【正文】 不受控 （存在特殊原因） 過程能力 ? 過程能力是指過程處于受控狀態(tài)下（不存在變差的特殊原因）的實際加工能力 – 一個穩(wěn)定過程的固有變差的總范圍 ? 過程能力是由造成變差的普通原因造成 ? 工序能力高時：產(chǎn)品品質(zhì)出現(xiàn)異常的幾率越小 ? 工序能力低時：產(chǎn)品品質(zhì)出現(xiàn)異常的幾率越大 過程能力 受控且有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差已減少） 規(guī)范下限 規(guī)范上限 時間 范圍 受控但沒有能力符合規(guī)范 （普通原因造成的變差太大） 過程改進循環(huán) 分析過程 維護過程 本過程應做什么？ 監(jiān)控過程性能 會出現(xiàn)什么錯誤？ 查找變差的特殊原因并 本過程正在做什么？ 采取措施。 達到統(tǒng)計控制狀態(tài)？ 確定能力 計劃 實施 計劃 實施 措施 研究 措施 研究 計劃 實施 改進過程 措施 研究 改進過程從而更好地理解 普通原因變差 減少普通原因變差 帶有不同水平的變差的能夠符合規(guī)范的過程（所有的輸出都在規(guī)范之內(nèi)） 規(guī)范下限 LSL 規(guī)范上限 USL 范圍 LSL USL 范圍 不能符合規(guī)范的過程（有超過一側(cè)或兩側(cè)規(guī)范的輸出） LSL LSL USL USL 范圍 范圍 過程能力指數(shù)（ Cp) ? 過程能力用過程能力指數(shù)來加以量化 Cpk=(T2ε)/6 σ 其中， ε=|Xbar(T/2)| Cp=T/6σ –T=（ USLLSL) –USL:公差上限 –LSL:公差下限 無偏情況下： 存在偏移時： Cpk值的判定原則 Cpk值 處理原則 ≦ Cpk 無缺點考慮降低成本 ≦ Cpk≦ 維持現(xiàn)狀 1≦ Cpk≦ 有缺點發(fā)生 Cpk≦ 采取緊急措施，進行品質(zhì) 改善，并研討規(guī)格 過程控制的工具 控制圖 上控制限 中心限 下控制限 ? 控制圖是 1924年休哈特博士在貝爾實驗室發(fā)明的。 ? 基于可控制和不可控制的變差的區(qū)分。 ? 二戰(zhàn)后的日本工業(yè)企業(yè)將控制圖應用到極致，為戰(zhàn)后日本的經(jīng)濟復蘇做出了很大的貢獻 控制圖原理 3Sigma原則 ? 當質(zhì)量特性的隨機變量 x服從正態(tài)分布時，則 x落在 μ177。 3 σ的概率是 %。 ? 根據(jù)小概率事件可以“忽略”的原則：如果出現(xiàn)超出 μ177。 3 σ范圍的 x值，則認為過程存在異常。 ? 所以，在過程正常情況下約有 %的點落在在此控制線內(nèi)。 ? 觀察控制圖的數(shù)據(jù)位置，可以了解過程情況有無改變。 控制圖的控制線 ? 中心線（ CL): X ? 上控制線 /限（ UCL): X+ 3 σ ? 下控制線 /限（ LCL): X 3 σ ? 右轉(zhuǎn) 90度 3 σ 3 σ x+ 3 σ x 3 σ x x % 公差界限與控制界限的區(qū)別 ? 公差界限： 區(qū)分合格品與不合格品 ? 控制界限： 區(qū)分正常波動與異常波動 α β UCL LCL ?第 Ⅰ 類錯誤（ α）：虛發(fā)警報 ?第 Ⅱ 類錯誤（ β）：漏發(fā)警報 兩類錯誤 ?兩類錯誤都會造成損失 ?上下控制限間距變大： α減小， β增大 ?上下控制限間距變?。? α增大， β減小 ?間距的設定尋求二者的均衡點（ 3 σ） 兩類錯誤 控制圖設計思想 ●先確定 α ，再看 β 按照 3σ方式確定 UCL、 CL、 LCL， α0 =% 通常采用 α =1%， 5%， 10%三級，為了增加使用者的信心，取 α =%。 Α越大， β越小 1% 5% 10% 合理使用控制圖的益處 ? 供正在進行過程控制的操作者使用 ? 有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)的、可預測的保持下去 ? 使過程達到： – 更高的質(zhì)量 – 更低的單件成本 – 更高的有效能力 ? 為討論過程的性能提供共同的語言 ? 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南 使用控制圖的基本步驟 收集 收集數(shù)據(jù)并畫在圖上 控制 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算實驗控制限 識別變差的特殊原因并采取措施 分析及改進 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施 重復這三個階段從而不斷改進過程 使用控制圖的兩個階段 ? 過程分析階段（初始能力研究） ? 過程監(jiān)控階段 分析用控制圖與控制用控制圖 ●分析用控制圖 應用控制圖時，首先將非穩(wěn)態(tài)的過程調(diào)整到穩(wěn)態(tài)，用分析控制圖判斷是否達到穩(wěn)態(tài)。確定過程參數(shù) 特點： 分析過程是否為統(tǒng)計控制狀態(tài) 過程能力指數(shù)是否滿足要求？ ●控制用控制圖 等過程調(diào)整到穩(wěn)態(tài)后，延長控制圖的控制線作為控制用控制圖。應用過程參數(shù)判斷 控制圖類型 計量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計數(shù)型數(shù)據(jù) P chart 不合格品率控制圖 Xδ均值和標準差圖 nP chart不合格品數(shù)控制圖 X R 中位值極差圖 C chart 缺陷數(shù)控制圖 XMR 單值移動極差圖 U chart 單位缺陷數(shù)控制圖 控制圖的選擇方法 確定要制定控制圖的特性 是計量型數(shù)據(jù)嗎？ 否 關心的是不合格品率？ 否 關心的是不合格數(shù)嗎？ 是 樣本容量是否恒定？ 是 使用 np或 p圖 否 使用 p圖 樣本容量是否 桓定？ 否 使用 u圖 是 是 使用 c或 u圖 是 性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣 —例如：化學槽液、批量油漆等？ 否 子組均值是 否能很方便 地計算？ 否 使用中 位數(shù)圖 是 使用單值圖XMR 是 接上頁 子組容量是否大于或等于 9？ 是 否 是否能方便地計算每個子組的 S值？ 使用 X—R圖 是 否 使用 X—R圖 使用 X— s圖 注：本圖假設測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價并且是適用的。 計量型數(shù)據(jù)控制圖 與過程有關的控制圖 計量單位：（ mm, kg等） 過程 人員 方法 材料 環(huán)境 設備 1 2 3 4 5 6 結(jié)果舉例 控制圖舉例 螺絲的外徑（ mm） 從基準面到孔的距離（ mm） 電阻（ Ω） 錫爐溫度（ 186。C ） 工程更改處理時間（ h） X圖 R圖 接上頁 測量方法必須保證始終產(chǎn)生準確和精密的結(jié)果 不精密 精密 準確 不準確 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 使用控制圖的準備 建立適合于實施的環(huán)境 a 排除阻礙人員公正的因素 b 提供相應的資源 c 管理者支持 定義過程 根據(jù)加工過程和上下使用者之間的關系，分析每個階段的影響 因素。 確定待控制的特性 應考慮到： 顧客的需求 當前及潛在的問題區(qū)域 特性間的相互關系 接上頁 確定測量系統(tǒng) a 規(guī)定檢測的人員、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設備或量具。 b 確保檢測設備或量具本身的準確性和精密性 。 使不必要的變差最小 確保過程按預定的方式運行 確保輸入的材料符合要求