【正文】 第一章 實測地質(zhì)剖面的原始地質(zhì)編錄一、目的地質(zhì)剖面又稱地質(zhì)斷面，它是指沿某一個方向，顯示在一定深度內(nèi)地質(zhì)構(gòu)造情況的實際或推斷的切（斷）面。地質(zhì)剖面與地表或某一平面的交線，稱地質(zhì)剖面線。表示地質(zhì)剖面的圖件，稱為地質(zhì)剖面圖。地質(zhì)剖面圖按與地層產(chǎn)狀關(guān)系分為：垂直地層走向的地質(zhì)剖面圖稱為橫剖面圖；平行巖層走向的剖面圖稱為縱剖面圖；呈水平方向展布的剖面圖稱為水平斷面圖或中斷地質(zhì)圖。地質(zhì)剖面圖按表示的內(nèi)容分為地層剖面圖、侵入巖剖面圖、火山巖剖面圖、第四紀地質(zhì)剖面圖、構(gòu)造剖面圖等。地質(zhì)剖面圖按精確程度分為實測剖面圖，圖切剖面圖、隨手剖面圖等。礦區(qū)實測地質(zhì)剖面包括實測地質(zhì)剖面和實測勘查線地質(zhì)剖面。下面著重介紹實測地質(zhì)剖面，簡述勘查線剖面。㈠ 實測地質(zhì)剖面地質(zhì)剖面圖是研究地層、巖體、構(gòu)造及礦產(chǎn)的基礎(chǔ)資料，根據(jù)地質(zhì)剖面的資料劃分填圖單元，是地質(zhì)填圖工作的前提。研究與測制地質(zhì)剖面，是地質(zhì)調(diào)查工作的主要方法之一。實測地質(zhì)剖面一般是在地質(zhì)填圖的初始階段進行。地質(zhì)剖面一般是具綜合性，表示各方面的地質(zhì)內(nèi)容,，有時由于需要，也只表示某一方面地質(zhì)內(nèi)容。礦區(qū)實測勘查線剖面布設(shè)，要照顧到礦區(qū)各地段或相鄰礦區(qū)，剖面線要垂直礦體走向，剖面應與勘查網(wǎng)度一致。礦區(qū)勘查線剖面一般是一系列等間距、互相平行的直線，根據(jù)實際也可布置為放射狀。勘查線的地形剖面用儀器法測制，對剖面上的探礦工程（槽、井、坑、鉆）位置和各種地質(zhì)界線（如礦體界線、礦體頂?shù)捉缇€、重要斷層線等）必須用儀器定位?？辈榫€的端點要埋設(shè)水泥樁，水泥樁要編號，要測量座標（X、Y、Z）。㈡ 實測勘查線剖面勘查線剖面主要反映礦區(qū)礦體與圍巖之間的界線、礦體中各種自然類型礦石和各種工藝品級礦石之間的界線，各種構(gòu)造界線；礦體的數(shù)量、規(guī)模、形態(tài)、分布、產(chǎn)狀、厚度，構(gòu)造對礦體的破壞和控制等?？辈榫€剖面圖上還要標出探礦工程的種類、數(shù)量、位置及樣品位置編號等，從而反映礦區(qū)勘查工程的控制程度、礦體圈定的合理性及各級儲量的合理性。二、實測地質(zhì)剖面的準備工作㈠ 實測地質(zhì)剖面位置的選擇及布置剖面位置選擇1）選擇地層相對較發(fā)育出露較齊全的地段。2）選擇基巖露頭較好的地段。3）選擇構(gòu)造（褶皺、斷裂等）較清楚或較簡單的地段。4）選擇巖石變質(zhì)或蝕變較淺的地段。通過踏勘，若難以選擇到理想的剖面時，對局部或部份不理想地段，可采用平移到附近測制輔助剖面進行補充。剖面布置1）剖面線方向原則上應垂直礦區(qū)地層走向。2）地質(zhì)構(gòu)造復雜區(qū)，剖面線方向可以與地層走向有一定夾角，但夾角一般不得小于60度。3）巖層傾角平緩時，剖面線最好布置在地形陡坡處，相反，剖面線最好布置在地形平緩地段。㈡ 剖面踏勘：剖面線的位置基本選定后，礦區(qū)技術(shù)負責人組織有關(guān)人員沿線進行踏勘。踏勘應了解以下內(nèi)容：露頭出露情況。構(gòu)造種類及形態(tài)。地層組合及巖性特征。侵入巖種類、分布、巖性及巖相變化、接觸關(guān)系等。通過踏勘應解決和統(tǒng)一以下認識。第一，地層單位的出露位置、填圖單元劃分及位置、化石層位等。第二，主要構(gòu)造性質(zhì)、特征等。第三，礦化（體）層或蝕變特征及位置。第四，重要標本、樣品采集位置。第五，確定剖面總體方位、確定需要平移地段，確定工程揭露地段等。㈢ 編制實測地質(zhì)剖面設(shè)計書目的：剖面線位置、總體方向、比例尺、工作量（含地質(zhì)工作量、工程工作量）、完成期限。實測地質(zhì)剖面的比例尺及精度。1）實測地質(zhì)剖面的比例尺是根據(jù)礦區(qū)地質(zhì)填圖比例尺確定的。見下表一般情況實測地質(zhì)剖面比例尺為礦區(qū)填圖比例尺的10－20倍；實測勘查線剖面比例尺是礦區(qū)填圖比例尺的1－2倍。實測地質(zhì)剖面比例尺，可根據(jù)勘查礦種的實際情況，參照下表在設(shè)計中確定。礦區(qū)地質(zhì)圖實測地質(zhì)剖面圖勘查線剖面圖1：250001：2000－1：10001：5000－1：100001：100001：1000－1：5001：2000－1：50001：50001：500－1：2001：2000－1：50001：20001：200－1：1001：1000－1：20001：10001：1001：500－1：10002）精度要求剖面圖分層精度是根據(jù)剖面比例尺大小確定，凡在剖面圖上寬度達1mm的地質(zhì)體均應劃分和表示。對于一些重要的或具特 殊意義的地質(zhì)體，如標志層、化石層、礦化層、火山巖中的沉積巖夾層等，如果其厚度達不到圖上1mm的也應放大為1mm表示，并在文字記錄中說明。礦石、巖石、化石標本及樣品的采集位置、編號、規(guī)格、數(shù)量等。㈣ 工具、材料、表格工具：釘錘、羅盤、放大鏡、測繩或皮尺、鋼卷尺、測斜儀、氣壓計、計算器、照相機、三角板、量角器、圖板、講義夾、圖包等。材料：礦區(qū)地形圖、米厘紙、鉛筆、小刀、橡皮擦、文具盒、照相膠卷、木樁、毛筆、油漆、樣品袋、包裝紙等。表格：1）剖面及坑探工程基點基線記錄表（DZ／T0078－93表A4）2）剖面及坑探工程原始地質(zhì)記錄表（DZ／T0078－93表A5）3）剖面及坑探工程地質(zhì)綜合表（DZ／T0078－93 表A7）4）照相記錄表（DZ／T0078－93表A2）5）地表及坑探工程標本樣品采樣記錄表（DZ／T0078－93表A6）6）礦區(qū)地表及坑探工程樣品登記表（DZ／T0078－93表A19）7）礦區(qū)標本登記表（DZ／T0078－93表A18）8）樣品簽、標本簽9）傾角換算表（自備）三、實測地質(zhì)剖面的測制㈠ 地形剖面測量實測地質(zhì)剖面的地形線測量用半儀器法，由地質(zhì)人員測制。具體操作：以剖面的一個端點為起點，在起點處打入寫有編號的木樁（如A0表示A剖面的0號點），后側(cè)手站于0點處，前測手向剖面前進方向推進，在地形明顯變化處或與0點有一定距離處設(shè)置導線點（A1點）并打入編號的木樁或用油漆編號。前后測手各自在導線的兩端點上（A0和A1）用測繩或皮尺拉緊，丈量該導線斜長。然后，前后兩側(cè)手用羅盤互相照準對方，分別測量導線方位和坡度，兩人測量數(shù)據(jù)相差不大時（一般＜5176。，取平均值。坡度角記錄時，上坡為正號、下坡為負號。隨地形剖面測量進展，在導線布置同時要求作自然剖面圖和導線平面圖。自然剖面圖的地形線，是在上述地形剖面導線圖的基礎(chǔ)上，將導線（直線）改為徒手勾繪、兩導線的交點不能為兩直線拐點，而應用較圓滑的曲線連接。并在每個導線端點上方標注導線方位角，如下圖（自然剖面圖一地形線部份）導線平面圖是根據(jù)導線斜長、方向、坡度，在確定了正北方向的圖紙上，按方位角及計算出的導線平距圖（圖1－2）。如：某剖面導線已知：A0－1斜長22米，方位角20176。，坡度15176。A1－2 斜長30米，方位角30176。，坡度20176。A2－3 斜長26米，方向25176。，坡度30176。根據(jù)公式：平距＝斜長坡度角余弦則：A01 平距＝22米cos15176。＝A1－2 平距＝30米cos20176。＝A2－3 平距＝26米cos30176。＝㈡ 地質(zhì)觀察：對每一條導線上出露的基巖進行仔細觀察，完成以下項目：分層：層是最小的地層、巖石單位，是指巖性、成分、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、生物組合等具明顯的特征，顯著區(qū)別于相鄰的單層或復層。分層就是根據(jù)剖面比例尺要求、礦區(qū)的實際，按野外標志將地層、巖體等劃分為詳略不同的巖性層、巖相帶等，作為地質(zhì)觀察描述和剖面圖反映地層特征的基本組成部分。投影：投影方法為鉛直投影和產(chǎn)狀投影。一般情況是剖面地形線和分層界線位置常用鉛直投影或者直接讀數(shù)法。如圖1－3： 圖中：A2－3導線坡度與地形坡度一致，地形線不需投影，J1與J2界線直接與導線相交，交點在導線上讀數(shù)（5m、）即為界線位置。A34導線地形線形態(tài)變化較大，采用鉛直投影法投影。J31與J41投影點為界線JJ4投影點，D1D2D31點為地形變化點DDD3的投影點，上述投影點在導線上讀數(shù)與相應的鉛直距離為點的實際位置。在導線兩側(cè)測量的產(chǎn)狀和采集的標本、樣品等，應按巖層走向或傾向方向投影到導線上，并在導線相應的地形線上標注。描述1）巖石觀察與描述：按分層位置進行描述，也可定地質(zhì)點描述。描述內(nèi)容一般有以下項目：① 巖石名稱：采用復合定名，如灰色中厚層狀鈣質(zhì)細砂巖。② 巖石特征：顏色（指巖石總體顏色）；結(jié)構(gòu)（指礦物粒度、磨圓度、結(jié)晶程度、嵌布特征等）；構(gòu)造（原生構(gòu)造，塊狀、層狀、板狀、流面狀、流線狀等）；礦物成分（指肉眼或放大鏡能觀察到的礦物，包括主要礦物、次要礦物、付礦物、特征礦物、次生礦物等）；如淺黃灰色中粒塊狀黑云母二長片巖。③ 風化：指巖石風化程度及風化特征。④ 其他特理特征：斷面、光澤、硬度、比重等，例：貝殼狀斷口，珍珠光澤，中等硬度等。2）古生物及遺跡化石：描述其種類、分布、特征等。3）蝕變及礦化；描述蝕變巖石類型、圈定蝕變帶范圍和形態(tài)，觀察蝕變帶內(nèi)礦物變更情況及蝕變帶新礦物相的特征。蝕變帶往往具礦化，不類型的蝕變帶具有不同的礦化特征，觀察蝕變帶與礦化帶或礦體的相互位置、空間關(guān)系及厚度等。4）巖（礦）脈：觀察描述巖（礦）脈的巖（礦）石種類、名稱、特征及穿插關(guān)系、產(chǎn)狀等。5）地質(zhì)構(gòu)造：主要指次生構(gòu)造、包括褶皺、斷層、節(jié)理、劈理以及沉積巖中后沉積作用構(gòu)造如化學作用的結(jié)核、瘤塊和裂隙充填形成的巖墻等特征、類型、規(guī)模、形態(tài)、產(chǎn)狀等。標本、樣品采集1）標本采集：系統(tǒng)采集有代表性的礦物、巖石、古生物標本。一般應有陳列標本、鑒定標本（薄片、光片、古生物、單礦物等），根據(jù)剖面設(shè)計，按劃分的巖層位置、標本數(shù)量、規(guī)格采集，并編號包裝、記錄、登記。2）樣品采集：按剖面設(shè)計需要，還可采集化學分析樣，光譜分析樣、巖石全分析樣、古地磁測定樣、同位素年齡測定樣等。對采集的樣品要編號、記錄、登記、包裝等。樣品的鑒定、測試成果在整理時，要補充到記錄中，必要時還應對原始記錄進行修改。㈢ 物化探工作：視需要開展物化探工作，物化探工作應與剖面測制同時進行，如巖石化學剖面測量。㈣ 地物地貌標注剖面通過的居民點、水系、地形制高點、重要地物及探礦工程等，可適當?shù)剡x擇部分標注在剖面圖上或?qū)Ь€平面圖上。㈤ 野外資料整理整理要求：在剖面測制過程中，要求資料當天整理，避免人為造成資料混亂甚至錯誤。整理內(nèi)容：1）文字記錄：格式層次清晰、數(shù)據(jù)無誤、語句通順、文圖實物三者核對吻合，數(shù)據(jù)上墨。2）自然剖面圖：核對、完善自然剖面圖。3）標本、樣品整理：清理標本、樣品，檢查編號、登記無丟失、無遺漏。填寫標本、樣品送樣單，及時派專人送出鑒定和化驗。四、實測地質(zhì)剖面圖室內(nèi)繪制實測地質(zhì)剖面圖常有展開法和投影法兩種方法繪制。當導線方向變化不大時，用展開法；當導線方位多變，轉(zhuǎn)折較多時宜用投影法。㈠ 展開法：將各次所測的不同方向的導線，根據(jù)其斜距和坡度角依次連接而成。在每一導線的起點均應標注導線方位角，分層等位置就是野外投影在導線上的斜距讀數(shù)，導線上巖層傾角應換算成視傾角畫分層界線和巖石花紋。但數(shù)字應寫實測的真傾向、真傾角（圖1－4）展開法剖面圖下方的導線平面圖，由于意義不大，成圖時可以不要。圖中：實測各導線A01，斜距20m，方向25176。，坡角+5176。A12，斜距15m，方向30176。，坡角+10176。，A23，斜距25m，方向28176。，坡角+8176。，A34，斜距20m，方向26176。，坡角+10176。A237米為J121/J112界線，產(chǎn)狀258176。/50176。（7米）作圖：第一步作地形剖面，按導線順序，用導線斜長和坡角依次連接而成。第二步，自界線位置（A2A37米處），按查表得視傾角的度數(shù)（37176。27′），畫出界線（視傾角線），在界線兩側(cè)按巖性（圖例）畫巖性花紋。（查表：巖層走向168176。，導線方向28176。，兩者夾角為40176。，巖層傾角50176。，查表得視傾角37176。27′）。第三步：按斜距畫出標本、樣品等位置，完善剖面圖其它整飾內(nèi)容后即為成圖。展開法優(yōu)點是比較簡單，便于野外繪制，缺點是轉(zhuǎn)折的展開，在剖面圖上夸大了地質(zhì)體寬度，歪曲了地形構(gòu)造形態(tài)。㈡ 投影法：首先繪制導線平面圖，并把各種地質(zhì)要素標繪在相應的位置上，構(gòu)成路線地質(zhì)圖。在此基礎(chǔ)上確定投影方法。一次投影法當導線轉(zhuǎn)折不大，每條導線方向和剖面總方向基本一致時，可將平面圖（路線地質(zhì)圖）上地質(zhì)界線與導線交匯點直接投影在剖面圖上進行剖面繪制。如：實測導線A01，斜長20m，方向31176。，坡度+5176。A12，斜長15m，方向29176。，坡角+8176。A12，斜長21m，方向30176。，坡角+10176。A34，斜長16m，方向31176。，坡角6176?？偲拭娣较驗?0176。根據(jù)各導線斜長和坡度，計算得出各導線平距和導線兩端點高差。A0－1 平距＝20米cos5176。＝ ，高差20sin5176。＝ A1－2 平距＝30米cos8176。＝ ，高差15sin8176。＝ A2－3 平距＝26米cos10176。＝ ，高差21sin10176。= A3－4 平距＝16米cos6176。＝ ，高差16sin6176。= 具體操作如下圖1－5A－A′剖面圖，A－A′路線地質(zhì)圖路線地質(zhì)圖是根據(jù)導線計算的平距和方向先繪出導線平面圖，然后根據(jù)各地質(zhì)要素在剖面導線上的斜距，計算為平距后繪于導線平面圖的相應位置上，地質(zhì)界線則畫出走向線（分層界線），其它地質(zhì)內(nèi)容（如產(chǎn)狀、標本等），按規(guī)定圖示標注在平面圖上。A－A′剖面圖，首先將平面圖上各導線端點（A0、A1．．．．．）向上方投影，在A0點投影線上任意選擇一點作為投影點（A0），然后分別在AA2．．．．．點的投影線上根據(jù)計算的高差，找到相應的AA2．．．．．投影點位置，連接各投影點即為A－A1剖面的地形線。第二步，將平面圖各導線上的分層界線和其它地質(zhì)內(nèi)容，仍用向上方投影的方法與剖面地形線相交一點，該點亦是界線點或者其它內(nèi)容的點，用視傾角線作界線、用相應的圖示圖例表示其它地質(zhì)內(nèi)容。如果出現(xiàn)其它地質(zhì)內(nèi)容（