元器件鑒定檢驗(yàn)工作程序和常用可靠性試驗(yàn)方法介紹-文庫(kù)吧
2025-07-03 09:19 本頁(yè)面
【正文】 X譜（三個(gè)連續(xù)批），一般為鑒定檢驗(yàn)所需樣品數(shù)的 2倍，不包含規(guī)定數(shù)量的備份樣品和追加樣品； ? 不符合上述要求的應(yīng)進(jìn)行評(píng)審，并在檢驗(yàn)綱要中予以說(shuō)明； ? 檢驗(yàn)樣品由鑒定檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)派人到研制方現(xiàn)場(chǎng)準(zhǔn)備的母體中隨機(jī)抽取，剩余樣品封存。 抽樣 監(jiān)督檢驗(yàn)重點(diǎn)要素 鑒定檢驗(yàn)實(shí)施單位根據(jù)確認(rèn)的檢驗(yàn)綱要編制 檢驗(yàn)流程卡的內(nèi)容應(yīng)完整，流程清晰正確，具有可操作 性。鑒定檢驗(yàn)必須嚴(yán)格按照檢驗(yàn)綱要和流程卡的要求進(jìn) 行。 檢驗(yàn)流程卡 檢測(cè)設(shè)備計(jì)量證書(shū) 鑒定檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)和檢驗(yàn)實(shí)施單位應(yīng)保證檢驗(yàn)所需的儀器設(shè)備齊全，功能及精度滿足標(biāo)準(zhǔn)要求并計(jì)量鑒定合格，檢驗(yàn)在有效期內(nèi)； 監(jiān)督檢驗(yàn)重點(diǎn)要素 檢驗(yàn)原始記錄一般包括測(cè)試原始記錄及試驗(yàn)原始記錄，采用統(tǒng)一規(guī)范的格式具體要求如下： a)檢驗(yàn)原始記錄要求信息齊全、正確，至少應(yīng)包含：檢驗(yàn)樣品信息、環(huán)境條件、所用儀器設(shè)備、檢驗(yàn)項(xiàng)目、詳細(xì)具體的試驗(yàn)測(cè)試）方法和條件、技術(shù)要求、檢驗(yàn)結(jié)果等。 檢驗(yàn)原始記錄一律用黑色墨水書(shū)寫(xiě)，數(shù)據(jù)清晰， 計(jì)算正確并符合修約要求，數(shù)據(jù)及記錄更改符合規(guī)定并蓋章。 c)檢驗(yàn)原始記錄須相關(guān)試驗(yàn)、測(cè)試、監(jiān)督人員簽名。 d)檢驗(yàn)原始記錄按檢驗(yàn)綱要分組順序匯總裝訂成冊(cè)， 封面蓋章，不編頁(yè)碼。 檢驗(yàn)記錄 二、常用可靠性試驗(yàn)方法介紹 常用參考標(biāo)準(zhǔn) ? 總規(guī)范： ? GJB597A－ 96 半導(dǎo)體集成電路總規(guī)范 ? GJB33A－ 97 半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范 ? SJ2064297 半導(dǎo)體光電模塊總規(guī)范 ? 實(shí)驗(yàn)方法 ? GJB128A97 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 ? GJB548B－ 2022 微電子試驗(yàn)方法和程序 可靠性試驗(yàn)的目的 目的 測(cè)試元器件在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)和規(guī)定的條件下，完 成規(guī)定功能的能力． 篩選 （批次全檢） 質(zhì)量一致性檢驗(yàn)： （全檢 或抽檢） A組：電參數(shù)測(cè)試（每批） B組：機(jī)械、環(huán)境試驗(yàn)（每批） C組：與芯片有關(guān)的檢驗(yàn)（周期） D組：與封裝有關(guān)的檢驗(yàn)（周期） 篩選 (GJB597A96) ? 內(nèi)部目檢 ? 溫度循環(huán)（或熱沖擊） ? 恒定加速度 ? 粒子碰撞噪聲（ PIND) ? 編序列號(hào) ? 中間電參數(shù)測(cè)試 ? 老煉 ? 電參數(shù)測(cè)試 （規(guī)定 PDA) ? 密封（粗檢漏和細(xì)檢漏） ? 最終電測(cè)試 ? 外部目檢 可靠性試驗(yàn)的分類（ GJB548B) 耐濕 鹽霧 溫度循環(huán) 穩(wěn)定性烘培 熱沖擊 穩(wěn)態(tài)壽命 高溫壽命 低溫壽命 老煉 密封
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