sem的斷口分析ppt課件(已修改)
2025-01-17 03:30 本頁(yè)面
【正文】 第三節(jié) SEM的斷口分析 在試樣或構(gòu)件 斷口分析方面 ，掃描電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)已為人們所公認(rèn)。 制樣簡(jiǎn)單： 它不需要象透射電子顯微鏡那樣制備復(fù)型，既省事又不致在制備過(guò)程中引入假象。 連續(xù)放大（ 510萬(wàn)）： 可以對(duì)斷口進(jìn)行低倍 (例如 5倍左右 )大視域觀察，某些感興趣的區(qū)域 (例如裂紋源 )進(jìn)行高倍觀察分析，皿示斷口形貌的細(xì)節(jié)特征，揭示斷裂機(jī)理，如果儀器具有 X射線能諧或波譜分析附件，還可以一步對(duì)組成相或某些環(huán)境介質(zhì)在裂紋產(chǎn)生和發(fā)展過(guò)程中的作用進(jìn)行分析研究，那將更有助于揭示產(chǎn)生裂紋的原因。 景深大；立體感強(qiáng)；層次豐富； 下面主要介紹幾種典型斷口形貌及其掃描電子顯微鏡圖像特點(diǎn)，以利于分析這些斷口的斷裂機(jī)理。 幾種典型斷口形貌 及其掃描電子顯微鏡圖像特點(diǎn) 一、按實(shí)驗(yàn)方式劃分（應(yīng)力方式） 1. 拉伸斷口 2. 沖擊試樣斷口 3. 疲勞斷口 二、按韌性、脆性分類(lèi) 1. 韌性斷口 2. 脆性斷口 一、按實(shí)驗(yàn)方式劃分（應(yīng)力方式） 1. 拉伸斷口 2. 沖擊試樣斷口 3. 疲勞斷口 拉伸斷口 （ 5 ）：三個(gè)區(qū)域 纖維區(qū) ： 裂紋源形成區(qū)，有一定 灰度 放射區(qū) ： 裂紋擴(kuò)展區(qū)；裂紋擴(kuò)展方向： 放射條紋 破斷區(qū)（剪切唇） ： 最后破斷 （ 400 以上 ） ? 纖維區(qū) ： 裂紋源形成區(qū) 大量 韌窩 （微坑）、撕裂棱（ 塑性變形 的痕跡） 裂紋源 形核 ：夾雜物、二相粒子、硬質(zhì)點(diǎn) ? 放射區(qū) ： 裂紋擴(kuò)展 剪切的韌窩 → 性能 ? 韌性好 宏觀看： 纖維區(qū) 較大； 纖維區(qū) 灰度 大； 放射區(qū) 較?。? 微觀看： 韌窩 大且深 塑
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