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spc技術(shù)概述與應(yīng)用實(shí)務(wù)-文庫吧

2025-02-09 12:40 本頁面


【正文】 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 管制上下限有兩種算法 : 第一種 :計(jì)算法 :(嚴(yán)格按照管制圖的原理來做 ) a 計(jì)算出標(biāo)準(zhǔn)差 : 、 下限 Xб = XUCL=XCL+3Xб XLCL=XCL3Xб Rб = RUCL=RCL+3Rб RLCL=RCL3Rб 第二種 :查表法 : XUCL=XCL+A2R XLCL=XCLA2R RUCL= D4R RLCL= D3R 案例 1 X1+X2+…+Xi K R1+R2+…+Ri K SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 經(jīng)過計(jì)算出每組數(shù)據(jù)的平均值和全距列表如下 (注意四舍五入)序號(hào) 檢驗(yàn)時(shí)間 NO1 NO2 NO3 NO4 NO5 XB a r R1 200 1/ 10 /1 PM 0 5: 08 :5 8 10 7 10. 05 8 10. 03 10. 01 82 200 1/ 10 /2 PM 0 5: 09 :2 0 10. 02 10. 01 10 10. 03 8 10. 01 53 200 1/ 10 /3 PM 0 5: 09 :3 3 8 6 10. 02 5 10. 02 9 74 200 1/ 10 /4 PM 0 5: 09 :5 1 10 10. 05 10 6 5 9 05 200 1/ 10 /5 PM 0 5: 10 :0 3 6 10. 02 8 10 10. 07 10. 01 16 200 1/ 10 /6 PM 0 5: 10 :1 6 10. 09 10. 06 10. 1 10. 12 10. 02 10. 08 07 200 1/ 10 /7 PM 0 5: 14 :2 1 10 10 10. 09 8 7 9 08 200 1/ 10 /8 PM 0 5: 10 :5 0 10. 05 10. 02 10. 02 10. 04 10. 09 10. 04 79 200 1/ 10 /9 PM 0 4: 34 :4 0 10 10 2 210 200 1/ 10 /1 0 P M 04 :3 5: 58 10 10 4 111 200 1/ 10 /1 1 P M 04 :3 5: 27 10 10. 1 10. 1 10. 00 212 200 1/ 10 /1 2 P M 04 :3 5: 37 10 10. 2 10 8 413 200 1/ 10 /1 3 P M 04 :3 6: 33 10 10. 02 10. 03 10. 01 10 10. 01 314 200 1/ 10 /1 4 P M 04 :3 6: 44 8 7 10 10. 02 10. 01 10. 00 515 200 1/ 10 /1 5 P M 05 :0 2: 15 10 10. 01 10. 01 10 9 10. 00 2 SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 4) 制作圖形: 圖形分四個(gè)部分: 一個(gè)品質(zhì)記錄說明區(qū); 一個(gè)記錄品質(zhì)指標(biāo)區(qū); 一個(gè)平均數(shù)管制圖區(qū); 一個(gè)全距管制圖區(qū) 。 案例 1圖 SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES XR圖制作步驟及注意事項(xiàng)總結(jié): 確定控制對(duì)象 。 取預(yù)備數(shù)據(jù) 。 計(jì)算 X R2。 計(jì)算 X, R。 計(jì)算 R圖控制線并作圖 。 將預(yù)備數(shù)據(jù)并繪在 R圖中 , 并對(duì)狀態(tài)進(jìn)行判斷 。 計(jì)算 X圖控制線并作圖 。 計(jì)算過程能力指數(shù)并檢驗(yàn)其是否滿足技術(shù)要求 。 進(jìn)行日常管理 。 SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 課堂實(shí)兵演練 SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES : ※1 )注意規(guī)格界限與管制界限之間的比較。 可分三種狀態(tài): 包含關(guān)系 交叉關(guān)系 不相干 2)超出管制界限 SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 3)連續(xù)幾點(diǎn)上升或下降 可認(rèn)定是有某種趨勢(shì),表明是一種系統(tǒng)原因在推動(dòng)這種趨勢(shì), 4)連續(xù)幾點(diǎn)在管制線上方或下方 一般設(shè)定 3點(diǎn)或 5點(diǎn)以上,但有時(shí)候由于產(chǎn)品的特性可能有周 期性,可設(shè)定更多點(diǎn)。 SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 5)連續(xù)幾點(diǎn)一升一降 一般為 5點(diǎn)或 7點(diǎn),但有時(shí)候由于產(chǎn)品的特性可能有周期性,可設(shè)定更多點(diǎn)。此種狀態(tài)分兩種:一是越變?cè)酱?;二是越變?cè)缴佟? 6)連續(xù)幾點(diǎn)在 3倍的標(biāo)準(zhǔn)差以外 一般為 3點(diǎn),但有時(shí)候也要注意當(dāng)品質(zhì)非常好而考慮成本放松的變化,建議點(diǎn)數(shù)不要設(shè)定更大。 SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 7)連續(xù)幾點(diǎn)中有幾點(diǎn)在 2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外 一般初始為連續(xù) 7點(diǎn)中有 3點(diǎn)在 2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外,但有時(shí)候也可根據(jù)產(chǎn)品特性可能有周性而設(shè)更多點(diǎn),如連續(xù) 9點(diǎn)中有 4點(diǎn)在 2倍標(biāo)準(zhǔn)差以外。 此種狀況反應(yīng)出制程能力開始下降,一般屬于系統(tǒng)問題,但暫時(shí)還不算嚴(yán)重,要多多注意監(jiān)控, 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 8)連續(xù)幾點(diǎn)中有幾點(diǎn)在 1倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi) 一般為連 5點(diǎn)中有 3點(diǎn)在 1倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi),但有時(shí)候也可根據(jù)產(chǎn)品特性可能有周期性而設(shè)更多點(diǎn)。 此種狀況反應(yīng)品質(zhì)朝較好方向發(fā)展,所以只要注意監(jiān)控,并把相關(guān)重要參數(shù)記錄下來,以利于做標(biāo)準(zhǔn)化。 9)連續(xù)幾點(diǎn)在中心線兩側(cè),但未在 1倍標(biāo)準(zhǔn)差之內(nèi) 一般為連續(xù) 5點(diǎn)在中心線兩側(cè),但未在 1倍標(biāo)準(zhǔn)差之內(nèi),但有時(shí)候也可根據(jù)產(chǎn)品特性可能有周性而設(shè)更多點(diǎn)。 此種狀況反應(yīng)品質(zhì)可能雖然穩(wěn)定,但能力不夠或整體向上或下移動(dòng)少許,多屬系統(tǒng)原因,應(yīng)加強(qiáng)系統(tǒng)改善。 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 圖形分析還應(yīng)注意: 1)平均數(shù)管制圖看是否偏離方向,全距管制圖看穩(wěn)定程度。所以平均數(shù)管制圖是波動(dòng)越小越好,全距管制圖是越往下越好,表示每組數(shù)據(jù)中變異越少。 2)當(dāng)平均數(shù)管制圖有連續(xù) 3 點(diǎn)上升或下降,而 R圖沒有較大波動(dòng)時(shí),則表示制程中有某個(gè)因素正在慢慢朝某個(gè)方向發(fā)生變化。 3)當(dāng)平均數(shù)管制圖沒有較大幅度變化,而全距管制圖有出現(xiàn)連續(xù) 3點(diǎn)上升,則表示機(jī)臺(tái)有較大松動(dòng)。 4)所有圖形分析,都需要同以前在相同條件下做比較分析,并盡可能尋找可能的周期性變化趨勢(shì),同時(shí)去驗(yàn)證一到兩次。 SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 統(tǒng)計(jì)過程診斷( SPD) Statistical Process Diagnosis SPD診斷案例 SPC 應(yīng) 用 技 術(shù) 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES (二) Xbar σ 平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 : 當(dāng)每組樣本數(shù)較大時(shí) (n10)時(shí) , 全距 R容易受個(gè)別值影響較大 , 而標(biāo)準(zhǔn)差相對(duì)較小 , 所以 σ 成為過程變異性更有效的指標(biāo) , 此時(shí)一般用 Xbar S(σ )代替 Xbar R.。 : ① 計(jì)算每組數(shù)據(jù)的 Xbar及 σ ( s) : ② 計(jì)算管制中心線: ③ 計(jì)算管制上 、 下限 管制圖標(biāo)準(zhǔn)差: : SUCL=SCL+3σ SLCL=SCL3σ : SUCL=B4*S SLCL=B3*S :與 XbarR基本相同 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES ( 三 ) 中位數(shù)全距管制圖 ( MR) 1意義: 優(yōu)點(diǎn): 可產(chǎn)生與 XbarR圖相同的作用 ( 結(jié)論 ) , 中位數(shù)易于使用 , 并不要求很多計(jì)算 , 使車間工人易于接受控制圖方法 。 缺點(diǎn): 中位數(shù)在統(tǒng)計(jì)意義上沒有均值理想 。 2圖形制作: ① 中位數(shù)的算法:先將數(shù)據(jù)按大小順序排列 , 再取中間的一個(gè)數(shù)據(jù) 。 ② 計(jì)算管制中心線及管制上 、 下限 中心線:直按取各組中位數(shù)的平均值 Xm=Xmcl= 中位數(shù)管制圖標(biāo)準(zhǔn)差: Xmσ = XmUCL=XmCL+3Xmσ XmLCL=XmCL3Xmσ 3圖形分析 :同 XbarR 上海企達(dá)企業(yè)管理咨詢有限公司 DIVES 分別計(jì)算出它們的中位數(shù) (如遇偶數(shù)個(gè)數(shù)據(jù),建議統(tǒng)一取前面或后面一個(gè)數(shù)據(jù))序號(hào) 檢驗(yàn)時(shí)間 NO1 NO2 NO3 NO4 NO5 XB a r Xm1 200 1/ 10 /1 PM 0 5: 08 :5 8 10 7 10. 05 8 10. 03 10. 01 102 200 1/ 10 /2 PM 0 5: 09 :2 0 10. 02 10. 01 10 10. 03 8 10. 01 10. 013 200 1/ 10 /3 PM 0 5: 09 :3 3 8 6 10. 02 5 10. 02 9 84 200 1/ 10 /4 PM 0 5: 09 :5 1 10 10. 05 10 6 5 9 105 200 1/ 10 /5 PM 0 5: 10 :0 3 6 10. 02 8 10 10. 07 10. 01 106 200 1/ 10 /6 PM 0 5: 10 :1 6 10. 09 10. 06 10. 1 10. 12 10. 02 10. 08 10. 067 200 1/ 10 /7 PM 0 5: 14 :2 1 10 10 10. 09 8 7 9 108 200 1/ 10 /8 PM 0 5: 10 :5 0 10. 05 10. 02 10. 02 10. 04 10. 09 10. 04 10. 049 200 1/ 10 /9 PM 0 4: 34 :4 0 10 10 2 10 200 1/ 10 /1 0 P M 04 :3 5: 58 10 10 4 11 200 1/ 10 /1 1 P M 04 :3 5: 27 10 10. 1 10. 1 10. 00 1012 200 1/ 10 /1 2 P M 04 :3 5: 37 10 10. 2 10 8 1013 200 1/ 10 /1 3 P M 04 :3 6: 33
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