spc-13(已修改)
2025-02-25 21:39 本頁(yè)面
【正文】 計(jì)量值管制圖的製作與解析 XR(平均數(shù) 全距 )管制圖的 製作與解析 一 收集數(shù)據(jù) :選擇管制特性 X,決定樣本大小 n及抽樣間隔 ,樣本組數(shù) k. x 能測(cè)定的產(chǎn)品或製程特性 . 與客戶使用及生產(chǎn)關(guān)係重大的特性 . 對(duì)下工程影響較大的特性 . 經(jīng)常出問題的特性 . 關(guān)鍵製程的特性 . 2. 決定樣本大小 n及抽樣間隔 n約在 25個(gè)之間 ,不宜太大 . 同一組之?dāng)?shù)據(jù)最好在同一生產(chǎn)條件及同一短時(shí)間內(nèi)取樣 . 初期解析之製程最好在較小的間隔連續(xù)取樣 ,管制狀態(tài)下之製程可加長(zhǎng)其間個(gè) . 每組樣本可識(shí)別日期 ,時(shí)間 ,作業(yè)員 ,機(jī)臺(tái) ,原材料或零件批 . 不影響生產(chǎn)及可接受的成本下 . 3. 決定樣本組數(shù) k 足夠的樣本組數(shù)以保證製程的主要變異有機(jī)會(huì)出現(xiàn) . 25組以上的樣本及 100個(gè)以上的數(shù)據(jù)以檢定製程的穩(wěn)定及估計(jì)製程特性的平均數(shù)及標(biāo)準(zhǔn)差 . 二 記錄數(shù)據(jù)及計(jì)算各組平均數(shù) xi , 及全距 Ri , 總平均數(shù) x及 R . 將數(shù)據(jù)記錄於空白的計(jì)量值管制圖上 . 計(jì)算各組平均數(shù) xi 及全距 Ri ,總平均數(shù) x及 R. xi = Σxij / n , Ri = max｛ xij｝ min ｛ xij｝ x = Σxi / k , R = ΣRi / k 三 計(jì)算管制界線 UCLx = X+A2 R UCLR = D4 R CLx = X CLR = R LCLx = XA2 R LCLR = D3 R 四 繪制管制界線及描點(diǎn) 1. 決定管制圖之座標(biāo)尺寸 兩管制圖之座標(biāo)尺寸分開製訂 . 中心線置於從座標(biāo)之中心位置上 . 管制上下界線約置於從座標(biāo)之 2/33/4位置上 . 決定一格的大小及從座標(biāo)之尺寸 . 2. 依管制界線及各組 Xi及 Ri之大小描繪於管制圖 上 18
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