【正文】 2注意：生產(chǎn)觀片燈的廠家所提供的亮度指標(biāo)應(yīng)用cd/m2表示。 射線膠片 膠片系統(tǒng)按照 GB/T ，即 T T T3和 T4類。（使用原則 ）3 、注意：如承壓設(shè)備的支承件或結(jié)構(gòu)件也采用該標(biāo)準(zhǔn)時(shí)應(yīng)在檢測報(bào)告中注明《參照》同時(shí)應(yīng)有委托方的確認(rèn)。 T型焊縫、角焊縫、堆焊層一般也不宜采用。 理解：取《放射工作人員證》的對象應(yīng)用：（ 1）對已取得國家質(zhì)檢總局或要取得國家質(zhì)檢總局所頒發(fā)的無損檢測資質(zhì)單位的射線檢測人員均應(yīng)有《放射工作人員證》（ 2）對其他單位（制造、安裝和檢驗(yàn)）現(xiàn)場操作人員應(yīng)有《放射工作人員證》注意：從事評片人員每年的視力檢查情況應(yīng)存檔。 觀片燈的最大亮度應(yīng)能滿足評片的要求。理解：（ 1）取消了象質(zhì)指數(shù) “Z”的概念，用線徑或線號(hào)表示底片的靈敏度。 由于結(jié)構(gòu)、環(huán)境條件、射線設(shè)備等方面限制，檢測的某些條件不能滿足 AB級（或 B級）射線檢測技術(shù)的要求時(shí) , 經(jīng)檢測方技術(shù)負(fù)責(zé)人批準(zhǔn)，在采取有效補(bǔ)償措施（例如選用更高類別的膠片）的前提下，若底片的像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到了 AB級（或 B級）射線檢測技術(shù)的規(guī)定 ,則可認(rèn)為按 AB級（或 B級）射線檢測技術(shù)進(jìn)行了檢測。在可以實(shí)施的情況下應(yīng)選用單壁透照方式 ,在單壁透照不能實(shí)施時(shí)才允許采用雙壁透照方式?；?0176。 Ｘ 射線適用的透照厚度范圍應(yīng)符合表 4的規(guī)定。b 2/3 － B 級射線檢測技術(shù)： f ≥ 15dmin、當(dāng)焦距大于 700mm時(shí)，曝光量應(yīng)大于 15mA雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)。（ 4）當(dāng)焊縫寬度較大時(shí)應(yīng)加長金屬絲的長度，或適當(dāng)移動(dòng)像質(zhì)計(jì)的位置。20mm以下小徑管除外）注意：不是 100％透照的焊接接頭也要放置搭接標(biāo)記。 底片評定范圍內(nèi)的黑度 D應(yīng)符合下列規(guī)定 : A 級： ≤D≤； AB級： ≤D≤ ； B 級： ≤D≤。厚度 2 mm～ 400mm、 2 mm～ 80mm。（ 2）在確定圓形缺陷嚴(yán)重部位的數(shù)量時(shí)，評定區(qū)應(yīng)與焊縫平行。 缺陷類型（略） 質(zhì)量分級依據(jù)（略）6 承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊環(huán)向?qū)雍附咏宇^射線檢測質(zhì)量分級 鋼、鎳、銅承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊環(huán)向?qū)雍附咏宇^射線檢測質(zhì)量分級 范圍 本條適用于壁厚 T ≥2mm碳素鋼、低合金鋼、奧氏體不銹鋼、鎳及鎳基合金、銅及銅合金承壓設(shè)備管子及壓力管道的熔化焊環(huán)向?qū)雍附咏宇^射線檢測的質(zhì)量分級。管外徑Do＞ 100mm的管子未焊透深度可采用附錄 H（規(guī)范性附錄）規(guī)定的一般對比試塊（ Ⅱ 型）進(jìn)行測定。對檢驗(yàn)檢測單位，檢測報(bào)告中還應(yīng)有工藝卡和原始記錄的編號(hào)應(yīng)用：凡是檢驗(yàn)檢測單位編制的檢測報(bào)告均應(yīng)包括上述內(nèi)容，對特種設(shè)備制造、安裝單位還應(yīng)按照相關(guān)規(guī)定執(zhí)行。 但對小徑管缺陷評定區(qū)取 10mm10mm。 綜合評級的級別如下確定：對圓形缺陷和條形缺陷分別評定級別，將兩者級別之和減一作為綜合評級的質(zhì)量級別。將評定區(qū)內(nèi)的缺陷按表 9的規(guī)定換算為點(diǎn)數(shù)，按表 10的規(guī)定評定對接焊接接頭的質(zhì)量級別。注意：（ 1）當(dāng)對接接頭兩邊的公稱厚度不等時(shí)以較薄為準(zhǔn)。理解：增加 評片暗適應(yīng)過程規(guī)定的目的是光強(qiáng)的突然變化會(huì)使人的視覺靈敏度下降從而造成評片時(shí)的漏檢應(yīng)用：（ 1）評片室不能全黑，一般要等于或略低于透過底片光的亮度。應(yīng)用：（ 1）應(yīng)在工藝文件中對返修標(biāo)記、擴(kuò)大檢測標(biāo)記以及搭接標(biāo)記的符號(hào)作出明確規(guī)定。專用像質(zhì)計(jì)至少應(yīng)能識(shí)別兩根金屬絲。若底片上不出現(xiàn) “B”字影像或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的 “B”字影像，則說明背散射防護(hù)符合要求。min。注意：（ 1）最小透照厚度以公稱厚度計(jì)算。 對截面厚度變化大的承壓設(shè)備，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過圖 1規(guī)定的Ｘ射線管電壓。不滿足上述條件或橢圓成像有困難時(shí)可采用垂直透照方式重疊成像。（ 2）在兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)都提出了輻射照射量的新名詞《比釋動(dòng)能》和《空氣比釋動(dòng)能率》，比釋動(dòng)能是指不帶電粒子與物質(zhì)相互作用，在單位質(zhì)量的物質(zhì)中釋放出來的所有帶電粒子的初始動(dòng)能的總和。注意：所謂適當(dāng)修整是指打磨或較淺補(bǔ)焊。注意： AB級或 B級檢測技術(shù)使用前屏 ≤包裝膠片時(shí)，另有規(guī)定。應(yīng)用：選擇的原則（ 1） A級和 AB級檢測技術(shù)不得低于 T3類、 B級檢測技術(shù)不得低于 T2類（ 2）采用 γ射線允許采用 T3類膠片，但靈敏度應(yīng)滿足要求。3 一般要求 射線檢測的一般要求除應(yīng)符合JB/，還應(yīng)符合下列規(guī)定。本部分規(guī)定的射線檢測技術(shù)分為三級： A級 —— 低靈敏度技術(shù)； AB級 —— 中靈敏度技術(shù)； B級 ——高靈敏度技術(shù)。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。膠片處理方法、設(shè)備和化學(xué)藥劑可按照 GB/T 的規(guī)定，用膠片制造商提供的預(yù)先曝光膠片測試片進(jìn)行測試和控制。理解：在一定情況下底片的黑度允許大于 4 （ ）應(yīng)用：黑度計(jì)屬于自校驗(yàn)儀器，不是強(qiáng)制校驗(yàn)設(shè)備，而標(biāo)準(zhǔn)黑度片是要強(qiáng)制檢驗(yàn)的。表面的不規(guī)則狀態(tài)在底片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像，否則應(yīng)對表面作適當(dāng)修整。對在用設(shè)備如采用 A級檢測技術(shù)應(yīng)補(bǔ)充其他檢測方法進(jìn)行檢測。整條環(huán)向?qū)雍附咏宇^所需的透照次數(shù)可參照附錄 D（資料性附錄）的曲線圖確定。 由于結(jié)構(gòu)原因不能進(jìn)行多次透照時(shí)，可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次。采用其他透照方式當(dāng)透照厚度小 20mm時(shí)，應(yīng)經(jīng)合同各方同意。理解：（ 1）確定射線源至工件表面的最小距離與檢測技術(shù)級別有關(guān)。 對使用中的曝光曲線，每年至少應(yīng)校驗(yàn)一次。d) 當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)在像質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字 “F”作為標(biāo)記， F標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在底片上，且應(yīng)在檢測報(bào)告中注明。 定位標(biāo)記一般包括中心標(biāo)記和搭接標(biāo)記。注意：采用自動(dòng)洗片機(jī)時(shí)要經(jīng)常清洗防止產(chǎn)生劃傷。理解：（ 1）底片評定范圍內(nèi)的黑度與技術(shù)級別有關(guān)（ 2）只有當(dāng)用 X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件時(shí)，黑度才可降低而且與技術(shù)級別有關(guān)（ AB級最低黑度允許降至 ； B級最低黑度可降至 ）（ 3）允許黑度降低的前提條件； 能是設(shè)備的焊接接頭《 》 ，較厚部位的黑度尚未達(dá)到 。 質(zhì)量分級一般規(guī)定 Ⅰ 級對接焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、未焊透和條形缺陷。質(zhì)量等級為Ⅰ 級的對接焊接接頭和母材公稱厚度 T ≤5mm的 Ⅱ 級對接焊接接頭，不計(jì)點(diǎn)數(shù)的缺陷在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)不得多于 10個(gè)，超過時(shí)對接焊接接頭質(zhì)量等級應(yīng)降低一級。應(yīng)用：要正確判斷根部咬邊和外咬邊，外咬邊缺陷不能作為評級的依據(jù)注意：根部內(nèi)凹和根部咬邊均按累計(jì)長度計(jì)算，對斷續(xù)根部內(nèi)凹和根部咬邊，以根部內(nèi)凹和根部咬邊本身的長度累計(jì)計(jì)算。管外徑Do＞ 100mm的管子和容器根部內(nèi)凹和根部咬邊深度可采用附錄 H（規(guī)范性附錄）規(guī)定的一般對比試塊（ Ⅱ 型）進(jìn)行測定。理解：把根部內(nèi)凹和根部咬邊視為同一類型缺陷進(jìn)行分級評定應(yīng)用：根部內(nèi)凹和根部咬邊深度的測定與未焊透測定的方法相同注意：對小徑管測定時(shí)，對比試塊應(yīng)置于管的源側(cè)表面 ,靠近被測根部內(nèi)凹和根部咬邊缺陷附近部位 綜合評級? 在條形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時(shí)存在多種缺陷時(shí)，應(yīng)進(jìn)行綜合評級。 質(zhì)量分級的一般規(guī)定 Ⅰ 級對接焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷、根部內(nèi)凹、根部咬邊。（ 3）制造方底片評定人員：（包括檢驗(yàn)檢測，設(shè)備制造或安裝單位的評片人員）應(yīng)用：（ 1）圓形缺陷的放寬不能是普遍現(xiàn)象只能是個(gè)別現(xiàn)象，如果對圓形缺陷放寬應(yīng)在檢測報(bào)告的附件中說明圓形缺陷的實(shí)際點(diǎn)數(shù)，以及放寬的理由和依據(jù)。 對接焊接接頭中缺陷超過 Ⅲ 級者為 Ⅳ級。（ 3）小徑管無論是雙壁雙影或垂直透照黑度均可降至 （ X射線、AB級）注意：（ 1） AB級、 B級不能采用雙片觀察（ 2）小徑管只有在黑度大于 評定范圍（ X射線、 AB級）（ 3）當(dāng)?shù)灼u定范圍內(nèi)的黑度大于 4時(shí)需有計(jì)量檢定報(bào)告證明底片評定范圍內(nèi)的亮度能夠滿 的要求時(shí)，才允許進(jìn)行評定。評片室應(yīng)整潔