志國蘭州大學(xué)等離子體與金屬材料研究所現(xiàn)代材料物理研究方法第十一講2透射電子顯微鏡在形貌分析上的應(yīng)用?基本知識?透射電鏡原理?透射電鏡的結(jié)構(gòu)?電子衍射原理?高分辨透射電鏡?樣品制備
2025-01-04 21:10
【總結(jié)】?掃描電鏡襯度的形成:主要利用樣品表面微區(qū)特征,如形貌、原子序數(shù)、化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)或位向等的差異,在電子束作用下產(chǎn)生不同強(qiáng)度的物理信號,使陰極射線管熒光屏上不同的區(qū)域呈現(xiàn)出不同的亮度,獲得具有一定襯度的圖象。第六節(jié)掃描電鏡襯度像?形貌襯度的形成:二次電子產(chǎn)額強(qiáng)烈依賴于入射束與試樣表面法線間的夾角?。如
2024-12-08 11:08
【總結(jié)】材料電子顯微學(xué)ElectronMicroscopyinMaterials1本課程適用于材料科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)工程、機(jī)械工程等學(xué)科的本科生。本課程講述電子顯微鏡及其在材料科學(xué)中的應(yīng)用,主要包括電子顯微學(xué)的主要原理,電子衍射結(jié)構(gòu)分析,電子衍襯圖象解釋,以及電子顯微分析技術(shù)的最新進(jìn)展。課程簡介2基本
2025-01-01 15:42
【總結(jié)】第二章電子顯微分析一、教學(xué)目的理解掌握電子光學(xué)基礎(chǔ)、電子與固體物質(zhì)的相互作用、襯度理論等電子顯微分析的基本理論,掌握透射電鏡分析、掃描電鏡分析、電子探針分析的應(yīng)用和特點(diǎn),掌握用各種襯度理論解釋電子顯微像,掌握電子顯微分析樣品的制備方法,了解透射電鏡、掃描電鏡、電子探針的結(jié)構(gòu)。二、重點(diǎn)、難點(diǎn)重點(diǎn):電子與物質(zhì)的相互作用、襯度理論、電子探針X
2025-01-08 09:29
【總結(jié)】透射電鏡(TEM)王海波主要內(nèi)容?TEM發(fā)展概述?TEM的結(jié)構(gòu)和成像原理?TEM的樣品制備?TEM的應(yīng)用光學(xué)顯微鏡的極限???sinNh??德國理論光學(xué)家EAbbe于1918年指出限制光鏡分辨率的原理是光的衍射行為,并提出顯微鏡分辨率與照明波長的關(guān)系式:
2025-05-12 12:10
【總結(jié)】透射電子顯微鏡-TEMTransmissionelectronmicroscope內(nèi)容?簡介?結(jié)構(gòu)原理?樣品制備?透射電子顯微像?選區(qū)電子衍射分析TEM簡介?1898年.Thomson發(fā)現(xiàn)電子?1924年deBroglie提出物質(zhì)粒子波動性假說和1927年實(shí)驗(yàn)的證實(shí)。?
2025-05-12 02:49
【總結(jié)】第五章掃描電子顯微術(shù)(SEM)SEM的特點(diǎn)?樣品制備較簡單,甚至可以不作任何處理。并且樣品可以很大,如直徑可達(dá)10cm以上。?能在很大的放大倍數(shù)范圍工作,從幾倍到幾十萬倍,相當(dāng)于從放大鏡到透射電鏡的放大范圍。以致使用者可以首先概觀整個(gè)樣品,然后迅速轉(zhuǎn)換到觀察某些選擇的結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié),這給觀察帶來很大的方便
2025-01-08 03:51
【總結(jié)】掃描電子顯微鏡?引言?掃描電鏡結(jié)構(gòu)原理?掃描電鏡圖象及襯度?掃描電鏡結(jié)果分析示例?掃描電鏡的主要特點(diǎn)返回首頁掃描電子顯微鏡的簡稱為掃描電鏡,英文縮寫為SEM(ScanningElectronMicroscope)。SEM與電子探針(EPMA)
2025-08-04 16:50
【總結(jié)】電子顯微鏡原理班級:微電三甲學(xué)生:4973a057黃昭穎4973a058蘇暐倫指導(dǎo)老師:方信普目錄?電子顯微鏡原理?電子顯微鏡的種類?穿透式電子顯微鏡的原理?穿透式電子顯微鏡成像原理?掃描式電子顯微鏡的原理?掃描式電子顯微鏡的成像原理電子顯微鏡原理電子顯微鏡系
2025-10-02 14:45
【總結(jié)】第四部分其它顯微分析方法主要內(nèi)容?俄歇電子能譜儀(AES)?場離子顯微鏡(FIM)?掃描隧道顯微鏡(STM)?X射線光電子能譜分析(XPS)1俄歇電子能譜儀(AES)?能級躍遷,使空位層的外層電子發(fā)射出去?俄歇電子能量具有特征值?近表面性質(zhì)?能量很低基本特點(diǎn)俄歇
2025-07-25 00:32