【總結(jié)】《現(xiàn)代測試技術(shù)》第2章測量誤差及其分析測量誤差的基本概念;系統(tǒng)誤差的消除;隨機(jī)誤差的處理;粗大誤差的剔除;測量結(jié)果的估計;測量結(jié)果的表示;微小誤差準(zhǔn)則與對比標(biāo)準(zhǔn)的選取本章主要內(nèi)容測量誤差的幾個名詞術(shù)語1、真值:被測量本身客觀存在的實際值。真值是客觀存在
2025-05-10 11:42
【總結(jié)】第七章透射電子顯微圖像?內(nèi)容提要:?第一節(jié)透射電鏡樣品制備?第二節(jié)質(zhì)厚襯度原理?第三節(jié)衍射襯度原理?第四節(jié)相位襯度第一節(jié)透射電鏡樣品制備?透射電鏡成像時,電子束是透過樣品成像。?根據(jù)樣品的原子序數(shù)大小不同,膜厚一般在50~200nm之間。?透射電鏡樣品按材料
2025-01-17 05:42
【總結(jié)】邵陽學(xué)院機(jī)械與能源工程系第二章機(jī)械測試信號分析本章內(nèi)容:?邵陽學(xué)院機(jī)械與能源工程系第二章機(jī)械測試信號分析與處理信號的分類在介紹信號分類前,先建立信號波形的概念。信號波形:被測信號信號幅度隨時間等的變化歷程稱為信號的波形。信號波形邵陽學(xué)院機(jī)械與能源工程系
2025-08-23 11:08
【總結(jié)】第五章電子探針顯微分析2電子探針顯微分析電子探針(ElectronProbeMicroanalysis-EPMA)的主要功能是進(jìn)行微區(qū)成分分析。它是在電子光學(xué)和X射線光譜學(xué)原理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的一種高效率分析儀器。其原理是:用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面,激發(fā)出樣品元素的特征X射線,分析特征X射線的波長(或能量)可知元素種類;分析特征
2025-04-30 01:47
【總結(jié)】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針分析2?掃描電子顯微鏡(ScanningelectronmicroscopeSEM)是以類似電視攝影顯像的方式,通過細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號來調(diào)制成像的顯微分析技術(shù)。?SEM在60’s商品化,應(yīng)用范圍很廣;SEM成像原理與TEM完全不同,不用電磁透鏡放大成像;新式SEM的
2024-12-31 21:01
【總結(jié)】電子顯微結(jié)構(gòu)分析洛陽理工學(xué)院本章主要內(nèi)容l一、概述l二、電子光學(xué)基礎(chǔ)l三、電子與固體物質(zhì)的相互作用l四、透射電子顯微分析l五、掃描電子顯微分析l六、電子探針X射線顯微分析l七、電子顯微分析的應(yīng)用一、概述l電子顯微分析就是利用聚焦電子束與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的各種物理信號來分析試樣中物質(zhì)的微區(qū)形貌、晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組成等。這中間包括電子掃描電
2025-05-04 07:00
【總結(jié)】第二章信號調(diào)理電路信號調(diào)理電路是測控系統(tǒng)及新型傳感器的重要組成部分,其功能是將傳感器輸出的信號變換成易于被后續(xù)單元處理的信號。信號調(diào)理電路依據(jù)所采用傳感器的類型而形式多樣,完整的調(diào)理電路由具有各種功能的基本單元電路組合構(gòu)成。前置測量電路基本電路1.反相放大器
2025-04-30 05:14
【總結(jié)】2022/2/141電工與電子技術(shù)曹現(xiàn)剛西安科技大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院第二章電路的暫態(tài)分析?電路在一定條件下可以處于穩(wěn)定狀態(tài),但條件發(fā)生變化時電路的狀態(tài)就會發(fā)生變化。并且,任何穩(wěn)定狀態(tài)都是由其它狀態(tài)轉(zhuǎn)換來的。?在實際情況下,狀態(tài)的轉(zhuǎn)變往往不是突變的,而需要一個
2025-01-18 19:20
【總結(jié)】?掃描電鏡襯度的形成:主要利用樣品表面微區(qū)特征,如形貌、原子序數(shù)、化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)或位向等的差異,在電子束作用下產(chǎn)生不同強(qiáng)度的物理信號,使陰極射線管熒光屏上不同的區(qū)域呈現(xiàn)出不同的亮度,獲得具有一定襯度的圖象。第六節(jié)掃描電鏡襯度像?形貌襯度的形成:二次電子產(chǎn)額強(qiáng)烈依賴于入射束與試樣表面法線間的夾角?。如
2024-12-08 11:08
【總結(jié)】第二章導(dǎo)數(shù)與微分主講人:張少強(qiáng)TianjinNormalUniversity計算機(jī)與信息工程學(xué)院一、隱函數(shù)的導(dǎo)數(shù)二、由參數(shù)方程確定的函數(shù)的導(dǎo)數(shù)三、相關(guān)變化率第四節(jié)隱函數(shù)&參數(shù)方程所確定函數(shù)的導(dǎo)數(shù)相關(guān)變化率一、隱函數(shù)的導(dǎo)數(shù)若由方程可確定y是x的函數(shù),由表示
2025-08-01 13:04
【總結(jié)】本部分的主要目的:介紹透射電鏡分析、掃描電鏡分析、表面成分分析及相關(guān)技術(shù)的基本原理,了解透射電鏡樣品制備和分析的基本操作和步驟,掌握掃描電鏡在材料研究中的應(yīng)用技術(shù)。在介紹基本原理的基礎(chǔ)上,側(cè)重分析技術(shù)的應(yīng)用!講課18學(xué)時,實驗:4學(xué)時,考試2學(xué)時。電子顯微分析技術(shù)主要要求:1)掌握透射電鏡分析、
2025-02-21 10:03
【總結(jié)】第11章電子探針顯微分析儀(X射線顯微分析儀)(EPMA)X射線顯微分析儀?1.引言?此章的目的是講述電子探針顯微分析儀器(EPMA,EMA)的工作原理及應(yīng)用。EMA與掃描電鏡(SEM)有很密切的關(guān)系,然而,就當(dāng)初研制的目的來說卻是完全不同的。第一臺商品EMA出現(xiàn)在50年代后期,比掃描電鏡子5年。Raymond
2025-05-12 18:58
【總結(jié)】第7章其他顯微分析技術(shù)離子探針分析儀(IMA)(二次離子質(zhì)譜儀(SIMS))俄歇電子能譜儀(AES)X射線光電子譜儀(XPS)掃描隧道顯微鏡(STM)原子力顯微鏡(AFM)場離子顯微鏡(FIM)原子探針(AP)離子探針顯微分析?離子探針儀是利用電子光學(xué)方法把惰性氣體等初級離子加速并聚焦成細(xì)
2025-01-17 16:21
【總結(jié)】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針分析?掃描電子顯微鏡(ScanningelectronmicroscopeSEM)是以類似電視攝影顯像的方式,通過細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號來調(diào)制成像的顯微分析技術(shù)。?SEM在60’s商品化,應(yīng)用范圍很廣;SEM成像原理與TEM完全不同,不用電磁透鏡放大成像;新式SEM的二次電子分辨率已達(dá)1n
2025-01-02 05:38
【總結(jié)】第十三章電子探針顯微分析【教學(xué)內(nèi)容】【重點掌握內(nèi)容】電子探針儀的分析方法與應(yīng)用【教學(xué)難點】定量分析的基本原理?電子探針X射線顯微分析(簡稱電子探針顯微分析)(ElectronProbeMicro
2025-05-01 18:10