x射線多晶衍射分析技術-wenkub
2023-05-22 01:17:05 本頁面
【正文】 ? 樣品類型：粉末樣品 塊體樣品 膠體樣品 薄膜樣品 環(huán)境不穩(wěn)定樣品等 ? 樣品處理：粉末樣品要求過篩 200目 塊體樣品要求尺寸適當便于測試 其它類型樣品根據(jù)樣品性質(zhì)做適當?shù)奶幚肀阌跍y試，同時保證樣品的不變性 測試條件的選擇 一、根據(jù)樣品的性質(zhì)及表征的需要選擇適當?shù)臏y試條件。面間距為 dHKL的晶面并不一定是晶體中的原子面，而是為了簡化布拉格方程所引入的反射面，我們把這樣的反射面稱為 干涉面 。 但是 X射線的原子面反射和可見光的鏡面反射不同。 ? X射線衍射理論所要解決的中心問題 : 在衍射現(xiàn)象與晶體結構之間建立起定性和定量的關系。 ? 由于這些散射波之間的干涉作用，使得空間某些方向上的波則始終保持相互疊加，于是在這個方向上可以觀測到衍射線，而另一些方向上的波則始終是互相是抵消的，于是就沒有衍射線產(chǎn)生。安全措施有：嚴格遵守安全條例、配帶筆狀劑量儀、避免身體直接暴露在 X射線下、定期進行身體檢查和驗血。 ?電震的危險在高壓儀器的周圍是經(jīng)常地存在的，X射線的陰極端為危險的源泉。陣點坐標為 000， 1/2 1/2 0 ◆ 體心點陣， I 除 8個頂點外，體心上還有一個陣點，因此，每個陣胞含有兩個陣點， 000，1/2 1/2 1/2 ◆ 面心點陣。 ? 規(guī)則外形： 理想環(huán)境中生長的晶體應為凸多邊形。X射線多晶衍射分析技術 福州大學 測試中心 黃清明 Email: 材料：你們最關心的是什么？ 性能：你認為與哪些因素有關？ 結構：有哪些檢測分析技術？ 緒論 第 1章 晶體學基礎 ?晶體特性 ?晶體的結構與空間點陣 ? 均 勻 性： 晶體內(nèi)部各個部分的宏觀性質(zhì)是相同的。 ? 對 稱 性： 晶體的理想外形和晶體內(nèi)部結構都具有特定的對稱性。 F 除 8個頂點外，每個面心上有一個陣點，每個陣胞上有 4個陣點，其坐標分別為 000，1/2 1/2 0， 1/2 0 1/2， 0 1/2 1/2 第 2章 X射線 高速運動的電子與物體碰撞時 ， 發(fā)生能量轉換 ， 電子的運動受阻失去動能 ， 其中一小部分 （ 1％ 左右 ）能量轉變?yōu)?X射線 ， 而絕大部分（ 99％ 左右 ） 能量轉變成熱能使物體溫度升高 。在安裝時可以把陰極端裝在儀器臺面之下或箱子里、屏后等方法加以保證。 第 3 章 X射線衍射的幾何原理 ? 晶體點陣對 X射線的衍射 ? 布拉格定律 本章導言： ? 利用射線研究晶體結構中的各類問題，主要是通過 X射線在晶體中產(chǎn)生的衍射現(xiàn)象。 ? X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象，實質(zhì)上是大量的原子散射波互相干涉的結果。 布拉格定律 ? 布拉格方程的導出 ? 布拉格方程的討論 布拉格方程的導出： 根據(jù)圖示，干涉加強的條件是： 式中： n為整數(shù)，稱為反射級數(shù)； ? 為入射線或反射線與反射面的夾角，稱為掠射角，由于它等于入射線與衍射線夾角的一半，故又稱為半衍射角，把 2? 稱為衍射角。 一束可見光以任意角度投射到鏡面上都可以產(chǎn)生反射， 而原子面對 X射線的反射并不是任意的，只有當 ?、 ?、 d三者之間滿足布拉格方程時才能發(fā)生反射 ，所以把 X射線這種反射稱為 選擇反射 。干涉面的面指數(shù)稱為 干涉指數(shù) 。 二、條件包括：儀器類型、 X射線波長、 儀器附件的選取、光路的設定、測試模式的選擇、 儀器電流電壓的選擇、步長及步時的選擇等。如果判斷圖譜不符合要求即改變條件重新采集。 ): Calculated density (g/cm^3): Volume of cell (
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