統(tǒng)計過程控制原理-文庫吧
2025-01-27 06:32 本頁面
【正文】 均值 (?)對正態(tài)分布的影響l 若平均值 (?)增大為 ?’，則曲線向右移動，分布中心發(fā)生變化。標(biāo)準(zhǔn)差 (?) 對正態(tài)分布的影響l 若標(biāo)準(zhǔn)差 (?)越大，則加工質(zhì)量越分散。l 標(biāo)準(zhǔn)差 (?)與質(zhì)量有著密切的關(guān)系，反映了質(zhì)量的波動情況。l 正態(tài)分布的兩個參數(shù)平均值 (?)與標(biāo)準(zhǔn)差(?)是相互獨(dú)立的。l 不論平均值 (?)如何變化都不會改變曲線的形狀，即不會改變標(biāo)準(zhǔn)差 (?)。l 不論正態(tài)分布的形狀，即標(biāo)準(zhǔn)差 (?)如何變化，都不會影響數(shù)據(jù)的分布中心，即平均值 (?)注意：l二項(xiàng)分布與泊松分布就不具備上述特點(diǎn)，它們的平均值(?)與標(biāo)準(zhǔn)差 (?)是不獨(dú)立的。l 問題 :如何確定數(shù)據(jù)是否服從正態(tài)分布 ?l 卡方檢驗(yàn)法 ,偏度 .峰度檢驗(yàn)法 ,秩和檢驗(yàn)法 ,AndersonDarling,RyanJoiner,KolmogorovSmirnov.正態(tài)測試舉例 (AndersonDarling)l 不論 ?與 ?如何取值 ,落在 [?－ 3?， ?+3?]范圍內(nèi)的概率為 %。控制圖原理的第一種解釋對第 4個點(diǎn)子應(yīng)作怎樣的判斷？l 若過程正常，即分布不變，則點(diǎn)子超過UCL的概率只有 ‰ 。l 若過程異常，譬如異常原因?yàn)檐嚨赌p，即隨著車刀的磨損，加工的螺絲將逐漸變粗， ?逐漸增大，于是分布曲線上移，點(diǎn)子超過 UCL的概率將大為增加，可能為‰ 的幾十、幾百倍。結(jié)論l 點(diǎn)出界就判異，并作為一條判異準(zhǔn)則來使用。l 用數(shù)學(xué)語言來說，這是 小概率事件原理 ：小概率事件實(shí)際上不發(fā)生，若發(fā)生即判斷異常。l 控制圖就是統(tǒng)計假設(shè)檢驗(yàn)的圖上作業(yè)法?？刂茍D原理的第二種解釋l 質(zhì)量因素根據(jù)來源的不同，可分為人(Man)、機(jī) (Machine)、料 (Material)、法(Method)、測 (Measurement)、環(huán)(Environment)6個方面，簡稱為 5M1E。l 從對質(zhì)量影響的大小來分，質(zhì)量因素可分為偶然因素 (簡稱偶因，又稱為偶然原因或一般原因 )與異常因素 (簡稱異因，又稱為可查明原因 )兩類。l 偶因是過程所固有的，故始終存在，對質(zhì)量的影響微小，但難以除去，例如機(jī)床開動時的輕微振動等。l 異因則非過程所固有，故有時存在，有時不存在，對質(zhì)量影響大，但不難除去，例如車刀磨損等。一系列產(chǎn)品受到同方向的影響僅有時存在逐件不同l 偶因引起質(zhì)量的偶然波動 (簡稱偶波 )，異因引起質(zhì)量的異常波動 (簡稱異波 )。l 偶波是不可避免的，但對質(zhì)量的影響微小，故可把它看作背景噪聲而聽之任之。l 異波則不然，它對質(zhì)量的影響大，且采取措施不難消除，故在過程中異波及造成異波的異因是關(guān)注的對象，一旦發(fā)生，就應(yīng)該盡快找出，采取措施加以消除，并納入標(biāo)準(zhǔn)，保證它不再出現(xiàn)。l將質(zhì)量因素區(qū)分為偶因與異因、質(zhì)量波動區(qū)分為偶波與異波，并分別采取不同的處理策略，這是休哈特最突出的貢獻(xiàn)。結(jié)論l 控制圖上的控制界限就是區(qū)分偶波與異波的科學(xué)界限。l 常規(guī)控制圖（即休圖）的實(shí)質(zhì)就是區(qū)分偶然因素與異常因素這兩類因素。GB/T 40912023《常規(guī)控制圖》l 控制圖理論認(rèn)為存在兩種變異。l 第一種變異為隨機(jī)變異，由 “偶然原因 ”（又稱為 “一般原因 ”）造成。這種變異是由種種始終存在的、且不易識別的原因所造成，其中每一種原因的影響只構(gòu)成總變異的一個很小的分量，而且無一構(gòu)成顯著的分量。然而，所有這些不可識別的偶然原因的影響總和是可度量的，并假定為過程所固有。消除或糾正這些偶然原因，需要管理決策來配置資源，以改進(jìn)過程和系統(tǒng)。 l 第二種變異表征過程中實(shí)際的改變。這種改變可歸因于某些可識別的、非過程所固有的、并且至少在理論上可加以消除的原因。這些可識別的原因稱為 “ 可查明原因” 或 “ 特殊原因 ” 。它們可以歸結(jié)為原材料不均勻、工具破損、工藝或操作的問題、制造或檢測設(shè)備的性能不穩(wěn)定等等。控制圖原理的第三種解釋穩(wěn)態(tài)l 穩(wěn)態(tài)，也稱統(tǒng)計控制狀態(tài) (stateinstatisticalcontrol)，即過程中只有偶因沒有異因的狀態(tài)。l 穩(wěn)態(tài)是生產(chǎn)追求的目標(biāo)。對控制圖的第三種解釋l 統(tǒng)計過程控制 SPC理論是運(yùn)用統(tǒng)計方法對過程進(jìn)行控制，既然其目的是 “控制 ”，就要以某個
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