【正文】 SPC應用技術 主講：王鐵力 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 課程大綱 第一部分： SPC技術概述 第二部分： SPC相關統(tǒng)計學原理與概念 第三部分：管制圖的原理 、 制作及圖形分析 第四部分：制程能力分析 第五部分： SPC應用實務 第六部分：測量系統(tǒng)分析 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 第一部分： SPC技術概述 ： ◆ 操作員的品質(zhì)管制 ◆ 領班的品質(zhì)管制 ◆ 檢驗員的品質(zhì)管制 ◆ 統(tǒng)計品質(zhì)管制 ◆ 全面品管 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 可能出問題的地方 一定會出問題 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 不可能出問題的 地方也可能出問題 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 品質(zhì)是“習慣”出來的 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 不要認為一個小小的缺點沒關系 ， 反正不會影響使用 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 不要認為最便宜的原材料就會給企業(yè)帶來最低的成本 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 不要認為百分百全檢 ， 品質(zhì)就一定很好了 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 SPC的定義及歷程 SPC： Statistical Process Control 統(tǒng)計制程控制 /統(tǒng)計過程管制 利用統(tǒng)計學的原理對制造業(yè)制程中的品質(zhì)進行管制 ， 以達到第一次就把品質(zhì)做好 。 （ 在有大量數(shù)據(jù)產(chǎn)生的地方都可利用 ） SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 a. QC統(tǒng)計方法的工作程序 b. 整理 觀察 判斷 組織協(xié)調(diào) c. d. 歸納 分析 專業(yè)技術 收 集 數(shù) 據(jù) 數(shù)、表 圖形 特征值 統(tǒng) 計 規(guī) 律 主 要 問 題 提 高 質(zhì) 量 SPC 應 用 技 術 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 2. 變差的特殊原因與一般原因 ◆ 變差 : 沒有兩件產(chǎn)品 /特性是完全相同的 ， 任何過程都存在許多引起變差的原因 ， 產(chǎn)品間的差距及產(chǎn)品與標準間的差距總是存在的 ， 這種差異叫 變差 。 ◆ 變差產(chǎn)生的原因 ：普通原因和特殊原因 普通原因： （ 共同原因 /非機遇性原因 Common Cause) 制程中變異因素是在統(tǒng)計的管制狀態(tài)下 ， 其產(chǎn)品特性有固定的分布 。 特殊原因： （ 機遇性原因 Special Cause) 制程中變異因素不在統(tǒng)計的管制狀態(tài)下 ， 其產(chǎn)品特性沒有固定 的分布 。 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 普通原因變差的曲線圖： 預測 范圍 時間 目標值線 特殊原因變差的曲線圖： 預測 范圍 時間 目標值線 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 ◆過程控制的概念 : 計信號，從而對這些特殊原因采取適 當?shù)拇胧?(或是消除或是保留 )； 普通原因；提高過程能力，使產(chǎn)品符 合規(guī)范。 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 ： 就是利用統(tǒng)計的工具，識別企業(yè)生產(chǎn)過程中的變差，從而消除機遇性變差（特殊原因引起），采取系統(tǒng)的管理措施消除變差的普通原因來改進過程的能力。 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 第二部分： SPC相關統(tǒng)計學原理與概念 ： a. 計量值型數(shù)據(jù)： 尺寸、重量、化學成份、電壓等以 物理單位表示，具有連續(xù)性的數(shù)據(jù)。 連續(xù)型隨機變量 ：以特性分類、計算具有相同特性的 個數(shù)，是為間斷性數(shù)據(jù)。 離散型隨機變量 是以計產(chǎn)品的件數(shù)或點數(shù)的表示方法 。 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 ： ：各事件所產(chǎn)生的頻次會趨近于一個客觀機率 ，只要有足夠多的測量值 ， 則測量值會趨向于一個可預測的狀態(tài) ， 這種狀態(tài)就叫分布 。 : 以數(shù)學公式訂定 ， 其分布與平均值呈絕對的對稱且具有常見的鐘型 ， 是實踐中最常見的一種分布 ， 如產(chǎn)品的長度 、 寬度 、 重量 、 高度 、測量的誤差等都近似服從正態(tài)分布 。 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 % % % % % % % % 2σ 1σ X 3σ 1σ 3σ 2σ SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 c. 中央極限定理 ： 不論母群體是否正態(tài)分布 ， 但在其中抽取 n個樣品的平均數(shù)而組成的群體 ， 則此群體非常接近正態(tài)分布 。 ： 如果某一個量的變化受到許多隨機因素的影響 ， 這種影響的總后果是各個因素的疊加 ， 而且這些因素中沒有任何一個起主導作用 ，那么這個量就是一個服從正態(tài)分布的隨機變量 。 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 ： 1). 均值 （ 數(shù)學期望 ） ：平均值 離散型變量均值： 連續(xù)型變量均值： 2).方差 : 3).標準差： 4).全距 ： DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 5).中位數(shù) : M 6).眾數(shù)： M0 7).不良率： P 8).不良數(shù)： NP 9).缺點數(shù)： C 10).單位缺點 (缺點率 )： U 11). 百萬分之不良 ： PPM SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 12).管制上限 (控制上限 ): UCL 13).管制中心線 (控制中心線 )： CL 14).管制下線 (控制下限 )： LCL 15).規(guī)格上限： USL 16).規(guī)格中心線： SL 17).規(guī)格下限： LSL 18).準確度 ： Ca 是一種制程能力指數(shù) ， 表示制程特性中心位置的偏移程度 。 一般不能大于 ， 正常情況小于 ， 理想值為 0。 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 19).精密度 : Cp 表示制程特性的一致性程度 。 越大越集中 ， 越小越分散 。 20)制程能力指數(shù) （ Cpk） ： 直接反映制程能力 ， 值越大越好 。 通常客戶都要求 Cpk在 。 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 ： 1） 品質(zhì)特性：影響產(chǎn)品規(guī)格的因素 （ 生產(chǎn)條件 ） 、 產(chǎn)品屬性分類 、 產(chǎn)品規(guī)格 。 2） 制程角度：不合格率最高 、 成本最高 、 安規(guī)問題 。 3） 檢驗角度：破壞性產(chǎn)品 、 無法于后工程檢驗 、 檢驗成本很高 。 SPC 應 用 技 術 DIVES 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 第三部分：管制圖的原理、制作及圖形分析 XR 平均數(shù)全距 不良率管制圖 Pchart 計量： Xб 平均值標準差 計數(shù)值： 不良數(shù)管制圖 NPchart XRm 個別值移動全距 缺點數(shù) Cchart MoR 中位值 、 全距管制圖 單位缺點數(shù) Uchart (一 ） XbarR平均數(shù)全距管制圖 ： 是 SPC計量值部份最重要 、 最常用的管制圖之一 。 可以使我們很好地了解制程 品質(zhì)的進展狀態(tài) （ 發(fā)展趨勢 ） 。 分為： 1） 解析管制圖： 根據(jù)實際量測出來的數(shù)據(jù) ， 經(jīng)過計算出管制圖上下限之后畫出 。 用途： 主要用來對產(chǎn)品初期品質(zhì)進行測定和監(jiān)控 ， 以了解在現(xiàn)有環(huán)境中品質(zhì)的制程能力 。 2） 制程管制圖： 根據(jù)之前的歷史數(shù)據(jù) ， 也可以根據(jù)經(jīng)驗或相似的各項標準 ， 并以此為依據(jù)作為今后管制圖的管制界限 。 以之前較好或標準的管制界限來衡量近期的品質(zhì)狀況 。 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES ： 1） 數(shù)據(jù)收集： 確定子組大小 、 頻率 、 小組數(shù)的大小 ： 選擇子組應使得一個子組內(nèi)各樣本之間的出現(xiàn)變差的 機會小 。 ： 子組樣本的容量應穩(wěn)定 。 ： 子組間的時間間隔 。 ：包含 100個或更多單值讀數(shù)的 25個或更多子組的數(shù)據(jù) 上海企達企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES SPC 應 用 技 術 2） 將數(shù)據(jù)列表 ， 并計算各組數(shù)據(jù)的平均數(shù)及全距 Xi= Ri=每組中最大 每組中最小值 3） 計算出平均數(shù)和全距的中心線與管制上下線： XCL= RCL= 每組量測數(shù)值總和 每組樣本數(shù) X1+X2+…+X K R1+R2+…