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正文內(nèi)容

x射線光電子譜(xps)x-rayphotoelectr-文庫吧

2025-01-28 03:37 本頁面


【正文】 態(tài)無關(guān),使計算簡化。216。因為忽略了電離后終態(tài)的影響,這種方法只適用于閉殼層體系。 XPS ?? X射線光電子譜基本原理v絕熱近似 216。實測的 XPS譜是同電離體系的終態(tài)密切相關(guān)的, Koopmans定理所假設(shè)的離子軌道凍結(jié)狀態(tài)是不存在的。216。絕熱近似認為,電子從內(nèi)殼層出射,結(jié)果使原來體系的平衡勢場破壞,離子處于激發(fā)態(tài)。這時軌道電子結(jié)構(gòu)將作出調(diào)整,電子軌道半徑會出現(xiàn)收縮或膨漲,這一過程叫 “電子弛豫 ”。 XPS ?? X射線光電子譜基本原理v絕熱近似 216。弛豫的結(jié)果使離子回到基態(tài),釋放出弛豫能Erelax。因弛豫過程與光電子發(fā)射同時進行,所以加速了光電子的發(fā)射,提高了光電子動能。因此有其中: EBad表示按絕熱近似求得的結(jié)合能 。 XPS ?? X射線光電子譜基本原理v絕熱近似 216。HartreeFock自洽場方法忽略了相對論效應(yīng)和電子相關(guān)作用。如考慮這兩項的影響,準確的理論計算公式為 其中: Erelat和 Ecorr分別為相對論效應(yīng)和電子相關(guān)作用對結(jié)合能的校正,一般小于 Erelax。 XPS ?? X射線光電子譜基本原理v絕熱近似 原 子 1s 2s 3p 3s 3p 3d 4sHeLiBeBCNOFNeNaXPS ?? X射線光電子譜基本原理v絕熱近似 原 子 1s 2s 3p 3s 3p 3d 4sMgAlSiPSClArKTiMnCuXPS ?? X射線光電子譜基本原理v絕熱近似 計 算 方 法 EB(eV)1s2sKoopmans定理SCF理論方法直接計算方法SCF理論方法考慮相對論校正考慮相對論校正及相關(guān)作用校正實驗測量值不同方法求得的 Ne1s和 Ne2s軌道結(jié)合能對比 XPS ?? X射線光電子譜基本原理v結(jié)合能參照基準 216。在用 XPS測定內(nèi)層電子結(jié)合能與理論計算結(jié)果進行比較時,必須有一共同的結(jié)合能參照基準。216。對于孤立原子,軌道結(jié)合能的定義為把一個電子從軌道移到核勢場以外所需的能量,即以 “自由電子能級 ”為基準的。在 XPS中稱這一基準為 “真空能級 ”,它同理論計算的參照基準是一致的。 XPS ?? X射線光電子譜基本原理v結(jié)合能參照基準 216。對于氣態(tài) XPS,測定的結(jié)合能與計算的結(jié)合能是一致,因此,可以直接比較對于導(dǎo)電固體樣品,測定的結(jié)合能則是以 Fermi能級為基準的,因此,同計算結(jié)果對比時,應(yīng)用公式進行換算。216。對于非導(dǎo)電樣品,參考能級的確定是比困難的。 XPS ?? X射線光電子譜儀的能量校準 vX射線光電子譜儀的能量校準 216。X射線光電子能譜分析的首要任務(wù)是譜儀的能量校準。一臺工作正常的 X射線光電子譜儀應(yīng)是經(jīng)過能量校準的。216。X射線光電子譜儀的能量校準工作是經(jīng)常性的,一般地說,每工作幾個月或半年,就要重新校準一次。 XPS ?? X射線光電子譜儀的能量校準v能量零點 216。 對于導(dǎo)電的固體樣品,其結(jié)合能的能量零點是其Fermi能級。216。 在實際的工作中,是選擇在 Fermi能級附近有很高狀態(tài)密度的純金屬作為標樣。216。 在高分辨率狀態(tài)下,采集 XPS譜,則在 EBF=0處將出現(xiàn)一個急劇向上彎曲的譜峰拐點,這便是譜儀的坐標零點。XPS ?? X射線光電子譜儀的能量校準v能量零點 216。作為結(jié)合能零點校準的標準試樣, Ni,Pt, Pd是比較合適的材料。 EB=0XPS ?? X射線光電子譜儀的能量校準v能量坐標標定 216。有了儀器的能量零點后,需要選用一些易于純化的金屬,對譜儀的能量坐標進行標定。216。一般是選擇相距比較遠的兩條譜線進行標定,所選譜線的能量位置是經(jīng)過精確測定的。216。在兩點定標方法中應(yīng)注意選擇適合于譜儀線性響應(yīng)的標準譜線能量范圍,同時必須對 Fermi能量零點作出嚴格的校正。 XPS ?? X射線光電子譜儀的能量校準v能量坐標標定 Schon1972Johansson1973Asami1976Richter1978Bird1980Cu3pAu4f7/2Ag3d5/2Cu2p3/2CuLMM,EKEB, EFref分析儀器?1
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