電子顯微鏡第六章x射線顯微分析和俄歇能譜分析(已修改)
2025-02-01 09:04 本頁面
【正文】 第六章 電子探針 顯微分析和俄歇電子能譜分析 ? 電子探針顯微分析儀和俄歇能譜儀 ，可以對(duì)固體直接進(jìn)行微區(qū)微量成分分析 ， 因而廣泛地應(yīng)用于科學(xué)的各個(gè)領(lǐng)域 。 第一節(jié) 電子探針顯微分析 ↓ ↓ ↓ 入射 電 子束 二次 電 子 背散射 電 子 可 見 光 透射 電 子 特征 X射 線 ? 電子探針顯微分析儀是在電子光學(xué)和 X射線光譜原理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的一種 微區(qū)成分分析 的儀器 。 探測的信號(hào)是特征 X射線 。 ? X射線顯微分析儀用來激發(fā) X射線的電子束很細(xì) ， 宛如針狀 ， 因此常常簡稱為電子探針 。 特征 X射線的產(chǎn)生 K L M K? 12 nn EEchhE ??????? 躍遷所輻射出的特征 X射線的波長是個(gè)定值。 只與原子序數(shù)有關(guān)。 波譜分析法 ? 波譜分析法進(jìn)行成分分析的基本原理是根據(jù)莫塞萊定律 )( ???? ZKc式中 ?是從某元素中激發(fā)出的特征 X射線波長 ， c是光速 ， K和 ?
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