【正文】 ）透照厚度（ W）確定像質計靈敏度（ 2）以低原子序數材料制作的像質計可以用于高原子序數材料制成的工件照相。即鐵（ Fe）像質計可以用于鎳（ Ni）、銅（ Cu）材料的照相，但不能用于鈦（ Ti）、鋁（ AI）材料的照相。 表面要求和射線檢測時機 在射線檢測之前，對接焊接接頭的表面應經外觀檢測并合格。表面的不規(guī)則狀態(tài)在底片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像，否則應對表面作適當修整。 除非另有規(guī)定，射線檢測應在焊后進行。有延遲裂紋傾向的材料，至少應在焊接完成 24h后進行射線檢測。理解：（ 1）焊縫的外觀檢查一般由焊工檢查員進行。（ 2）除非另有規(guī)定系指設計圖紙的規(guī)定、制造方的規(guī)定或焊縫返修后焊接工藝的規(guī)定。（ 3）有延遲裂紋的材料一般指低合金高強鋼。應用：（ 1）射線檢測工藝卡中應明確檢測時機（ 2）當底片上存在不影響評定的偽缺陷時應在底片評定原始記錄中注明。注意：所謂適當修整是指打磨或較淺補焊。 射線檢測技術等級選擇 射線檢測技術等級選擇應符合制造、安裝、在用等有關標準及設計圖樣規(guī)定。承壓設備對接焊接接頭的制造、安裝、在用時的射線檢測，一般應采用 AB級射線檢測技術進行檢測。對重要設備、結構、特殊材料和特殊焊接工藝制作的對接焊接接頭，可采用 B級技術進行檢測。 由于結構、環(huán)境條件、射線設備等方面限制，檢測的某些條件不能滿足 AB級（或 B級）射線檢測技術的要求時 , 經檢測方技術負責人批準，在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）的前提下，若底片的像質計靈敏度達到了 AB級（或 B級）射線檢測技術的規(guī)定 ,則可認為按 AB級（或 B級）射線檢測技術進行了檢測。 承壓設備在用檢測中，由于結構、環(huán)境、射線設備等方面限制 ,檢測的某些條件不能滿足 AB級射線檢測技術的要求時 , 經檢測方技術負責人批準 ,在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）后可采用 A級技術進行射線檢測，但應同時采用其他無損檢測方法進行補充檢測。理解：（ 1）承壓類設備的制造、安裝、在用的檢測技術級別一般不應低于 AB級（ 2）承壓設備在用檢測特殊情況下可以采用 A級檢測技術（ 3）檢測方技術負責人系指無損檢測單位的技術負責人，如是制造、安裝單位或檢驗單位，檢測方技術負責人是指該單位的總工程師或分管技術的領導（ 4）有效措施一般包括：高類別膠片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控制散亂射線等措施。應用：（ 1）技術負責人要確認是否確實存在 “結構、環(huán)境、射線設備等方面的限制 ”（ 2）技術負責人一般應在專用工藝或工藝卡批準欄中簽字。注意：底片靈敏度必須達到相應技術級別的規(guī)定。對在用設備如采用 A級檢測技術應補充其他檢測方法進行檢測。返修焊縫應采用 AB級或達到 AB級靈敏度 輻射防護 放射衛(wèi)生防護應符合 GB 1887 GB 16357和 GB 18465的有關規(guī)定。 現場進行Ｘ射線檢測時，應按 GB16357的規(guī)定劃定控制區(qū)和管理區(qū)、設置警告標志。檢測工作人員應佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。 現場進行 γ射線檢測時，應按 GB18465的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)、設置警告標志，檢測作業(yè)時，應圍繞控制區(qū)邊界測定輻射水平。檢測工作人員應佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。理解：（ 1）現場進行Ｘ射線檢測或進行 γ射線檢測時對輻射防護提出了不同的要求。（ 2）在兩個標準都提出了輻射照射量的新名詞《比釋動能》和《空氣比釋動能率》，比釋動能是指不帶電粒子與物質相互作用，在單位質量的物質中釋放出來的所有帶電粒子的初始動能的總和。應用：（ 1）空氣比釋動能率用儀器可以測出（ 2）控制區(qū)、管理區(qū)、監(jiān)督區(qū)范圍的確定均根據空氣比釋動能率量值進行劃分的。注意：盡管兩個標準的某些條款內容相同或相近，但在使用中不能相互代替。4 具體要求 透照布置 透照方式 應根據工件特點和技術條件的要求選擇適宜的透照方式。在可以實施的情況下應選用單壁透照方式 ,在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式。典型的透照方式參見附錄 C（資料性附錄）。 透照方向 透照時射線束中心一般應垂直指向透照區(qū)中心，需要時也可選用有利于發(fā)現缺陷的方向透照。 一次透照長度 一次透照長度應以透照厚度比 K進行控制。 不同級別射線檢測技術和不同類型對接焊接接頭的透照厚度比應符合表 3的規(guī)定。整條環(huán)向對接焊接接頭所需的透照次數可參照附錄 D（資料性附錄）的曲線圖確定。理解：（ 1）單壁透照最有利于發(fā)現缺陷，但并不是最便捷的透照方法。（ 2）對《在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式》要有正確的理解，不能實施時主要針對工況條件和檢驗檢測單位的資源條件而言，不是指最佳的透照方式。（ 3）一次透照長度與檢測技術級別有關。應用：透照方式不能任意選取，在可以實施的情況下應選用單壁透照方式。 （在用設備）注意：其他方式透照環(huán)向對接接頭時，有不能實施的部位即陰影區(qū)。 小徑管環(huán)向對接焊接接頭的透照布置小徑管采用雙壁雙影透照布置，當同時滿足下列兩條件時應采用傾斜透照方式橢圓成像：T（壁厚） ≤8mm； g（焊縫寬度） ≤Do /4橢圓成像時，應控制影像的開口寬度（上下焊縫投影最大間距）在 1倍焊縫寬度左右。不滿足上述條件或橢圓成像有困難時可采用垂直透照方式重疊成像。 小徑管環(huán)向對接接頭的透照次數 小徑管環(huán)向對接焊接接頭 100%檢測的透照次數：采用傾斜透照橢圓成像時，當 T/ Do≤ ,相隔 90176。透照 2次。當 T/ Do＞ ,相隔 120176?；?0176。透照 3次。垂直透照重疊成像時，一般應相隔120176?；?60176。透照 3次。 由于結構原因不能進行多次透照時，可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次。鑒于透照一次不能實現焊縫全長的 100%檢測，此時應采取有效措施盡量擴大缺陷可檢出范圍，并保證底片評定范圍內黑度和靈敏度滿足要求。理解：（ 1）雙壁雙影橢圓成像的實施原則，即 T（壁厚） ≤8mm、 g（焊縫寬度） ≤Do /4（ 216。605mm）（ 2）橢圓成像有困難一般是指焦距不滿足要求。（ 3）小徑管的透照次數與管外徑和壁厚有關，與檢測技術級別無關（ 4）規(guī)定小徑管的透照次數的主要目的是控制透照厚度比（ 5）結構：一般系指排管或盤管應用：（ 1）為控制影像的開口寬度應采用偏心距法（2）擴大缺陷可檢出范圍的有效措施一般包括：雙膠片技術、適當提高管電壓、窗口加濾波板注意：當 Do ≤20mm、 T≥ 8mm 、 g ＞ Do /4重點檢查根部裂紋或未焊透時應采用垂直透照 射線能量 X射線照相應盡量選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時，應保證適當的曝光量。圖 1規(guī)定了不同材料、不同透照厚度允許采用的最高Ｘ射線管電壓。 對截面厚度變化大的承壓設備，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過圖 1規(guī)定的Ｘ射線管電壓。但對鋼、銅及銅合金材料，管電壓增量不應超過 50kV；對鈦及鈦合金材料，管電壓增量不應超過 40kV；對鋁及鋁合金材料，管電壓增量不應超過 30kV。理解：（ 1）不同材料、不同透照厚度允許采用的最高Ｘ射線管電壓與檢測技術級別無關（ 2）控制Ｘ射線管電壓的目的是保證底片的對比度，避免影響小缺陷的檢出率。（ 3）截面厚度變化大（以 AB級 T3類膠片為基準，如較厚部位黑度為 ，而較薄部位的黑度大于 4 .0）應用：（ 1）在能穿透工件的前提下，應盡量選擇較低的 KV值（ 2）對截面厚度變化大的承壓設備，適當提高管電壓、利用中心指示器使射線束中心對準較厚部位、采用雙膠片技術、補償技術注意：選擇能量時必須考慮穿透厚度。 Ｘ 射線適用的透照厚度范圍應符合表 4的規(guī)定。 采用源在內中心透照方式，在保證像質計靈敏度達到 ，允許 γ射線最小透照厚度取表 4下限值的二分之一。 采用其他透照方式，在采取有效補償措施并保證像質計靈敏度達到 ，經合同各方同意， A 級 ,AB級技術的 Ir192源的最小透照厚度可降至 10mm， Se75源的最小透照厚度可降至 5mm。理解：（ 1）鼓勵和提倡采用源在內中心透照方式盡可能實現單壁透照，同時也有利于橫向裂紋的檢出（ 2）其他透照