xrd粉末x射線分析方法(已修改)
2025-08-28 01:13 本頁(yè)面
【正文】 粉末 X射線分析方法 ? 定性相分析 ? 定量相分析 ? 晶胞參數(shù)精密測(cè)定 ? 晶粒大小 ? 晶面指數(shù)的確定 試樣的測(cè)定 ? 試樣的預(yù)處理：晶體要細(xì)小，無(wú)擇優(yōu)取向 ? X射線管的選擇；銅靶，鐵靶，鉬靶， ? X射線單色化和背底消除 ? 測(cè)定條件的選擇 X射線定性方法 X射線定量分析方法 晶胞常數(shù)精密測(cè)定 ? 晶體中各周期重復(fù)中的等同代表點(diǎn)叫做結(jié)點(diǎn) ，連接晶體中的各結(jié)點(diǎn)可形成平行六面體型格子 ，叫做點(diǎn)陣或晶胞 。 連接晶胞中相鄰結(jié)點(diǎn)形成的單位平行六面體 ， 稱(chēng)為單位點(diǎn)陣或單位晶胞 ，平行于單胞棱線三個(gè)軸 ， 稱(chēng)為晶軸 ， 單胞的三個(gè)軸長(zhǎng) α .β .γ 稱(chēng)為晶胞參數(shù) 。 晶粒大小的測(cè)定 ? 當(dāng)晶粒度等于 1000 197。， 衍射峰呈尖銳的譜線；小于1000197。 衍射峰逐漸變寬；小于 10 197。時(shí) ， 衍射峰非常彌散與背景不易分開(kāi) 。 Scherrer從理論上推導(dǎo)出晶粒大小與衍射線加寬的關(guān)系如下： ? Kλ ? D=———— ? β cosθ
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