【正文】 ）透照厚度（ W）確定像質(zhì)計靈敏度（ 2）以低原子序數(shù)材料制作的像質(zhì)計可以用于高原子序數(shù)材料制成的工件照相。即鐵（ Fe）像質(zhì)計可以用于鎳（ Ni）、銅（ Cu）材料的照相，但不能用于鈦（ Ti）、鋁（ AI）材料的照相。 表面要求和射線檢測時機 在射線檢測之前，對接焊接接頭的表面應(yīng)經(jīng)外觀檢測并合格。表面的不規(guī)則狀態(tài)在底片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像，否則應(yīng)對表面作適當修整。 除非另有規(guī)定，射線檢測應(yīng)在焊后進行。有延遲裂紋傾向的材料，至少應(yīng)在焊接完成 24h后進行射線檢測。理解：（ 1）焊縫的外觀檢查一般由焊工檢查員進行。（ 2）除非另有規(guī)定系指設(shè)計圖紙的規(guī)定、制造方的規(guī)定或焊縫返修后焊接工藝的規(guī)定。（ 3）有延遲裂紋的材料一般指低合金高強鋼。應(yīng)用：（ 1）射線檢測工藝卡中應(yīng)明確檢測時機（ 2）當?shù)灼洗嬖诓挥绊懺u定的偽缺陷時應(yīng)在底片評定原始記錄中注明。注意：所謂適當修整是指打磨或較淺補焊。 射線檢測技術(shù)等級選擇 射線檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)標準及設(shè)計圖樣規(guī)定。承壓設(shè)備對接焊接接頭的制造、安裝、在用時的射線檢測，一般應(yīng)采用 AB級射線檢測技術(shù)進行檢測。對重要設(shè)備、結(jié)構(gòu)、特殊材料和特殊焊接工藝制作的對接焊接接頭，可采用 B級技術(shù)進行檢測。 由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境條件、射線設(shè)備等方面限制，檢測的某些條件不能滿足 AB級（或 B級）射線檢測技術(shù)的要求時 , 經(jīng)檢測方技術(shù)負責人批準，在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）的前提下，若底片的像質(zhì)計靈敏度達到了 AB級（或 B級）射線檢測技術(shù)的規(guī)定 ,則可認為按 AB級（或 B級）射線檢測技術(shù)進行了檢測。 承壓設(shè)備在用檢測中，由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面限制 ,檢測的某些條件不能滿足 AB級射線檢測技術(shù)的要求時 , 經(jīng)檢測方技術(shù)負責人批準 ,在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）后可采用 A級技術(shù)進行射線檢測，但應(yīng)同時采用其他無損檢測方法進行補充檢測。理解：（ 1）承壓類設(shè)備的制造、安裝、在用的檢測技術(shù)級別一般不應(yīng)低于 AB級（ 2）承壓設(shè)備在用檢測特殊情況下可以采用 A級檢測技術(shù)（ 3）檢測方技術(shù)負責人系指無損檢測單位的技術(shù)負責人，如是制造、安裝單位或檢驗單位，檢測方技術(shù)負責人是指該單位的總工程師或分管技術(shù)的領(lǐng)導（ 4）有效措施一般包括：高類別膠片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控制散亂射線等措施。應(yīng)用：（ 1）技術(shù)負責人要確認是否確實存在 “結(jié)構(gòu)、環(huán)境、射線設(shè)備等方面的限制 ”（ 2）技術(shù)負責人一般應(yīng)在專用工藝或工藝卡批準欄中簽字。注意：底片靈敏度必須達到相應(yīng)技術(shù)級別的規(guī)定。對在用設(shè)備如采用 A級檢測技術(shù)應(yīng)補充其他檢測方法進行檢測。返修焊縫應(yīng)采用 AB級或達到 AB級靈敏度 輻射防護 放射衛(wèi)生防護應(yīng)符合 GB 1887 GB 16357和 GB 18465的有關(guān)規(guī)定。 現(xiàn)場進行Ｘ射線檢測時，應(yīng)按 GB16357的規(guī)定劃定控制區(qū)和管理區(qū)、設(shè)置警告標志。檢測工作人員應(yīng)佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。 現(xiàn)場進行 γ射線檢測時，應(yīng)按 GB18465的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)、設(shè)置警告標志，檢測作業(yè)時，應(yīng)圍繞控制區(qū)邊界測定輻射水平。檢測工作人員應(yīng)佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。理解：（ 1）現(xiàn)場進行Ｘ射線檢測或進行 γ射線檢測時對輻射防護提出了不同的要求。（ 2）在兩個標準都提出了輻射照射量的新名詞《比釋動能》和《空氣比釋動能率》，比釋動能是指不帶電粒子與物質(zhì)相互作用，在單位質(zhì)量的物質(zhì)中釋放出來的所有帶電粒子的初始動能的總和。應(yīng)用：（ 1）空氣比釋動能率用儀器可以測出（ 2）控制區(qū)、管理區(qū)、監(jiān)督區(qū)范圍的確定均根據(jù)空氣比釋動能率量值進行劃分的。注意：盡管兩個標準的某些條款內(nèi)容相同或相近，但在使用中不能相互代替。4 具體要求 透照布置 透照方式 應(yīng)根據(jù)工件特點和技術(shù)條件的要求選擇適宜的透照方式。在可以實施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式 ,在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式。典型的透照方式參見附錄 C（資料性附錄）。 透照方向 透照時射線束中心一般應(yīng)垂直指向透照區(qū)中心，需要時也可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透照。 一次透照長度 一次透照長度應(yīng)以透照厚度比 K進行控制。 不同級別射線檢測技術(shù)和不同類型對接焊接接頭的透照厚度比應(yīng)符合表 3的規(guī)定。整條環(huán)向?qū)雍附咏宇^所需的透照次數(shù)可參照附錄 D（資料性附錄）的曲線圖確定。理解：（ 1）單壁透照最有利于發(fā)現(xiàn)缺陷，但并不是最便捷的透照方法。（ 2）對《在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式》要有正確的理解，不能實施時主要針對工況條件和檢驗檢測單位的資源條件而言，不是指最佳的透照方式。（ 3）一次透照長度與檢測技術(shù)級別有關(guān)。應(yīng)用：透照方式不能任意選取，在可以實施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式。 （在用設(shè)備）注意：其他方式透照環(huán)向?qū)咏宇^時，有不能實施的部位即陰影區(qū)。 小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^的透照布置小徑管采用雙壁雙影透照布置，當同時滿足下列兩條件時應(yīng)采用傾斜透照方式橢圓成像：T（壁厚） ≤8mm； g（焊縫寬度） ≤Do /4橢圓成像時，應(yīng)控制影像的開口寬度（上下焊縫投影最大間距）在 1倍焊縫寬度左右。不滿足上述條件或橢圓成像有困難時可采用垂直透照方式重疊成像。 小徑管環(huán)向?qū)咏宇^的透照次數(shù) 小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^ 100%檢測的透照次數(shù)：采用傾斜透照橢圓成像時，當 T/ Do≤ ,相隔 90176。透照 2次。當 T/ Do＞ ,相隔 120176。或60176。透照 3次。垂直透照重疊成像時，一般應(yīng)相隔120176?；?60176。透照 3次。 由于結(jié)構(gòu)原因不能進行多次透照時，可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次。鑒于透照一次不能實現(xiàn)焊縫全長的 100%檢測，此時應(yīng)采取有效措施盡量擴大缺陷可檢出范圍，并保證底片評定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿足要求。理解：（ 1）雙壁雙影橢圓成像的實施原則，即 T（壁厚） ≤8mm、 g（焊縫寬度） ≤Do /4（ 216。605mm）（ 2）橢圓成像有困難一般是指焦距不滿足要求。（ 3）小徑管的透照次數(shù)與管外徑和壁厚有關(guān)，與檢測技術(shù)級別無關(guān)（ 4）規(guī)定小徑管的透照次數(shù)的主要目的是控制透照厚度比（ 5）結(jié)構(gòu)：一般系指排管或盤管應(yīng)用：（ 1）為控制影像的開口寬度應(yīng)采用偏心距法（2）擴大缺陷可檢出范圍的有效措施一般包括：雙膠片技術(shù)、適當提高管電壓、窗口加濾波板注意：當 Do ≤20mm、 T≥ 8mm 、 g ＞ Do /4重點檢查根部裂紋或未焊透時應(yīng)采用垂直透照 射線能量 X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時，應(yīng)保證適當?shù)钠毓饬俊D 1規(guī)定了不同材料、不同透照厚度允許采用的最高Ｘ射線管電壓。 對截面厚度變化大的承壓設(shè)備，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過圖 1規(guī)定的Ｘ射線管電壓。但對鋼、銅及銅合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過 50kV；對鈦及鈦合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過 40kV；對鋁及鋁合金材料，管電壓增量不應(yīng)超過 30kV。理解：（ 1）不同材料、不同透照厚度允許采用的最高Ｘ射線管電壓與檢測技術(shù)級別無關(guān)（ 2）控制Ｘ射線管電壓的目的是保證底片的對比度，避免影響小缺陷的檢出率。（ 3）截面厚度變化大（以 AB級 T3類膠片為基準，如較厚部位黑度為 ，而較薄部位的黑度大于 4 .0）應(yīng)用：（ 1）在能穿透工件的前提下，應(yīng)盡量選擇較低的 KV值（ 2）對截面厚度變化大的承壓設(shè)備，適當提高管電壓、利用中心指示器使射線束中心對準較厚部位、采用雙膠片技術(shù)、補償技術(shù)注意：選擇能量時必須考慮穿透厚度。 Ｘ 射線適用的透照厚度范圍應(yīng)符合表 4的規(guī)定。 采用源在內(nèi)中心透照方式，在保證像質(zhì)計靈敏度達到 ，允許 γ射線最小透照厚度取表 4下限值的二分之一。 采用其他透照方式，在采取有效補償措施并保證像質(zhì)計靈敏度達到 ，經(jīng)合同各方同意， A 級 ,AB級技術(shù)的 Ir192源的最小透照厚度可降至 10mm， Se75源的最小透照厚度可降至 5mm。理解：（ 1）鼓勵和提倡采用源在內(nèi)中心透照方式盡可能實現(xiàn)單壁透照，同時也有利于橫向裂紋的檢出（ 2）其他透照