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2024-10-24 22:10 本頁面
【正文】 ,選擇判異原則,繪制均值極差圖 極差和均值圖都需要穩(wěn)態(tài),從圖中我們看出什么？接下來我們怎么做？,練習(xí)：用minitab繪制均值極差圖,焊接力對于W7T是重要的指標(biāo)，需要定期測試，將測試結(jié)果做均值極差圖,SPC 小游戲,流程： 分成幾個(gè)小組，每個(gè)人折紙，生產(chǎn)衣服，然后抽樣測量衣服長度，每個(gè)小組產(chǎn)生一個(gè)衣服長度的平均數(shù)，衣服長度為y軸，小組號碼為x軸，描點(diǎn)，事先定好上下控制線，看哪些點(diǎn)在控制線之外，然后找出root cause。 工具： 兩種尺寸正方形紙（含有變異尺寸），尺子 控制圖： 均值極差圖 或單值移動(dòng)極差 （根據(jù)參加人數(shù)） 繪制SPC控制圖以及Process capability 原因分析 如果有異常的地方分析原因并改善,計(jì)數(shù)型控制圖,計(jì)數(shù)型控制圖P圖，NP圖,練習(xí)：二極管制造工藝，每天抽檢150個(gè)樣品，記錄不合格品數(shù)量，搜集一個(gè)月的數(shù)據(jù)，做NP圖和P圖。,計(jì)數(shù)型控制圖P圖,計(jì)數(shù)型控制圖NP圖,計(jì)數(shù)型控制圖U圖，C圖,練習(xí)：在芯片的生產(chǎn)過程中，如果芯片上有一個(gè)瑕疵，則被認(rèn)為是一個(gè)缺陷，每個(gè)班次抽取10個(gè)芯片進(jìn)行檢驗(yàn)，記錄每個(gè)班次的缺陷總數(shù)，搜集15個(gè)班次數(shù)據(jù)，做U圖，C圖。,計(jì)數(shù)型控制圖U圖,計(jì)數(shù)型控制圖C圖,其他常見的控制圖 累積和控制圖CUSUM: 以歷次觀測結(jié)果為依據(jù)，對觀測數(shù)據(jù)加以累積，對發(fā)現(xiàn)過程的小偏移特別有效 。 指數(shù)加權(quán)移動(dòng)平均控制圖EWMA:關(guān)注的是歷史數(shù)據(jù)的加權(quán)平均，可以有效控制長期過程的微小偏移。 標(biāo)準(zhǔn)化控制圖ZMR:當(dāng)過程輸出為不同規(guī)格的產(chǎn)品，相互之間的差異比較大但樣本量又比較小時(shí)選用該控制圖（多品種，小批量）,基本定義及數(shù)據(jù)類型 計(jì)量型過程能力分析 計(jì)數(shù)型過程能力分析,Section Three 過程能力分析,Process Capability,數(shù)據(jù)類型可以分為計(jì)量型數(shù)據(jù)和計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)。 計(jì)量型數(shù)據(jù)是屬于不可數(shù)集合的，一般通過測量獲得，且有計(jì)量單位。比如(0,100]，實(shí)數(shù)集，常見的有正態(tài)分布，指數(shù)分布，均勻分布等。 工廠數(shù)據(jù)舉例：welding strength, case/ cover 尺寸 計(jì)數(shù)型隨機(jī)變量只可能出現(xiàn)可數(shù)型的實(shí)現(xiàn)值，比如自然數(shù)集合，{0,100}等等，常見的有二項(xiàng)分布，泊松分布等。 工廠數(shù)據(jù)舉例：檢驗(yàn)208件產(chǎn)品，有8件不合格，檢驗(yàn)150件產(chǎn)品，有7件不合格。,以小組為單位，列舉工廠各種數(shù)據(jù)類型，并進(jìn)行分類，粘貼到白板上，大家分享一下,計(jì)量型數(shù)據(jù)過程能力指數(shù)CP,Cp – 表示制程分布的緊致程度，要求過程要穩(wěn)定,計(jì)量型數(shù)據(jù)制程能力指數(shù) Cpk,雙邊CPK公式,單邊CPK公式,制程能力指數(shù)Cpk的幾何意義,3,良好的過程能力: 對于雙邊:圖形居中, 開口小. 對于單邊: 距離規(guī)格線遠(yuǎn), 開口小.要求過程要穩(wěn)定且正態(tài)。,過程能力評價(jià),計(jì)量型數(shù)據(jù)制程績效指數(shù)PP/PPK,過程績效指數(shù)是從過程總波動(dòng)的角度考
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