20xx電子設(shè)計(jì)競(jìng)賽題目預(yù)測(cè)-文庫(kù)吧
2024-10-25 03:31 本頁(yè)面
【正文】 一定分值。作品不得購(gòu)買(mǎi)現(xiàn)成的產(chǎn)品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)，取消參賽資格。第三篇：2013年全國(guó)電子設(shè)計(jì)大賽題目預(yù)測(cè)兩年一屆的全國(guó)電子設(shè)計(jì)大賽，今年的題目會(huì)是如何呢？縱觀近幾年的題目，控制類(lèi)比較火，一方面是同學(xué)們對(duì)這方面比較感興趣，另一方面則是控制類(lèi)可以與其他學(xué)科的聯(lián)系更加緊密，可以考察同學(xué)們的綜合運(yùn)用知識(shí)的能力，頗受出題者的喜愛(ài)。而筆者也發(fā)現(xiàn)，出題者把控制與普通物理題目的結(jié)合使得題目的難度大大增加，同時(shí)又使得參加競(jìng)賽的同學(xué)能夠展示自己多方面的知識(shí)廣度及深度。自05年以來(lái)，電源類(lèi)題目一直都有，不管是電流源亦或是電壓源，不管是數(shù)控亦或是開(kāi)關(guān)類(lèi)，曾經(jīng)有教授說(shuō)過(guò)，最基礎(chǔ)的、最經(jīng)典的永遠(yuǎn)都不會(huì)過(guò)時(shí)。電源，做電子的都要用到，所以人們對(duì)其的要求也沒(méi)有止境。這個(gè)也非常考驗(yàn)同學(xué)們的基礎(chǔ)知識(shí)的扎實(shí)程度，今年應(yīng)該還會(huì)有。放大類(lèi)題目今年應(yīng)該也不會(huì)錯(cuò)過(guò)，這是與時(shí)代發(fā)展相呼應(yīng)的一種推測(cè)，信號(hào)的放大在傳輸過(guò)程中是如此的重要。剩下的題目應(yīng)該會(huì)在數(shù)據(jù)的采集、傳輸、信號(hào)源的產(chǎn)生中產(chǎn)生，而且看趨勢(shì)，今年應(yīng)該還會(huì)是5道題目。第四篇：大學(xué)生電子設(shè)計(jì)競(jìng)賽題目方向1）儀器儀表方向：音頻信號(hào)分析儀：2007年A題數(shù)字取樣示波器：2007年C題簡(jiǎn)易頻譜分析儀：2005年C題簡(jiǎn)易邏輯分析儀：2003年D題低頻相位測(cè)量?jī)x：2003年C題數(shù)字存儲(chǔ)示波器：2001年B題頻率特性測(cè)量?jī)x：1999年C題數(shù)字工頻多用表：1999年B題簡(jiǎn)易數(shù)字頻率計(jì)：1997年B題簡(jiǎn)易R(shí)LC測(cè)量?jī)x ：1995年D題儀器儀表方向訓(xùn)練重點(diǎn)：內(nèi)容：包含信號(hào)產(chǎn)生、采集、存儲(chǔ)、分析、處理、顯示、控制等信號(hào)處理環(huán)節(jié)中的大部分或全部。類(lèi)型：分為時(shí)域分析處理和頻域分析處理兩大類(lèi)。難點(diǎn)：強(qiáng)調(diào)速度、處理能力、顯示性能等。需要通過(guò)構(gòu)建新技術(shù)硬件平臺(tái)及運(yùn)用信號(hào)處理算法來(lái)實(shí)現(xiàn)。系統(tǒng)中的部分任務(wù)需要在訓(xùn)練階段完成。訓(xùn)練：DDS任意信號(hào)產(chǎn)生、高速/寬帶模擬電路、濾波器、高速ADC/DAC采樣與回放、高速數(shù)據(jù)存儲(chǔ)（FIFO）、算法（FFT、卷積、相關(guān)、數(shù)字濾波等）、顯示技術(shù)（LCD、繪圖、實(shí)時(shí)曲線等）、強(qiáng)實(shí)時(shí)性并發(fā)多任務(wù)軟件設(shè)計(jì)、FPGA/ CPLD與單片機(jī)的接口、儀器儀表原理、各類(lèi)電參數(shù)測(cè)量、等內(nèi)容。2）電路系統(tǒng)方向：寬帶直流放大器：2009年C題簡(jiǎn)易程控濾波器：2007年D題正弦信號(hào)發(fā)生器：2005年A題寬 帶 放 大 器：2003年B題壓控L/C振蕩器 ：2003年A題任意波形發(fā)生器：2001年A題簡(jiǎn)易測(cè)量放大器：1999年A題錄音與回放系統(tǒng)：1999年E題實(shí)用信號(hào)源制作：1995年B題電路系統(tǒng)方向訓(xùn)練重點(diǎn)：內(nèi)容：偏重概念和指標(biāo)。涉及到各類(lèi)經(jīng)典單元模塊電路，及其基本概念、基本原理和新實(shí)現(xiàn)方法、性能指標(biāo)測(cè)試方法等
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