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正文內(nèi)容

物理氣相淀積上ppt課件(已修改)

2025-01-27 02:42 本頁面
 

【正文】 第五章 物理氣相淀積 內(nèi)容 ?概述 ?真空技術(shù) ?蒸發(fā) ?濺射 ?薄膜淀積機(jī)理 概述 ?形成薄膜技術(shù):薄膜生長(zhǎng)技術(shù)、薄膜淀積技術(shù) ?薄膜生長(zhǎng)技術(shù):專指襯底材料也是形成薄膜的元素之一,(如硅的熱氧化生長(zhǎng)二氧化硅) ?薄膜淀積技術(shù):薄膜形成過程中不消耗晶片或襯底材料, ?薄膜淀積技術(shù)一般可分為兩類: ?化學(xué)氣相淀積( CVD):利用化學(xué)反應(yīng)生成所需的薄膜材料,常用于各種介質(zhì)材料和半導(dǎo)體材料的淀積,如二氧化硅、多晶硅、氮化硅等,但是隨著 CVD技術(shù)的發(fā)展,其應(yīng)用范圍逐漸擴(kuò)大。 ?物理氣相淀積( PVD):利用物理機(jī)制制備所需薄膜材料,常用于金屬薄膜的制備淀積,包括蒸發(fā)和濺射等。 ?其它淀積技術(shù)還包括離子鍍膜、溶液鍍膜(化學(xué)反應(yīng)沉積、陽極氧化法、電鍍法等)、旋轉(zhuǎn)涂布法等 薄膜淀積是芯片加工過程中一個(gè)至關(guān)重要的工藝步驟, 通過淀積工藝可以在硅片上生長(zhǎng)各種 導(dǎo)電薄膜層 和 絕緣薄膜層 。 各種不同類型的薄膜淀積到硅片上 , 在某些情況下 ,這些薄膜成為器件結(jié)構(gòu)中的一個(gè)完整部分 , 另外一些薄膜則充當(dāng)了工藝過程中的犧牲品 , 并且在后續(xù)的工藝中被去掉 。 在 SSI和 MSI IC時(shí)代 , 蒸發(fā)是主要的金屬化方法 。 由于蒸發(fā)臺(tái)階覆蓋的特性差 , 所以后來被濺射取代 。 本章主要介紹物理氣相淀積工藝中的蒸發(fā)和濺射 真空知識(shí) 微電子工藝中所用的真空技術(shù): 1) 氣體分子的質(zhì)量輸運(yùn)機(jī)制:低壓 CVD 2) 等離子體產(chǎn)生機(jī)制:濺射、等離子體增強(qiáng) CVD、反應(yīng)離子刻蝕 3) 無污染的加工環(huán)境:蒸發(fā)、分子束外延 4) 氣體分子的長(zhǎng)程輸運(yùn):離子注入 真空基礎(chǔ)知識(shí) ?真空 :低于一個(gè)大氣壓的氣體空間,和正常的大氣相比是比較稀薄的氣體狀態(tài)。 ?標(biāo)準(zhǔn)大氣壓 :在溫度為 20℃ ,相對(duì)濕度為 60%時(shí)的大氣壓強(qiáng), 1 atm= 101325Pa= = 760torr, ?壓強(qiáng)單位 : 帕斯卡 (Pa):國(guó)際單位制壓強(qiáng)單位, 1Pa=1N/m2 標(biāo)準(zhǔn)大氣壓( atm): 1 atm= 101325Pa 乇 (Torr): 1torr= 1 /760atm= 1mmHg 毫巴 (mbar): 1mbar=102Pa ? 真空度 :低于大氣壓的氣體稀薄程度。 ? 真空區(qū)域劃分 :粗真空、低真空、高真空、超高真空 1) 粗真空 ( 1 105Pa~ 1 102Pa),氣態(tài)空間的特性和大氣差不多,氣體分子的平均自由程短; 2) 低真空 ( 1 102Pa~ 1 10- 1Pa),每立方厘米的氣體分子數(shù)為 1016~ 1013個(gè),此真空區(qū)域由于分子數(shù)減少,分子的平均自由程和容器的尺寸相當(dāng); 3) 高真空 ( 1 10- 1Pa~ 1 10- 6Pa),氣體分子的平均自由程大于一般容器的線度。 4) 超高真空 (< 1 10- 6Pa),此時(shí)每立方厘米的氣體分子數(shù)在 1010個(gè)以下,超高真空的用途之一是得到純凈的氣體,其二是可獲得純凈的固體表面。 ? 氣體動(dòng)力學(xué)理論推導(dǎo)的幾個(gè)公式: 氣體分子的平均速率: 氣體分子的平均自由程 : 氣體分子處于無規(guī)則的熱運(yùn)動(dòng)狀態(tài),它除了與容器壁發(fā)生碰撞外,氣體分子之間還經(jīng)常發(fā)生碰撞。每個(gè)分子在連續(xù)兩次碰撞之間的路程稱為 “ 自由程 ” --其統(tǒng)計(jì)平均值稱為平均自由程。 根據(jù)理想氣體定律 , 代入上式,得到 mkTc?8??nd 221?? ?kTPVNn ??PdkT22 ?? ?式中 d為分子直徑, P為腔體壓強(qiáng);n為單位體積內(nèi)的氣體分子數(shù);式中 m為氣體分子質(zhì)量, 注意: 這些公式只是在 時(shí)適用 ,L為腔體的特征長(zhǎng)度 L???? 真空的獲得 : ? 真空系統(tǒng)的組成:待抽空的容器(真空室)、獲得真
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