【總結(jié)】電子顯微鏡知識(shí)講座顯微鏡的歷史大約在400年前(1590年),由荷蘭科學(xué)家楊森和后來(lái)的博物學(xué)家列文虎克發(fā)明和完善的顯微鏡,向人們揭示了一個(gè)陌生的微觀世界,他們是開辟人類顯微分析的始祖。早期的顯微鏡因?yàn)樵缙诘娘@微鏡以玻璃鏡片做透鏡,使用可見光為光源,所以人們把它稱為光學(xué)顯微鏡?,F(xiàn)在,最好的光學(xué)顯微鏡可以達(dá)到1500倍的放
2025-02-21 09:59
【總結(jié)】實(shí)用電子顯微鏡技術(shù)測(cè)試中心陳義芳2021年緒論電子顯微鏡技術(shù)發(fā)展簡(jiǎn)史第一節(jié)電子顯微鏡發(fā)展簡(jiǎn)史第二節(jié)電子顯微鏡技術(shù)的發(fā)展與應(yīng)用第三節(jié)其他顯微技術(shù)的發(fā)展第一節(jié)電子顯微鏡發(fā)展簡(jiǎn)史電子顯微鏡通常分為透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡兩種類型。利用電子顯微鏡可對(duì)樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)及樣品表面形貌進(jìn)
2025-05-13 21:48
【總結(jié)】掃描電子顯微鏡在陶瓷材料中的應(yīng)用1.前言隨著科學(xué)技術(shù)的不斷進(jìn)步,掃描電子顯微鏡(SEM)的質(zhì)量和裝置有了較大的改進(jìn),分辨率和放大倍數(shù)也越來(lái)越高,功能越來(lái)越齊全。數(shù)字化掃描電子顯微鏡的出現(xiàn),使掃描電子顯微鏡完全由計(jì)算機(jī)控制,操作更加簡(jiǎn)單、方便。掃描電子顯微鏡主要用于各種材料的微觀分析和成分分析,已經(jīng)成為材料科學(xué)、生命科學(xué)和各生產(chǎn)部門質(zhì)量控制中不可缺少的工具之一。掃描電子顯微鏡
2025-07-21 09:21
【總結(jié)】Tescan3型掃描電子顯微鏡操作規(guī)程1、開機(jī):打開N2閥門(1)開啟并確認(rèn)穩(wěn)壓電流:220v。(2)打開電鏡主開關(guān),由OFF位轉(zhuǎn)向ON位,等待計(jì)算機(jī)完成啟動(dòng)。(3)如果進(jìn)行元素分析,則先打開QUANTAX程序,后打開VEGA程序,確認(rèn)用戶、語(yǔ)言、密碼,等待軟件進(jìn)入系統(tǒng)。(4)系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)行硬件、軟件自檢。(5)單擊VEGA中的[PUMP],抽真空開始。(6)待真空
2025-07-07 12:06
【總結(jié)】第三章掃描電子顯微鏡LightvsElectronMicroscope?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡(jiǎn)稱SEM)是繼透射電鏡之后發(fā)展起來(lái)的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學(xué)顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以類似電視攝影的方式,利用細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描時(shí)激發(fā)出來(lái)的各種物理
2025-01-15 04:37
【總結(jié)】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針分析2?掃描電子顯微鏡(ScanningelectronmicroscopeSEM)是以類似電視攝影顯像的方式,通過(guò)細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號(hào)來(lái)調(diào)制成像的顯微分析技術(shù)。?SEM在60’s商品化,應(yīng)用范圍很廣;SEM成像原理與TEM完全不同,不用電磁透鏡放大成像;新式SEM的二次電子
2025-05-04 06:57
【總結(jié)】掃描電子顯微鏡基礎(chǔ)黃銳.ScanningElectronMicroscopeOutline?掃描電鏡?光學(xué)顯微鏡與掃描電鏡—OM&SEM?掃描電鏡的特點(diǎn)—FeaturesofSEM?掃描電鏡的原理—MechanismofSEM
2025-05-01 18:11
【總結(jié)】1上海水產(chǎn)大學(xué)生命學(xué)院周平凡光鏡與電鏡技術(shù)2第二部分:電子顯微鏡技術(shù)(電子顯微鏡和電子顯微術(shù)的總稱)3一、概述:第一章:電子顯微鏡的原理和結(jié)構(gòu)第一節(jié):幾個(gè)常用的基本概念第二節(jié):透射電子顯微鏡第三節(jié):掃描電子顯微鏡第四節(jié):其他類型的電子顯微鏡
2025-04-30 05:23
【總結(jié)】穿透式電子顯微鏡TEM班級(jí):光電二乙組員:劉昌明499L0001施峻富499L0096余家興499L0107指導(dǎo)老師:葉義生日期:2022/12/01目錄?什麼是TEM?TEM歷史簡(jiǎn)介?TEM工作原理?TEM結(jié)構(gòu)系統(tǒng)介紹?TEM分析優(yōu)點(diǎn)及缺點(diǎn)?總結(jié)
2025-07-20 07:00
【總結(jié)】透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscope簡(jiǎn)稱TEM)吳志國(guó)蘭州大學(xué)等離子體與金屬材料研究所現(xiàn)代材料物理研究方法第十一講2透射電子顯微鏡在形貌分析上的應(yīng)用?基本知識(shí)?透射電鏡原理?透射電鏡的結(jié)構(gòu)?電子衍射原理?高分辨透射電鏡?樣品制備
2025-01-04 21:10
【總結(jié)】第10章透射電子顯微鏡第一節(jié)透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與成像原理透射電鏡的結(jié)構(gòu)與原理?透射電子顯微鏡(TransmissionElectronMicroscopy簡(jiǎn)稱TEM)是以波長(zhǎng)極短的電子束作為照明源,用電磁透鏡聚焦成像的一種高分辨本領(lǐng)、高放大倍數(shù)的電子光學(xué)儀器。
2025-02-28 00:59
【總結(jié)】掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscopySEM)材化0801孟巖李民王洪志張俊掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscopySEM)1942年第一臺(tái)掃描電子
2025-05-01 18:02
【總結(jié)】一、簡(jiǎn)介二、基本物理概念三、主要參數(shù)四、工作模式與襯度原理五、主要部件六、應(yīng)用舉例七、電子探針掃描電子顯微鏡與電子探針(ScanningElectronMicroscope簡(jiǎn)稱SEMandElectronProbeMicro-analysis簡(jiǎn)稱EPMA)一、簡(jiǎn)介SEM是利用
2025-05-07 18:13
【總結(jié)】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針分析2?掃描電子顯微鏡(ScanningelectronmicroscopeSEM)是以類似電視攝影顯像的方式,通過(guò)細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號(hào)來(lái)調(diào)制成像的顯微分析技術(shù)。?SEM在60’s商品化,應(yīng)用范圍很廣;SEM成像原理與TEM完全不同,不用電磁透鏡放大成像;新式SEM的
2024-12-31 21:01
【總結(jié)】電子顯微鏡光學(xué)顯微鏡分辨本領(lǐng)L:透鏡D:光闌α:透鏡對(duì)物點(diǎn)張角的一半。?愛瑞(Airy)斑:由于衍射效應(yīng),一個(gè)發(fā)光物點(diǎn)的像是一個(gè)一定尺寸的亮斑和周圍幾個(gè)亮環(huán)。一般將亮環(huán)忽略不計(jì),中央亮斑為物點(diǎn)的像,稱為愛瑞斑。光學(xué)顯微鏡分辨本領(lǐng)?瑞利(Rayleigh)判據(jù):A1和A2逐漸接近時(shí),A
2024-12-30 02:54