持續(xù)改進與統(tǒng)計過程控制概述-文庫吧
2025-02-02 19:09 本頁面
【正文】 量系統(tǒng)變化 (例如 ,不同的檢驗員或量 具 )。 ★ 測量系統(tǒng)沒有適當?shù)姆直媪?. SPC 20 有下列現(xiàn)象之一表明過程已改 變或出現(xiàn)這種超勢 : ★ 連續(xù)七點位于平均值的一側(cè) 。 ★ 連續(xù)七點上升或下降 . 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點 當極差受統(tǒng)計控制時 ,則認為過程的分 SPC 21 布寬度 子組內(nèi)的變差 是穩(wěn)定 的 .然后對均值圖進行分析看在此過程 的位置是否改變 . 出現(xiàn)一點或多點 超出任一控制限就證明這點出現(xiàn)特殊 原因 .這是立即對操作進行分析的信號 SPC 22 一點超出控制限通常表明存在下列情 況之一或更多 : ★ 控制限或描點錯誤 。 ★ 過程已改變 ,或是在當時的那一點 或是一種趨勢的一部分 。 ★ 測量系統(tǒng)發(fā)生變化 (如不同檢驗 員或量具 ). SPC 23 下列每一種情況都表明過程 已開始變化或有變化的趨勢 : ★ 連續(xù)七點在平均值的一側(cè) 。 ★ 七點連續(xù)上升或下降 . 盡管我們不強調(diào)過分的解釋數(shù)據(jù) .但其它 一些特別的圖形中也能表明存在變差的 SPC 24 特殊原因 .下面給出檢驗異常分布寬度的 準則 : 各點與過程均值的距離 :一般情況下 ,大約 2/3的描點應落在控制限三分之一的中間 區(qū)域內(nèi) ,大約 1/3的點應落在其它三分之二 的區(qū)域 。 1/20 的點應落在控制限較近之處 (位于外三分之一的區(qū)域 ).另外 ,存在大約 SPC 25 1/150 的點落在控制限之外 ,但可以認為是 受控的穩(wěn)定系統(tǒng)合理的一部份 就是說 , 大約 %的點位于控制限之內(nèi) . 5. 計算標準差 標準差通常有下列公式 : (1) σ= R / d2 式中 ,R為子組極差的均值 , d2隨樣本容量變 SPC 26 化的常數(shù) ,見下表 : SPC 27 過程能力是指按標準偏差為單位來描述的 過程均值與規(guī)范界限的距離 . Cp(Capability of Precision) 規(guī)格界限與實 際制程界限之比值 . SPC 28 Cp = = T/6σ Cp 的規(guī)格 等級 Cp 值 說明 A = Cp 續(xù)續(xù)改善 B = Cp 盡快改為 A 級 (規(guī)格上限 – 規(guī)格下限 ) 實際過程能力 SPC 29 C =Cp 立即檢討改善 D Cp 全面檢討 ,停產(chǎn) Ca (Capability of Accuracy)制程中心值 與期望中心值間的差異 . Ca = 制程中心值 – 規(guī)格中心值 (規(guī)格上限 – 規(guī)格下限 ) * X μ T / 2 SPC = 30 Ca 的規(guī)格 等級 Ca 值 說明 A Ca=% 續(xù)續(xù)維持現(xiàn)狀 B %Ca=25% 盡可能改善為 A級 C 25%Ca=50% 立即檢討改善 D 50%Ca 全面檢討 ,停產(chǎn) Cpk同時考慮精密度與準確度 (通常稱為制程能力指數(shù) ) SPC 31 Cpk 的規(guī)格 Cpk =Cp(1｜ Ca ｜ )或 Cpk = ｜ Cp ｜ Cpk =(USL – X)/3 σ (單邊值計算 ) 等級 Cp 值 說明 A = Cpk 制程能力合格 B =Cpk 能力尚可 C Cpk 努力改善為 A SPC 32 X R 管 制 圖 廠名 : 管制圖編號： 製 品 R 圖名 稱 3管制項目測量單位 日 期 9/1 9/2 9/3 9/4 9/5 9/6 9/7 9/8 9/9 9/10 9/11 9/12 9/13 9/14 9/15 9/16 9/17 9/18 9/19 9/20 9/21 9/22 9/23 9/24 9/25 9/26 9/27 9/28 合 計批 號 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 ΣＸ＝樣Ｘ１ ΣＲ＝本Ｘ２ 測Ｘ３ 定Ｘ４= USL 藍色值Ｘ５= LSL 紅色 Ｎ＝ΣＸ 平 均Ｘ Ｘ＝R R=計 算 或 分 析x管 ＵＣＬX制 ＣＬ ＣＬx=圖 ＬＣＬＵＣＬ x=ＬＣＬ x=RＣＬ R=R ＵＣＬ R=管 ＵＣＬＬＣＬ R=制 ＣＬ .=圖 ＬＣＬＰＰＫ = PP = Ca =ＣＰＫ = CP =備註及原因追查 :量測數(shù)值的判定條件測定者 李 工 作 者 張 三cm 下限 LSL 下 限 LCL28機 別 F21e 抽樣方法 每小時 / 上限 USL 上 限 UCL 直徑 中心限 CL 中心限 CL總組數(shù)期 間 1998/9/1製造部門 製一課宇威科技股份有限公司~ 1998/9/28AE1012圓 棒規(guī) 格 標 準 群組數(shù)大小 管 制 X 圖1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11
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