【總結】掃描電子顯微鏡基礎黃銳.ScanningElectronMicroscopeOutline?掃描電鏡?光學顯微鏡與掃描電鏡—OM&SEM?掃描電鏡的特點—FeaturesofSEM?掃描電鏡的原理—MechanismofSEM
2025-05-01 18:11
【總結】第十四章其他顯微分析方法【教學內(nèi)容】【重點掌握內(nèi)容】【教學難點】一.離子探針顯微分析
2025-05-06 06:31
【總結】第7章其他顯微分析技術離子探針分析儀(IMA)(二次離子質(zhì)譜儀(SIMS))俄歇電子能譜儀(AES)X射線光電子譜儀(XPS)掃描隧道顯微鏡(STM)原子力顯微鏡(AFM)場離子顯微鏡(FIM)原子探針(AP)離子探針顯微分析?離子探針儀是利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加速并聚焦成細
2025-01-17 16:21
【總結】1第十四章其它顯微分析方法簡介?本章簡要介紹幾種表面分析儀器和技術:(1)離子探針分析儀(IMA)或二次離子質(zhì)譜儀(SIMS);(2)低能電子衍射(LEED);(3)俄歇電子能譜儀(AES);(4)場離子顯微鏡(FIM)和原子探針(AtomProbe);(5)X射線光電子能譜儀(XPS);
2025-05-06 06:37
【總結】2022/9/71電子顯微分析技術2022/9/722022/9/73顯微鏡由兩個會聚透鏡組成,光路圖如圖所示。物體AB經(jīng)物鏡成放大倒立的實像A1B1,A1B1位于目鏡的物方焦距的內(nèi)側(cè),經(jīng)目鏡后成放大的虛像A2B2于明視距離處。顯微技術的相關概念?放大倍數(shù):M=成像大小/實物大小SECTION:物
2025-08-16 02:14
【總結】第六章電子探針顯微分析和俄歇電子能譜分析?電子探針顯微分析儀和俄歇能譜儀,可以對固體直接進行微區(qū)微量成分分析,因而廣泛地應用于科學的各個領域。第一節(jié)電子探針顯微分析↓↓↓入射電子束二次電子背散射電子可見光透射電子特征X射
2025-01-20 09:04
【總結】掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscopySEM)材化0801孟巖李民王洪志張俊掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscopySEM)1942年第一臺掃描電子
2025-05-01 18:02
【總結】第11章電子探針顯微分析儀(X射線顯微分析儀)(EPMA)X射線顯微分析儀?1.引言?此章的目的是講述電子探針顯微分析儀器(EPMA,EMA)的工作原理及應用。EMA與掃描電鏡(SEM)有很密切的關系,然而,就當初研制的目的來說卻是完全不同的。第一臺商品EMA出現(xiàn)在50年代后期,比掃描電鏡子5年。Raymond
2025-05-12 18:58
【總結】透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope簡稱TEM)吳志國蘭州大學等離子體與金屬材料研究所現(xiàn)代材料物理研究方法第十一講2透射電子顯微鏡在形貌分析上的應用?基本知識?透射電鏡原理?透射電鏡的結構?電子衍射原理?高分辨透射電鏡?樣品制備
2025-01-04 21:10
【總結】?掃描電鏡襯度的形成:主要利用樣品表面微區(qū)特征,如形貌、原子序數(shù)、化學成分、晶體結構或位向等的差異,在電子束作用下產(chǎn)生不同強度的物理信號,使陰極射線管熒光屏上不同的區(qū)域呈現(xiàn)出不同的亮度,獲得具有一定襯度的圖象。第六節(jié)掃描電鏡襯度像?形貌襯度的形成:二次電子產(chǎn)額強烈依賴于入射束與試樣表面法線間的夾角?。如
2024-12-08 11:08
【總結】材料電子顯微學ElectronMicroscopyinMaterials1本課程適用于材料科學、物理學、化學工程、機械工程等學科的本科生。本課程講述電子顯微鏡及其在材料科學中的應用,主要包括電子顯微學的主要原理,電子衍射結構分析,電子衍襯圖象解釋,以及電子顯微分析技術的最新進展。課程簡介2基本
2025-01-01 15:42
【總結】第二章電子顯微分析一、教學目的理解掌握電子光學基礎、電子與固體物質(zhì)的相互作用、襯度理論等電子顯微分析的基本理論,掌握透射電鏡分析、掃描電鏡分析、電子探針分析的應用和特點,掌握用各種襯度理論解釋電子顯微像,掌握電子顯微分析樣品的制備方法,了解透射電鏡、掃描電鏡、電子探針的結構。二、重點、難點重點:電子與物質(zhì)的相互作用、襯度理論、電子探針X
2025-01-08 09:29
【總結】透射電鏡(TEM)王海波主要內(nèi)容?TEM發(fā)展概述?TEM的結構和成像原理?TEM的樣品制備?TEM的應用光學顯微鏡的極限???sinNh??德國理論光學家EAbbe于1918年指出限制光鏡分辨率的原理是光的衍射行為,并提出顯微鏡分辨率與照明波長的關系式:
2025-05-12 12:10
【總結】透射電子顯微鏡-TEMTransmissionelectronmicroscope內(nèi)容?簡介?結構原理?樣品制備?透射電子顯微像?選區(qū)電子衍射分析TEM簡介?1898年.Thomson發(fā)現(xiàn)電子?1924年deBroglie提出物質(zhì)粒子波動性假說和1927年實驗的證實。?
2025-05-12 02:49
【總結】第五章掃描電子顯微術(SEM)SEM的特點?樣品制備較簡單,甚至可以不作任何處理。并且樣品可以很大,如直徑可達10cm以上。?能在很大的放大倍數(shù)范圍工作,從幾倍到幾十萬倍,相當于從放大鏡到透射電鏡的放大范圍。以致使用者可以首先概觀整個樣品,然后迅速轉(zhuǎn)換到觀察某些選擇的結構的細節(jié),這給觀察帶來很大的方便
2025-01-08 03:51