spc基礎(chǔ)知識(shí)-教師手冊-wenkub
2022-09-02 17:14:14 本頁面
【正文】 靠的決定之前，只需檢查少量產(chǎn)品，因此可以縮短零件生產(chǎn)和采取措施之間的時(shí)間間隔； 用計(jì)量型數(shù)據(jù)，可以分析一個(gè)過程的性能，可以量化所作的改進(jìn)，即使每個(gè)單值都在規(guī)范界限之內(nèi)。 計(jì)量型數(shù)據(jù)的正態(tài)分布及正態(tài)分布的性質(zhì) 正態(tài)分布 (Normal Distribution) 一種用于計(jì)量型數(shù)據(jù)的、連續(xù)的、對(duì)稱的鐘形頻率分布，它是計(jì)量型數(shù)據(jù)用控制圖的基礎(chǔ)。 特殊原因： （ Special Cause） （通常也叫可查明原因）是指造成不是始終作用于過程的變差的原因，即當(dāng)它們出現(xiàn)時(shí)將造成（整個(gè)）過程的分布改變。 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局 部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。 （ 4） 柯達(dá)公司每個(gè)職工 7 張。 控制圖的重要性 (1) 控制圖是貫徹預(yù)防原則的統(tǒng)計(jì)過程 控制 SPC 理論的重要工具 ,它可以用于直接控制過程 ,是質(zhì)量管理七大手法的核心 . （ 2） 1984 年日本名古屋工業(yè)大學(xué)調(diào)查了 115家日本各行各業(yè)的中小型工廠，結(jié)果發(fā)現(xiàn)平均每家工廠采用 137 張控制圖。 注：這里統(tǒng)計(jì)技術(shù)泛指任何可以應(yīng)用的數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法，以控制圖理論 為主。 SPC 的產(chǎn)生 工業(yè)革命以后， 隨著生產(chǎn)力的進(jìn)一步發(fā)展，大規(guī)模生產(chǎn)的形成，如何控制大批量產(chǎn)品質(zhì)量成為一個(gè)突出問題，單純依靠事后檢驗(yàn)的質(zhì)量控制方法已不能適應(yīng)當(dāng)時(shí)經(jīng)濟(jì)發(fā)展的要求，必須改進(jìn)質(zhì)量管理方式。這個(gè)數(shù)字對(duì)于推行 SPC是有一定的參考意義的。 二、 SPC 的作用 確 保過程持續(xù)穩(wěn)定、可預(yù)測。 《發(fā)動(dòng)機(jī)公司培訓(xùn)教材系列》 江淮汽車股份有限公司發(fā)動(dòng)機(jī)公司 5 三 、 SPC 常用術(shù)語解釋 《發(fā)動(dòng)機(jī)公司培訓(xùn)教材系列》 江淮汽車股份有限公司發(fā)動(dòng)機(jī)公司 6 四 、持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述 a 過程控制系統(tǒng) 有反饋的過程控制系統(tǒng)模型 b 變差的普通原因和特殊原因 普通原因（ Common Cause）是指過程在受控的狀態(tài)下，出現(xiàn)的具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程的變差的原因，它影響被研究過程輸出的所有單值。只有特殊原因被查出且采取措施，否則它們將繼續(xù)不可預(yù)測的影響過程的輸出。當(dāng)一組測量數(shù)據(jù)服從正態(tài)分布時(shí)，有大約 68． 26％的測量值落在平均值處正負(fù)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差的區(qū)間內(nèi)；大約 95． 44％的測量值將落在平均值處正負(fù)兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差的區(qū)間內(nèi)；大約 99． 73％的值將落在平均值處正負(fù)三個(gè)標(biāo)偏差的區(qū)間內(nèi)。這一點(diǎn)對(duì)尋求持續(xù)改進(jìn)來說是很重要的。 11 選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù) 111 子組大?。阂话銥?5 件連續(xù)的產(chǎn)品，僅代表單一刀具 /沖頭 /過程流等。 113 子組數(shù)：子組越多，變差 越有機(jī)會(huì)出現(xiàn)。 42 刻度選擇 ： 對(duì)于 X 圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 倍，對(duì)于 R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 倍。 注：對(duì)于還沒有計(jì)算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“初始研究”字樣。 計(jì)算公式： UCLx=X+ A2R UCLR=D4R LCLx=X A2R LCLR=D3R 接上頁 注：式中 A2,D3,D4 為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。 各控制限畫成虛線。 注 1： R 圖和 X 圖應(yīng)分別分析，但可進(jìn)行比較，了解影響過程 的特殊原因。 41 計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ σ = R/d2 R 是子組極差的平均值， d2 是隨樣本容量變化的常數(shù) 注：只有過程的極差和均值兩者都處于受控狀態(tài)，則可用估計(jì) 的過
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