過(guò)程能力分析與控制講座-wenkub
2023-05-29 10:04:55 本頁(yè)面
【正文】 加工能力強(qiáng)或弱的區(qū)分關(guān)鍵是統(tǒng)計(jì)特性的分布范圍大小，或集中程度。 過(guò)程處于統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定狀態(tài)； 測(cè)量變差相對(duì)較小 。即： T=規(guī)格上限 TU 規(guī)格下限 TL。但這并不意味著加工精度和技術(shù)水平越高。是通過(guò)對(duì)生產(chǎn)過(guò)程中產(chǎn)品質(zhì)量分布情況的描繪與分析，來(lái)判斷生產(chǎn)過(guò)程保證產(chǎn)品質(zhì)量的能力的一種常用方法。 確定一定量數(shù)據(jù)的分布范圍 (即極差 R) R=XmaxXmin。 h/2.( 247。 2 .并列表。圖中 B為實(shí)際尺寸的分布范圍， T是公差的范圍。 T B （ b） T B （ c） b） B雖在 T范圍內(nèi)，平均值偏離公差中心，有超過(guò)可能，應(yīng)設(shè)法使平均值的偏離量減少。 注： ，不可能絕對(duì)與標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布圖形完全相同；應(yīng)通過(guò)不斷剔除特殊原因和減少普通原因造成的變差，使圖形趨于正態(tài)分布。 ???x —— 規(guī)格中心 Tm與分布中心 不重合時(shí) ● 計(jì)算公式： 絕對(duì)偏移量 ： (圖中曲線 1) 偏移系數(shù) ： 工序能力指數(shù)： 或： 當(dāng) k≥１ ，即 e≥T/2時(shí)， 規(guī)定 Cpk=0 (圖中，曲線 2) ● 不合格品率估計(jì)： ① ②采用“用 Cp和 k值估計(jì)不合格品率” xxTe m ??)(21)(212LULUTTxTTTek?????STkCkC ppk 6)1()1( ????S eTST eTSTC pk 6 2626 ????)]()([1 S xTS xTp LU ???????f（ x） 有偏時(shí)工序能力指數(shù)與不合格品率 e 1 2 e μ TL TU P1 P2 Tm T 案例 3 有偏 Cpk的計(jì)算 測(cè)試一批零件外徑尺寸的平均值 =， S=，規(guī)格要求為 ，試計(jì)算工序能力指數(shù)并估計(jì)不合格品率。 ?????kiikiindp11knnkii??? 1nppppC Up )1(3 ???81 . 0 100 ) 048 . 0 1 ( 048 . 0 3 048 . 0 1 . 0 ? ? ? ? p C 100 ? n 048 . 0 500 4 2 6 5 7 ? ? ? ? ? ? p ● 計(jì)算公式 規(guī)格要求是單位產(chǎn)品平均缺陷 (或疵點(diǎn)數(shù) )上限或不合格品率 很小時(shí)的樣本中不合格品數(shù)上限 CU (1)取 k個(gè)樣本，每個(gè)樣本的樣本容量分別為 n1,n2， …， nk， 每個(gè)樣本的疵點(diǎn)數(shù) (或不 合格品數(shù) )為 C1， C2， …， Ck。 措 施 ?Cp 四 .提高過(guò)程能力指數(shù)的途徑 過(guò)程能力調(diào)查程序 明確調(diào)查目的 簡(jiǎn)化檢查方法，確認(rèn)工序能力適宜時(shí)，進(jìn)行工序控制 工序能力充分 計(jì)算并分析 Cp或 Cpk 作直方圖、趨勢(shì)圖、控制圖、并判定穩(wěn)定性 明確必要性與目標(biāo)、落實(shí)負(fù)責(zé)單位、完成期限、責(zé)任者、方法 按調(diào)查計(jì)劃規(guī)定作業(yè)，記錄數(shù)據(jù)及其背景 充分利用質(zhì)量情報(bào) 選頂定調(diào)查對(duì)象（工序特性值） 檢查工序標(biāo)準(zhǔn)條件 確定測(cè)試與抽樣檢查方法 制定調(diào)查計(jì)劃 收集數(shù)據(jù) 分析數(shù)據(jù) 穩(wěn)定狀態(tài) 不穩(wěn)定狀態(tài) 工序能力分析 追查不穩(wěn)定原因 工序能力過(guò)強(qiáng) 工序能力不足 設(shè)法降低成本 追查原因 修改標(biāo)準(zhǔn) 采取措施 采取有效的管理措施 影響工序能力指數(shù)的三個(gè)變量： STCPK 62 ???產(chǎn)品品質(zhì)規(guī)格的范圍，公差范圍 T； 工序加工分布中心 與公差中心 M 的偏移量 ε 由過(guò)程能力指數(shù)的計(jì)算公式可見(jiàn)：減少中心偏量 ε，或減少標(biāo)準(zhǔn)偏差 S
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